КАЧЕСТВЕННЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ

В гл. 4 и 5 рассматривается процесс детектирования и обработки сигналов вторичных электронов, отраженных электронов, катодолюминесценции и рентгеновского излучения, полученных в РЭМ—РМА. Вслед за этим материалом в гл. 6—8 обсуждаются различные методы количественного и качественного рентгеновского анализа. Методы препарирования таких твердых материалов, как минералы, металлы и керамики, для РЭМ и рентгеновского микроанализа даются в гл. 9. Методы препарирования образцов весьма критичны для большинства биологических объектов и других материалов, содержащих воду. Методики нанесения покрытий для биологических объектов и образцов в материаловедении рассматриваются в гл. 10. Методы препарирования биологических объектов для РЭМ обсуждаются в гл. 11, а для рентгеновского микроанализа — в гл. 12. [c.11]

КАЧЕСТВЕННЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ [c.269]

Качественный рентгеновский анализ [c.273]

В практике работы НИУИФ часто возникает необходимость проведения рентгенографических исследований. Наибольшее число этих исследований сводится к определению фазового состава образцов. Для облегчения этой работы в лаборатории института составляется картотека Качественный рентгеновский анализ объектов НИУИФ (начата Н. В. Русаковой). В картотеку вносятся рентгеновские паспорта (данные по межплоскостным расстояниям и интенсивности соответствующих линий) соединений, с которыми приходится встречаться в практической работе лаборатории, или соединений, известных из литературы. [c.154]

Качественный рентгеновский анализ. Анализ заключается в идентификации веществ по их рентгенограммам или рентгеновским дифракционным кривым. Набор экспериментально полученных рентгеновских рефлексов (колец, пятен на рентгенограмме или максимумов на дифракционных кривых) описывается тремя характеристиками углом рассеяния 20, межплоскостными расстояниями duhi, относительными интенсивностями. Угол рассеяния 29 определяют непосредственно нз эксперимента, относительные интенсивности находят по соотношению площадей под соответствующими пиками дифракционной кривой или микрофотометрической кривой рентгенограммы (после отделения этих пиков от фона), а межплоскостные расстояния находят по уравнению Вульфа — Брегга [c.5]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология