Масс-спектрометрия с искровым источником микроанализ

Конфигурация электродов изображена на рис. 9.7. Пространственное разрешение, которое может быть достигнуто при локальном анализе с противоэлектродом, зависит от диаметра проволочки и продолжительности действия искры, В цитируемой работе при каждом анализе образовывался кратер со средней глубиной 0,6 мм и диаметром 1 мм. Этот объем соответствует расходу 4 мг образца. Пробоотбор осуш ествлялся на уровне микроанализа, однако пространственное разрешение было значительно хуже, чем в методе электронно-зондового микроанализа. Тем не менее локальный анализ на масс-спектрометре с искровым источником ионов перспективен, поскольку за один эксперимент позволяет [c.324]

Одним из наиболее интересных способов анализа поверхно- сти твердых тел и тонких пленок (а также других образцов) является метод, в котором для распыления и ионизации вещества используется пучок так называемых первичных ионов. Вторичные ионы, выбитые с поверхности образца, анализируются при помощи масс-спектрометра. Этот метод позволяет получить примерно такое же пространственное разрешение, как и в элек-тронно-зондовом микроанализе, и в то же время обладает высокой чувствительностью, характерной для масс-спектрометрии с искровым источником ионов. Приборы с ионной бомбардировкой различных фирм отличаются конструктивным оформлением и аналитическими возможностями. Они будут рассмотрены здесь примерно в том же порядке, как и происходило их развитие. [c.410]

Справочник химика 21