Микроскоп инфракрасный

Свойства целлюлозы определяются не только строением ее отдельных цепных молекул, но и взаимным их расположением, т. е. надмолекулярной и морфологической структурой волокна. Изучение строения целлюлозного волокна в основном при помощи физических методов исследования (метода двойного лучепреломления, микроскопии и электронной микроскопии, инфракрасной спектроскопии, рентгенографии и электронографии) привело к созданию теории ориентированного (аморфно-кри-сталлического) строения целлюлозы. В клеточных стенках древесины целлюлоза находится в виде тончайших волоконцев — целлюлозных микрофибрилл. Длинные цепные молекулы целлюлозы проходят вдоль микрофибрилл на ряде участков ориентированно (т. е. параллельно друг другу и на близких расстояниях), а на ряде других участков их ориентация менее совершенна. Участки целлюлозы, в которых существует совершенный порядок в трех пространственных направлениях (т. е. совершенная ориентация), называют ориентированными участками, кристаллитами, или мицеллами (в современном понимании). Длина этих участков около 500—600 А, ширина 50— 100 А. Участки, в которых совершенный порядок отсутствует и сохраняется лишь общая продольная направленность цепей, называются неориентированными, или аморфными (рис. 35). Ориентация цепей в кристаллитах поддерживается за счет сил межмолекулярного взаимодействия — сил Ван-дер-Ваальса и, [c.67]

В данной главе рассматриваются наиболее важные и широка применяемые методы исследования структуры силикатов дифференциальный термический анализ, рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ, электронная микроскопия, инфракрасная спектроскопия, спектры комбинационного рассеяния и электронный парамагнитный резонанс. [c.150]

Учение об оптических свойствах коллоидных и микрогетерогенных систем является одним из основных разделов коллоидной химии. Оптические свойства золя определяются свойствами коллоидных частиц, поэтому, изучая оптические свойства системы, можно установить размер, форму и строение частиц,, не видимых в обычный микроскоп. С помощью ультрамикроскопических наблюдений коллоидных систем удалось проверить основные молекулярно-кинетические представления, долгое время носившие гипотетический характер изучение оптических свойств способствовало количественному толкованию таких процессов, как диффузия, броуновское движение, седиментация, коагуляция. Наконец, ввиду того,, что космическая пыль, туманы, облака и тончайшие взвеси твердых частиц в морской и речной водах являются коллоидными и микрогетерогенными системами, сведения об оптических свойствах этих систем имеют и весьма важное практическое приложение в астрофизике, метеорологии, оптике моря. Вождение самолетов и кораблей в тумане, фотографирование с помощью инфракрасных лучей также имеют непосредственное отношение к оптике коллоидных систем. Эта область науки сделала значительные успехи в последние годы в связи с развитием авиации, астронавтики и т. д. [c.33]

Инфракрасные микроскопы представляют собой приборы, которые используют принципы построения аппаратуры оптического контроля и дают большое увеличение изображения, поэтому отметим лишь их отличительные черты. Основными особенностями инфракрасных микроскопов по сравнению с микроскопами оптического диапазона являются более тщательный подбор материала оптики, работающей как в видимом, так и в инфракрасном диапа-"зоне, применение источника освещения, излучающего в видимом и инфракрасном диапазоне, использование светофильтров для инфракрасного диапазона, наличие электронно-оптического преобразователя и блока питания для него. Кроме инфракрасных микроскопов выпускаются специальные насадки (НИК-1, НИК-3 и др.) для расширения области применения серийных микроскопов видимого диапазона (типа МБР-1, МБИ-11 и др.). [c.201]

Метод инфракрасной поляризационной микроскопии применяют-для исследования распределения остаточных внутренних напряжений в кристаллах, связанных с дислокациями для контроля напряжений в спаях кремния с металлами для анализа типа дислокаций в кристаллах (в поляризованном инфракрасном свете вокруг дислокаций выявляются, розетки напряжений). [c.124]

В ряде случаев для оценки биологической инертности материалов необходимо осуществлять максимально полную идентификацию выделяющихся из эластомера веществ. Для оценки индивидуальных показателей изучают миграцию в модельные среды наиболее реакционноспособных и биологически активных веществ с помощью методов хроматографии (тонкослойной и газовой), фотометрии, масс-спектрометрии, проводят качественный анализ содержания химических элементов и ионов. Исследование процессов, связанных с миграцией ряда ингредиентов на поверхность резин, оказалось возможным лишь при сочетании нескольких методов - световой микроскопии, инфракрасной спектроскопии с нарушенным полным внутренним отражением (НПВО) и наиболее эффективной вследствие высокой чувствительности и избирательности тонкослойной хроматографии. [c.557]

В настоящее время все большему кругу исследователей становится совершенно очевидным, что разработка проблемы потенциала ОВ на высоком научном уровне невозможна без использования современных методов органической химии, геохимии и петрографии электронной микроскопии, инфракрасной спектроскопии, дифференциального петрографического анализа, газожидкостной хроматографии, масс-спектрометрии, ЯМР, ЭПР. Молекулярный уровень исследования ОВ не является пределом их изучения видимо, для более углубленного познания вешества необходим атомарный уровень и, возможно, более тонкие, совершенные методы его исследования. [c.98]

Размеры жидкокристаллических структур (несколько сотен ангстрем) требуют использования электронной микроскопии, а их природа (обычно периодическая) указывает на возможность применения малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Так же плодотворно используются некоторые другие методы дифференциальная сканирующая калориметрия, дилатометрия, поляризационная микроскопия, инфракрасная спектроскопия и круговой дихроизм. [c.208]

Актуальной задачей остается определение качества микроэлементов, в том числе изделий микроэлектроники и вычислительной техники. Для ее решения необходимо искать новые физические методы контроля и совершенствовать те приборы, пока очень малочисленные, которые применяются сейчас, — рентгеновские аппараты с высокочувствительной рентгеновской пленкой, рентгенотелевизионные микроскопы с 800-кратным увеличением и микрофокусными трубками 0,ЗХ1,4 мм, точечные инфракрасные пирометры, тепловизионные микроскопы с разрешением до 0,01° по температуре и некоторые другие. [c.60]

При этом большое внимание должно быть уделено исследованиям форм нахождения рудных элементов. К изучению состава и размеров субмикроскопических выделений минералов рудных элементов и форм молекулярного рассеяния их в породообразующих минералах должны быть привлечены различные новые методы исследования. В этом отношении наиболее перспективны электронная микроскопия, инфракрасная спектроскопия, методы наведенной радиоактивности и т. д. Изучение форм нахождения должно быть теснейшим образом связано с исследованиями миграции рудных элементов при постмагматических процессах изменения пород и потенциальной рудоносности интрузий. [c.110]

Экспериментальные методы, применяемые для определения и характеристики структуры полимерных цепей и их совокупностей, упоминались в общем обзоре гл. 1. Дополнительную информацию по дифракции рентгеновских лучей [3], рассеянию нейтронов [4—6], электронов и света [4, 52, 53], оптической и электронной микроскопии [3, 14Ь], термическим [3, 54] и вязкоупругим свойствам [14с, 55—57] и методу ядерного магнитного резонанса (ЯМР) [3] можно получить из источников, указанных в списке литературы к данной главе. В гл. 5 и 6 соответственно будут рассмотрены методы инфракрасного поглощения (ИКС) и ЭПР. [c.35]

Для контроля за дисперсностью различных высокомолекулярных соединений пользуются методами светорассеяния, диффузии, ультрацентрифугирования, осмометрии, вискозиметрии, электронной микроскопии, хроматографического фракционирования [13]. Однако ни один из этих методов не является надежным, а некоторые просто неприменимы для контроля за состоянием асфальтенов в нефти без добавления к ней соответствующих растворителей. Причиной этого являются темная окраска и высокая вязкость нефти, а также высокая дисперсность асфальтеновых частиц. Кроме того, перечисленные методы не позволяют исследовать пробы пластовой нефти, содержащей растворенный газ и находящейся под высоким давлением. Этих недостатков нет у метода инфракрасной фотоколориметрии [1, 23]. Поэтому он может успешно использоваться для контроля за состоянием асфальтенов в нефти. [c.17]

Наиболее детально развитие разрушения изучено прямыми структурными методами в твердых полимерах и главным образом в волокнах (инфракрасная спектроскопия, электронный парамагнитный резонанс, масс-спектрометрия, ядерный магнитный резонанс, рентгеновская дифракция на малые и большие углы, дифракция видимого света, электронная микроскопия, оптическая и электронно-микроскопическая фрактография и др.) [61 11.27]. [c.324]

Инфракрасный микроскоп. С помощью инфракрасной микроскопии изучают объекты, которые практически непроницаемы для лучей видимой части спектра, но прозрачны для инфракрасных лучей. Прозрачными для инфракрасного света являются Преимущественно проводниковые и полупроводниковые соединения (81, 2п, Те, опаловые стекла, хромовая руда и т. д.). [c.124]

На практике используют как инфракрасные микроскопы (МИК-4), так и инфракрасные насадки к обычным микроскопам (насадки НИК-1 упрощенная и НИК-3 универсальная). Объекты освещают инфракрасным светом длиной волны до 1,2 мкм с помощью ксеноновой газоразрядной лампы или лампы накаливания. При указанных длинах волн можно применять обычную стеклянную оптику и фотоматериалы. В микроскопе МИН-4 визуально наблюдают и фотографируют объекты в проходящих поляризованных инфракрасных лучах. Инфракрасное изображение может быть преобразовано в видимое с помощью специального преобразователя. Увеличение микроскопа изменяется от 44 до 5260 . [c.124]

Наиболее полные идентификационные характеристики при исследовании кристаллогидратов получают при применении дифференциально-термического анализа, а в случае достаточно крупных кристаллов — также рентгеновского анализа. Формы связи воды в кристаллах гидратов идентифицируются методом инфракрасной спектроскопии, а форма и размеры кристаллов — методами электронной и оптической микроскопии. [c.273]

Попытки использовать электронный микроскоп для исследований структуры битумов пока не дали положительных результатов. Однако при помощи новых оригинальных приемов этого метода можно получать полезные данные. Сочетание микроскопии, ультрафиолетовой и инфракрасной спектроскопии может быть полезным при исследовании фракций битумов. [c.23]

Появление кристаллов парафина наблюдали с помощью микроскопа в специальной камере со смотровыми стеклами, позволяющей проводить определения при давлении до 50 МПа и температуре до 100° С. Этот метод позволил также определить линейные размеры выпадающих кристаллов, которые составили от 5 до ЗО мкм и оказались соизмеримыми с размерами пор продуктивных коллекторов. Фотометрические измерения проводили как в видимой, так и в инфракрасной областях спектра. При термографических измерениях использовали сосуды высокого давления, рассчитанные для работы до 30 МПа и температуре до 150°С термограммы регистрировали на приборе ФРУ-64. Температуру насыщения определяли ультразвуковым методом, измеряя поглощение ультразвуковых волн (частота колебаний 1 и 3 МГц). Ультразвуковая камера позволяла вести измерения при давлении до 60 МПа и температуре до 150° С. [c.29]

Инфракрасные микроскопы имеют большое применение при неразрушающем контроле микроминиатюрных изделий, при работе в прошедшем или в отраженном излучении. Их использование особенно эффективно при контроле изделий микроэлектронной техники, поскольку основные материалы, из которых эти изделия изготавливаются (германий и кремний), полупрозрачны в инфракрасной части спектра. Недостатком инфракрасных микроскопов, построенных на базе электронно-оптических преобразователей, является сложность в использовании их для автоматизированного контроля без участия оператора. [c.201]

Наиболее широкое распространение получили методы молекулярной спектроскопии (инфракрасная спектроскопия и метод спектров комбинационного рассеяния), электронного парамагнитного резонанса и ядерного магнитного резонанса, которые играют ув настоящее время главную роль при изучении строения полимеров большое значение имеют также электронография, рентгенография и электронная микроскопия, [c.15]

Минимально обнаруживаемый дефект достигает порядка 0,1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в 4 раза по сравнению со стеклянным зеркалом. Возможно контролирование поверхности материала, двигающегося со скоростью свыше 15 м/с. Сканирующие лазерные системы бегущего луча могут также использоваться для получения изображения объектов контроля. Схема лазерного сканирующего инфракрасного микроскопа для контроля внутренних дефектов полупроводниковых материалов с механическим сканированием объекта контроля и неподвижным лучом лазера отличается низким быстродействием, но имеет высокую разрешающую способность. Схема с системой сканирующих зеркал отличается большим быстродействием (до 50 кад/с при 200., . 400 строках разложения телевизионного изображения), однако наличие полевых аберраций оптической системы приводит в этом случае к снижению пространственного разрешения. [c.509]

Локальные физические свойства эмульсий исследуют, изучая их диэлектрическую релаксацию, спектры ядерного магнитного резонанса [6] и инфракрасные спектры. Эти методы дают сведения о составе межфазной области в зависимости от состава обеих фаз. Размеры и распределение по размерам очень маленьких капелек или мицелл определяют по рассеянию света и дифракции рентгеновских лучей под малыми углами [8]. Довольно точным методом исследования формы капелек эмульсий и распределения их по размерам является сканирующая электронная микроскопия [8а]. [c.392]

Были изучены сополимеры бутадиена и у-бензилнЬ-глутамата (Б-Г), стирола и у-бензил-Ь-глутамата (С-Г), бутадиена и карбо-бензокси-Ь-лизина (Б-КК), стирола и карбобензокси-Ь-лизина (С-КК), бутадиена и Ы -оксипроиилглутамина (Б-ОГ). Эти сополимеры исследовали в сухом состоянии и в различных растворителях методами дифракции рентгеновских лучей и электронной микроскопии, инфракрасной спектроскопии и кругового дихроизма. В сополимере Б-ОГ цепи поли-М -оксипронилглутамина растворимы в полярных и неполярных растворителях, но даже в растворе в акриловой кислоте их конформация такая же, как и у гидрофобных полипептидов. Свойства сополимера Б-ОГ описаны в следующих разделах. [c.244]

Для определения точки плавления кристаллических полимеров гспользовались многие приемы, включая оптическую микроскопию, инфракрасную спектроскопию и дилатометрию. Для того чтобы получить воспроизводимые знa ieния температуры плавления, образец должен нагреваться очень медленно. Если это условие соблюдается, то результаты показывают, что точка плавления не зависит от термической предыстории испытуемого образца и условий кристаллизации. [c.157]

Сканирующая электронная микроскопия Электронный микрозонд Инфракрасная спектроскопия Элементный анализ Кислотность поверхности Иотерн при сгорании Термогравнметрический анализ Плотность [c.12]

На рис. 9.19—9.21 воспроизводятся электронные микрофотографии реплик поверхностей разрушения ПА-6, полученного кристаллизацией под давлением [202]. На микрофотографиях видны стопы ламелл толщиной до 700 нм. На основании обширных исследований методами инфракрасной спектроскопии, широкоуглового рассеяния рентгеновских лучей и методами электронной микроскопии авторы данной работы пришли к выводу, что ламеллы состоят из вытянутых цепей. Согласно их предположению (рис. 9.22), трещина преимущественно может распространяться либо вдоль плоскостей (010) (в которых располагаются концы цепей, а также примеси, отторгнутые фронтом роста), либо вдоль плоскостей (002) —в слоях водородных связей ламелл. В обоих процессах не происходит разрыва связей основной цепи или водородных связей. [c.393]

Препараты для исследования готовят специально. Так, например, полированную пластинку кремния травят в НР для снятия оксидного слоя, а затем осаждают на ней тонкий слой меди из Ъ%-ного раствора Си304 отжигают образец при 950°С в водороде (300—900°С). В процессе отжига медь концентрируется на дислокациях. При изучении пластинки кремния под инфракрасным микроскопом видны дислокации, декорированные медью. [c.124]

Инфракрасное спектроскопическое исследование поливинилхлоридной основы покрытия проводили на двухлучевом спектрофотометре марки иК-20 в области 400-4000 см" (призмы КВг, НаС1, ЫР). Препараты готовили в виде тонких пленок из раствора поливинилхлорида в дихлорэтане. После опыта с помощью раствора уксуснокислого свинца в клеевом слое и праймере определяли сероводород, а также содержание серы в поверхностном слое металла опытного и контрольного вариантов путем перевода ее в сульфат бария. Продукты коррозии на поверхности металла исследовали под микроскопом МИМ-8-М при увеличении в 400 раз и фотографировали. [c.28]

От описанной нами системы инфракрасной интроскопии позднейшие системы отличаются так же, как микроскоп Левенгука от современного одноименного прибора. Объектом исследований с помошью первых интроскопов мог быть, скажем, участок железнодорожного рельса в статике. Сейчас в стране качество рельсов ежедневно проверяют более 8 тыс. дефектоскопов. Это помогает устранить множество опасных и аварийных ситуаций на железнодорожном транспорте. [c.11]

Для того чтобы осуществился кванторазмерный эффект, средний размер зерен в наноструктурных полупроводниках должен быть меньше некоторого критического размера, расчетная величина которого для 81 и Се равна 5 нм [397] и 24 нм [398] соответственно. Более того, чтобы произошел значительный сдвиг спектра фотолюминесценции из инфракрасной области в видимую область спектра, средний размер зерен должен быть еще меньше — менее 3 нм в 81 и менее 3,5 нм в Се, т. е. существенно меньше, чем наблюдали методом электронной микроскопии. Объяснить это различие возможно, если принять, что основной вклад в спектр фотолюминесценции в наноструктурных полупроводниках вносит только центральная часть зерен, имеющая малоискаженную кристаллическую решетку. В согласии с развиваемой структурной моделью наноструктурных материалов (2.2) неискаженные области в ИПД материалах существенно меньше среднего размера зерен, включающего в себя приграничные сильноискаженнью области. [c.234]

Универсальность растрового электронного микроскопа при исследовании твердых тел в большей мере вытекает из обширного множества взаимодействий, которые претерпевают электроны иучка внутри образца. Взаимодействия можно в основном разделить на два класса 1) упругие процессы, которые воздействуют на траектории электронов пучка внутри образца без существенного изменения их энергии 2) неупругие процессы, при которых происходит передача энергии твердому телу, приводящая к рождению вторичных электронов, оже-электро-нов, характеристического и непрерывного рентгеновского излучений, длинноволнового электромагнитного излучения в видимой, ультрафиолетовой и инфракрасной областях спектра, электронно-дырочных пар, колебаний решетки (фононы) и электронных колебаний (плазмоны). В принципе все эти взаимодействия могут быть использованы для получения информации о природе объекта — формы, состава, кристаллической структуры, электронной структуры, внутренних электрическом или магнитном полях и т. д.. [c.21]

При изучении физической структуры полимеров (формы макромолекул и конформационных превращений, водородных связей, надмолекулярной структуры), а также и химического строения применяются разнообразные физические методы исследования микроскопия (световая, ультрафиолетовая, электронная) рентгеносчруктурный анализ электронография спектроскопия (ультрафиолетовая, инфракрасная, ядерного магнитного резонанса и др.) оптические методы (метод двойного лучепреломления) и др. [c.143]

Аппаратура с использованием электронно-оптических преобразователен [1] (инфраскоп и инфракрасные микроскопы) проще тепловизионных систем, имеет высокое быстродействие, так как получается все изображение сразу, но имеет меньшую длинноволновую границу Як воспринимаемого спектра излучения и не дает возможности получить электрический сигнал, несущий информацию о распределении интенсивности теплового излучения. Поэтому область их применения ограничивается проведением оперативного контроля или исследованием сложных изделий с мелкими деталями. [c.200]

Наибольшее распространение в неразрушающем контроле, особенно изделий радиоэлектроники, получили инфракрасные микроскопы с электронно-оптическими преобразователями, к которым относятся инфраскоп и микроскопы серии МИК. [c.200]

Полуфабрикаты и изделия из материалов, прозрачных или полупрозрачных в инфракрасном диапазоне (гетинакс, текстолит, стеклопластик, германий, кремний, нефтепродукты и т. д.), могут подвергаться контролю в прошедшем или отраженном излучении методами, характерными для оптического диапазона с визуализацией распределения плотности потока теплового излучения (электронно-оптические преобразователи, термовизоры, инфракрасные микроскопы и др.). Такой оперативный контроль обеспечивает хорошую достоверность, поскольку дает оператору информацию в наиболее привычном для него видимом изображении, когда информация воспринимается и анализируется наилучшим образом. Технология проведения контроля в этом случае в значительной степени совпадает с применением оптических методов, излагаемых ниже. [c.210]

Успешно решаются задачи интроскопии, когда изучение строения в видимом диапазоне затрудняет или делает невозможным слои некоторых газов (дым, туман, пыль), жидкости (нефть, отдельные непрозрачные в видимом свете растворы) или твердые вещества, хорошо пропускающие инфракрасное излучение (синтетические смолы, полимерные материалы, германий, кремний, различные смеси). Частным случаем такого контроля является анализ качества непокрытых изделий, которые в видимом свете дают малоконтрастное или неинформативное изображение. Для контроля строения различных изделий используют термочувствительные вещества, термовизор, микротермовизор, радиовизор и инфракрасные микроскопы. Тепловые методы интроскопии можно использовать для определения формы и расположения неоднородностей обработки различных протяженных объектов (листы, полотна, трубы и др.). Так, легко различаются области неполной полимеризации синтетических пленок, горячие пятна бумаги, зоны изменения состава композиционных материалов. Наличие такой информации не только дает сведения о качестве, сортности про- [c.220]

Важной областью применения интроскопии является контроль сложных изделий и объектов радиоэлектроники и микроэлектроники [1, 16]. Известно применение тепловых методов для контроля многослойных печатных плат, где определяется утонение, под-травливание и отслаивание печатных проводников как на наружных, так и на внутренних слоях. В микроэлектронных изделиях с помощью микротермовизоров и инфракрасных микроскопов удается изучать особенности различных областей в слоистом полупроводнике и даже изменение от значения электрического напряжения ширины зоны запирающего слоя р-п-перехода. [c.221]

Кинетическое (термофлуктуационное) разрушение связано с накоплением структурной поврежденности (микротрещип), образующейся при разрыве связи. Рассмотрим специфику этого процесса, который поддается количественному анализу с помощьюпрямых физических методов [89, 90, 160], включая инфракрасную спектроскопию (ИКС), электронный парамагнитный резонанс (ЭПР), масс-спектрометрию (МС), ядерный магнитный резонанс (ЯМР), рентгеновскую дифракцию в малых (РДМ) и больших (РДБ) углах, электронную микроскопию (ЭМ), дифракцию видимого света (ДС) и т. п. [c.135]

К достоинствам подобнь[х систем относятся повышенное по сравнению с обычными микроскопами разрешение, возможность регулирования яркости, контраста и масштаба изображения электронным способом, большой динамический диапазон (до 60 дБ и более). Для контроля материалов, прозрачных только в инфракрасном [c.509]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология