Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Дифрактометры с геометрией Вайсенберга

Рис. 45. Схема работы дифрактометра с геометрией Вайсенберга при измерении отражений для нулевой слоевой линии и слоевых линий высших порядков. Рис. 45. <a href="/info/94990">Схема работы</a> дифрактометра с геометрией Вайсенберга при <a href="/info/122717">измерении отражений</a> для <a href="/info/1646461">нулевой слоевой линии</a> и <a href="/info/189520">слоевых линий</a> высших порядков.

    ДИФРАКТОМЕТРЫ С ГЕОМЕТРИЕЙ ВАЙСЕНБЕРГА (36] [c.107]

Рис. 46. Разложение угловых поправок на компоненты по дугам гониометрической головки дифрактометра с геометрией Вайсенберга (вид сверху). Рис. 46. Разложение угловых поправок на компоненты по дугам <a href="/info/604539">гониометрической головки</a> дифрактометра с геометрией Вайсенберга (вид сверху).
    Сравнивая дифрактометр с геометрией Вайсенберга и четырехкружный дифрактометр, можно обнаружить следующие сходства и различия  [c.118]

    При использовании метода развертки (о/20 все отражения измеряются счетчиком, поворачивающимся в горизонтальной плоскости. Этот поворотный круг и есть круг 20. Если ось вращения кристалла расположена под прямым углом к этому кругу, то в плоскости круга будут находиться отражения нулевой плоскости для данной оси вращения кристалла (если, конечно, кристалл установлен по кристаллографической оси, что не является обязательным), и при повороте счетчика на разные углы 20 можно провести измерение всех отражений, соответствующих этой нулевой плоскости обратной решетки. Точно таким же способом аналогичные данные собирают на дифрактометре с геометрией Вайсенберга путем вращения счетчика на угол у. На рис. 48, б круг 20 изображен под прямым углом к оси вращения кристалла. [c.119]

    После юстировки кристалла по величине 20 для выбранных отражений вычисляют параметры решетки. Пользуясь методом развертки со/20, при котором угловые скорости поворотных кругов относятся как 1 2, отмечают со-положение максимума отражения hkl и затем поворачивают круг со так, чтобы зафиксировать отражение от плоскостей hkl. Величина 20 определяется разностью двух отсчетов со. Применяя метод наименьших квадратов к приведенной выше формуле (в разделе, описывающем дифрактометр с геометрией Вайсенберга), можно определить параметры ячейки, на основании которых получаются угловые величины х. и 20 для всех отражений. [c.124]

Рис. 47. Связь между углами ф и у на дифрактометре с геометрией Вайсенберга и на вайсенберговской развертке нулевой слоевой линии. Рис. 47. <a href="/info/26849">Связь между</a> углами ф и у на дифрактометре с геометрией Вайсенберга и на вайсенберговской развертке <a href="/info/512140">нулевой слоевой</a> линии.

Смотреть страницы где упоминается термин Дифрактометры с геометрией Вайсенберга: [c.118]    [c.118]   
Смотреть главы в:

Рентгеновская кристаллография -> Дифрактометры с геометрией Вайсенберга




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте