Электронная микроскопия контроль увеличения

Тонкие срезы практически являются двумерными срезами ткани и не позволяют судить о трехмерной структуре клеточных компонентов. Трехмерное изображение можно получить после реконструкции сотен серийных срезов (рис. 4-18), но это долгий и утомительный процесс. В настоящее время разработаны более прямые методы получения трехмерного изображения. Один из них состоит в изучении образца под сканирующим электронным микроскопом (СЭМ), который обычно меньше и проще, чем просвечивающий электронный микроскоп. Для получения изображения в просвечивающем электронном микроскопе используют электроны, проходящие через образец, а в сканирующем электронном микроскопе используются электроны, рассеиваемые или излучаемые поверхностью образца. В данном случае образец должен быть зафиксирован, высушен и покрыт тонкой пленкой тяжелого металла. Затем образец сканируется очень узким пучком электронов. При этом оценивают количество электронов, рассеиваемых при облучении последовательных точек металлической поверхности. Полученное значение используют для контроля интенсивности второго луча, движущегося синхронно первому и формирующему изображение на телевизионном экране. Таким образом происходит формирование единого, цельного и значительно увеличенного изображения. [c.185]

Инфракрасные микроскопы представляют собой приборы, которые используют принципы построения аппаратуры оптического контроля и дают большое увеличение изображения, поэтому отметим лишь их отличительные черты. Основными особенностями инфракрасных микроскопов по сравнению с микроскопами оптического диапазона являются более тщательный подбор материала оптики, работающей как в видимом, так и в инфракрасном диапа-"зоне, применение источника освещения, излучающего в видимом и инфракрасном диапазоне, использование светофильтров для инфракрасного диапазона, наличие электронно-оптического преобразователя и блока питания для него. Кроме инфракрасных микроскопов выпускаются специальные насадки (НИК-1, НИК-3 и др.) для расширения области применения серийных микроскопов видимого диапазона (типа МБР-1, МБИ-11 и др.). [c.201]

Для визуального контроля вводится поворотное зеркало 15. направляющее свет в наблюдательный микроскоп 16, позволяющий наблюдать спектр с увеличением 20 . В качестве приемников световой энергии используют сурьмяно-цезиевые фотоэлементы СЦВ-9. Прибор также может работать с фотоумножителями. Ток фотоэлементов (или фотоумножителей) заряжает накопительные конденсаторы, на которых накапливается напряжение, пропорциональное усредненным интенсивностям световых потоков, падающих на фотоэлементы. Напряжение конденсаторов попеременно попадает на так называемый динамический конденсатор. Последний имеет две пластины, одна из которых колеблется с частотой звука и тем самым производит периодическое изменение емкости конденсатора. Напряжение накопительных конденсаторов подается на динамический конденсатор, превращается им в переменное напряжение, усиливается усилителем переменного тока, выпрямляется и подается для измерения на потенциометр ЭПВ-01—электронный, автоматически показывающий прибор. [c.231]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология