Анализатор неселективный

Анализатор ртути РА-9 1 5 — переносной атомно-абсорбционный спектрометр с коррекцией неселективного поглощения по Зееману и многоходовой кюветой, повышающей чувствительность в 20 раз. [c.557]

Многие масс-спектрометры снабжают вспомогательным электродом, расположенным сразу же за источником ионов. Этот электрод отсекает небольшую часть ионов до того, как они разделятся в масс-анализаторе. Первоначально этот электрод должен был способствовать регулировке источника ионов, но оказался очень полезным в сочетании с ГХ, поскольку его ток можно регистрировать с помощью неселективного ГХ-детектор а. [c.478]

На результаты измерения с помощью двухлучевых двухканальных схем значительно влияют неселективные загрязнения, поэтому их использование в промышленных анализаторах встречается редко. Эта схема чаще всего применяется в лабораторных анализаторах [15]. [c.79]

У = (Х, Х , Х , Хвл, Фо, Ф, О где X —измеряемая величина (измеряемый компонент смеси) Хм—мешающая величина (мешающий компонент смеси) Хвс — величина, характеризующая степень неселективных загрязнений Хвл — величина, характеризующая абсолютное влагосодержание в окружающем воздухе Фо — поток излучения источника Ф — поток излучения, прошедший кювету Ш — передаточная функция измерительной схемы анализатора I — температура окружающего воздуха. [c.100]

Портативный анализатор ртути, основанный на явленш резонансного поглощения излучения с длиной волны 254 нм атомами ртути (зеемановская система коррекции неселективного поглощения). [c.934]

Характер процессов, развивающихся при взаимодействии лазерного пучка с поверхностью вещества в твердой фазе [9, 11, 25, 27, 47], определяется плотностью потока излучения д, которую можно изменять в широких пределах (от 10 до Вт см ). При плотности потока лазерного излучения выше порогового значения поглощенная веществом энергия превышает энергию связи атомов и энергию ионизации, в результате чего слой облучаемого вещества превращается в плазму [9, 27]. Сильно ионизированная плазма экрашфует поверхность, поглощает поступающее лазерное излучение, что приводит к ее значительному разогреву. Из-за большого градиента давления вещество выбрасывается с облученной поверхности, и происходит газодинамическое расширение плазменного сгустка. Одним из важных параметров лазерной плазмы является электронная температура Ге, которая пропорциональна плотности лазерного излучения 7 с = [63]. Так, абсолютное значение электронной температуры в лазерной плазме в диапазоне плотности потока излучения 10 -10" Вт см изменяется от 10 эВ до 100 эВ. При этом электронная плотность лазерной плазмы составляет = Ю сма плотность нейтральных атомов = 10 см . Этот метод ионизации — неселективный, и он не зависит от длины волны лазерного излучения [27]. Используются в основном два варианта этого метода а) лазерный микрозондовый анализ и б) облучение пробы несфокусированным лазерным пучком (около 1 мм ). В втором случае плотность энергии излучения составляет 10 -10 Вт см при длительности 5-50 НС., что дает возможность применять для анализа ионов времяпролетный масс-анализатор. [c.851]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология