Полевые зондовые методы

В этой главе мы попытаемся кратко изложить основы, инструментальные аспекты и области применения основных методов анализа поверхности и межфазных границ. Методы будут разделены в соответствии с используемым типом воздействующих частиц или полей фотонно-зондовые, электронно-зондовые, ионно-зондовые и полевые зондовые методы. [c.314]

Полевые зондовые методы 365 [c.365]

ПОЛЕВЫЕ ЗОНДОВЫЕ МЕТОДЫ [c.365]

Высокие локальные электрические поля на поверхности материала могут привести к процессам ионизации либо газов, контактирующих с поверхностью, либо атомов самого материала. Эти процессы составляют основу полевой ионной микроскопии (ПИМ) и ПИМ с атомным зондом. Другое влияние высоких локальных полей заключается в эффекте индуцирования электрических токов, который лежит в основе сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). В принципе, различные методы сканирующей силовой микроскопии, наиболее важным из которых является атомная силовая микроскопия (АСМ), также принадлежат к этой группе, поскольку измеряемые силы тоже возникают в результате действия локализованных электрических полей. В табл. 10.4-1 приведен обзор полевых зондовых методов. Однако благодаря уникальным свойствам СТМ и АСМ эти методы рассмотрены отдельно в разд. 10.5 ( Методы сканирующей зондовой микроскопии ). [c.365]

Таблица 10.4-1. Полевые зондовые методы

Полевые зондовые методы 367 [c.367]

Ознакомиться с важнейшими методами анализа поверхности и локального анализа — методами, основанными на использовании неподвижных и сканирующих сфокусированных пучков электромагнитного излучения, электронов, ионов соответственно—фотонно-зондовыми, электронно-зондовыми и ионно-зондовыми методами, полевыми зондовыми и сканирующими (растровыми) зондовыми методами. [c.311]