Рентгеновская дифракция поляризационный фактор

Интенсивность рассеяния рентгеновских лучей ЦК), монохроматизированных отражением от кристалла, должна быть очищена от комптоновского рассеяния, а также исправлена на абсорбционный и поляризационный факторы. Таким образом, удается получить изменения структурного фактора с вектором дифракции К (рис. 12.2). Полученные так интенсивности рассеяния анализируют с помощью выражения (8.15), вычисляя величину [c.314]

Дифракция рентгеновских лучей в кристалле обусловлена, в конечном итоге, рассеянием их электронами атомов. Поэтому поляризационный фактор входит в качестве одного из множителей в общую формулу интенсивности дифрагированных кристаллом лучей. [c.14]

В данном уравнении К представляет собой масштабный коэффициент, необходимый для того, чтобы привести экспериментальные данные (полученные в произвольном масштабе, зависящем от размера кристалла и интенсивности пучка рентгеновского излучения) к абсолютному масштабу рассеяния (величины /), используемому при определении расчетных структурных амплитуд (Fhfei) (или F ) из известных координат атомов Xj, yj, zj с использованием уравнения 11.2-7. Фактор А представляет собой коэффициент коррекции на поглощение рентгеновского излучения в соответствии с законом Бугера—Ламберта—Бера, который также должен учитьшать размер и характер (распределение сходных по симметрии граней) кристалла. Фактор Лоренца L компенсирует разницу в эффективных временах измерения для брэгговских отражений и зависит от брэгговского угла в и схемы экспериментальной установки. Р — поляризационный фактор, который позволяет учесть тот факт, что эффективность дифракции рентгеновских лучей зависит от поляризации падающего луча. [c.400]

По одному варианту кристалличность рассчитываетя по дифракционной картине одного образца путем сравнения интенсивности кристаллических рефлексов с полной интенсивностью рассеяния Правильность результатов (в смысле данного определения) зависи от того, насколько тщательно учтены все факторы, влияющие на из меряемые интенсивности —факторы Лоренца, поляризационный тепловой, некогерентное рассеяние, а также внешний фон (немоно хроматичность излучения, рассеяние воздухом и т. д.). Наиболе( точные результаты для такого метода получены Руланд при очен] тщательной технике рентгеновского эксперимента и большого ин тервала углов дифракции . Проведение эксперимента в различны областях дифракции позволило определить еще одну характеристик упорядоченности —дефектность кристаллитов . [c.212]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология