Отражение в двух измерениях

Внутри шара находятся два экрана, предназначенные для предотвращения попадания света от образца непосредственно на фотоэлемент при измерении абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения — нижний экран — и пропускания—верхний экран (по методу Тейлора). Для включения экранов необходимо оттянуть рукоятку 6. [c.215]

Эхо-импульсный метод. Как известно, в импульсных толщиномерах при контроле коррозии используют два варианта отсчета временного интервала по первому эхо-сигналу и по серии многократных отражений. При контроле по первому эхо-сигналу наличие неровностей приводит к расширению сигнала, соответствующего отражению импульса от внутренней поверхности изделия. Тем не менее, повышая усиление и наблюдая за передним фронтом сигнала, можно достаточно четко определить толщину изделия. Однако импульсные приборы имеют довольно большую мертвую зону, вблизи которой точность измерения толщины резко снижается ошибка может составлять 10—15% измеряемой толщины. Поэтому классический импульсный метод контроля по первому эхо-сигналу для определения коррозии изделий толщиной менее 8—10 мм применять нельзя. [c.59]

В рефрактометрических детекторах обычно используется два принципа измерения закон отражения Френеля или же закон отклонения Снелла. В детекторах первого типа часть светового потока, отраженная или прошедшая через границу раздела жидкость— стекло, пропорциональна углу падения и показателям преломления этих двух сред. Вследствие этого отношение интенсивностей пучков света определяется уравнением [c.89]

Все перечисленные методы предъявляют высокие требования к прецизионности измерения интенсивности. Кроме того, первые два применимы лишь в определенных условиях (наличие изоморфных пар, присутствие аномально рассеивающих атомов), а остальные три требуют специальной и очень точной аппаратуры, технически еще недостаточно разработанной. Очевидно также, что все они связаны с весьма трудоемкими процедурами. Поэтому такое экспериментальное определение начальных фаз возможно лишь по отношению к небольшому числу отражений. [c.148]

Посредством спектрофотометра измеряют поглощение (или отражение) монохроматического света и по данным измерений строят спектр поглощения вещества — кривую, осью абсцисс которой служат длины волн, а осью ординат— коэффициент поглощения е или (ввиду большого диапазона изменений) 1де. Спектр поглощения характерен для каждого окрашенного вещества (в данном растворителе), в то время как один и тот же визуально наблюдаемый цвет может быть достигнут различными способами, например поглощением дополнительного цвета или смешением двух или нескольких спектральных цветов. Иначе говоря, два вещества могут иметь одинаковый цвет, но разные спектры поглощения. [c.230]

Рассматривая двумерные узоры, мы можем выявить две важные особенности, характерные и для трехмерных узоров, представляющих для нас наибольший интерес. Во-первых, точка инверсии (точка отражения) заменяется на линию зеркального отражения (рис. 2.2, б) и помимо этого появляются еще два новых элемента симметрии, включающие перенос и вращение. Линия скользящего отражения сочетает операцию отражения от прямой с переносом на половину расстояния между узлами решетки (рис. 2.2, в). Необходимо, чтобы перенос был равен именно половине трансляции, так как точка должна повториться на расстоянии, равном трансляции решетки. Другой элемент симметрии — л-кратный поворот — приводит к появлению набора точек, связанных вращением на угол 3607 и расположенных по вершинам правильного л-угольника. (При рассмотрении плоских узоров следует помнить, что двумерные образования могут перемещаться только в плоскости и не имеют третьего измерения. Элемент симметрии, который приводит к появлению набора л точек, симметрически связанных друг с другом в плоскости, строго говоря, следовало бы назвать точкой поворота . Однако для трехмерного случая такую точку поворота легче представить себе как пересечение оси симмет- [c.54]

Приборы ПТС-1 и ПСС-2 предназначены для контроля толщины прозрачных и полупрозрачных покрытий (до 320 и 40 мкм соответственно) методом светового свечения [1]. Осветительная система этих приборов проектирует на контролируемое изделие изображение в виде светлой или темной черты, сформированное маской или оптической щелью. Часть света отражается от поверхности покрытия, а часть проходит внутрь материала покрытия, преломляется, отражается от основания изделия и выходит затем наружу со смещением относительно первого отраженного луча (см. 4.6). Угол падения 6 часто берут близким к 45°, что обеспечивает хорошие условия измерений и уменьшает в силу ортогональности падающего и отраженного лучей прямое прохождение света от осветителя в окуляр. Оператор, таким образом, наблюдает два смещенных изображения световых линий. Измерив расстояние между ними с помощью измерительной сетки и зная коэффициент прелом- [c.245]

Рассмотрим два типа измерения по методу отражения и по методу пропускания. [c.275]

Понятие "частота" требует уточнения в связи с тем, что при контроле используются короткие импульсы, характеризуемые спектром частот. Согласно действующим стандартам рабочая частота определяется по частоте максимума спектра частот отраженного импульса. В действительности, однако, в формировании максимума эхосигнала от дефекта участвует не весь импульс, а только два периода колебаний с максимальными амплитудами. С учетом этого следует определять максимум спектра частот именно для этих периодов колебаний [345]. Для некоторых дефектоскопов и преобразователей отличие измеренных таким образом частот достигает 15%. [c.205]

Согласно экспериментальным измерениям ширина воздушного зазора, при котором коэффициент отражения резко падает, а коэффициент прозрачности возрастает, на два-три порядка больше предсказанного теорией. [c.208]

К методам группы В относятся реверберационный метод, способ оценки прочности склеивания по изменению коэффициента отражения от клеевого шва и метод контроля прочности клеевых соединений путем измерения резонансных характеристик нагруженного на изделие пьезоэлемента. Первые два метода являются вариантами эхо-метода, третий - резонансного. Области применения методов указаны в табл. 17. [c.259]

Если в пробе присутствуют два или большее число поглощающих веществ, конечный результат получают, складывая оптические плотности всех этих веществ. Потери, связанные с отражением поверхностью и по глощением как стенками сосуда, так и компонентами образца, которые практически считаются непоглощающими, обычно учитываются проведением холостого опыта. Сравнивают мощность излучения Р, пропускаемого образцом, и мощность излучения Ро, пропускаемого чистым растворителем или пустым сосудом, смотря по обстоятельствам, используя один и тог же или аналогичные сосуды. Как будет показано в дальнейшем, в некоторых фотометрических приборах это сра(Внение проводится совместно, тогда как в других приборах требуются два отдельных измерения. [c.27]

Как видно из полученного выражения, исключение влияния реверберации на результаты измерений или исследований может быть достигнуто как увеличением затухания и уменьшением коэффициента пропускания О сред преобразователя, так и снижением коэффициента отражения Я от излучателя (или приемника). Первые два способа влекут за собой значительное ослабление принятого сигнала, третий же способ незначительно ослабляет сигнал. [c.182]

Если возможно пользоваться выпуклыми объектами, то можно одновременно на одну и ту же фотопластинку получить два снимка с двух таких объектов, разделенных узкой щелью. Таким путем легко находить по следу от первичного луча не только центр обеих картин, но одна из них может использоваться и для точного определения длины волны. Было показано [32], что таким путем точность абсолютных измерений может быть поднята до 0,2—0,3%. Однако при отражении электронов от поверхности плоского шлифа получаются более хорошие картины. [c.111]

Ряд результатов, полученных в предыдущем разделе с помощью различных математических методик, находит экспериментальное подтверждение в работах по адсорбции полимеров. Методики, развитые в этих работах, можно разбить на два класса оптические и гидродинамические. К первым относятся эллипсометрия, основанная на измерении отраженного поляризованного света от адсорбционной пленки и позволяющая определить среднеквадратичную толщину этой пленки и показатель преломления, связанный с концентрацией в ней полимерных сегментов [30, 31], и метод [c.67]

Пройдя полулинзы 15, установленные внутри барабана прерывателя 16, оба пучка отклоняются на 90° призмой 17, проходят через входные окна шара 18 и попадают на окна, к которым прижимается образец и эталон (в случае измерения коэффициентов отражения) или два эталона (в случае измерения коэффициентов пропускания). Свет, отраженный от образца и эталона, суммируется шаром и попадает на фотоэлемент 19, расположенный за выходным окном шара. Фототок, возникающий под влиянием суммарного светового потока, передается через усилитель на кинематическую систему прибора и значение оптической плотности (пропускания) автоматически фиксируется на бумажном бланке. [c.153]

Таким образом, для вычисления параметра, необходимого в методе учета изменения концентрации внутреннего стандарта, нужно знать величину с . Она, как правило, известна с точностью ( 1,0 отн.%), достаточной для различных анализируемых материалов. Если, однако, анализируются неизвестные материалы, то величину Сг следует определять отдельно. Для этого обычно применяют два метода метод интегрирования за постоянное время и метод измерения отраженного излучения. [c.232]

Для определения / достаточно произвести измерение высоты полярографической волны кислорода при Е ——I в. Для этого следует определить два положения зайчика, отраженного от зеркала гальванометра 3, при разомкнутой цепи тока и при включении рубильника 11. Процесс измерения высоты волны отнимает не более одной минуты. [c.224]

От кристалла, ориентированного определенным способом, получают два набора данных один с большой, другой с малой экспозициями. В каждом случае в кассету закладывают три или четыре пленки, накладывая их друг на друга. В результате этого очень сильные отражения, которые были бы слишком сильными для измерений интенсивности при съемке на одну пленку, будут ос- [c.94]

Предварительная работа перед началом измерений разбивается на два этапа один включает тщательную юстировку кристалла на шпинделе, на другом проводят измерение углов и 7, на основании которых можно получить параметры элементарной ячейки и использовать их для нахождения точных угловых координат для каждого отражения. [c.110]

Проектор для небольших объектов выпускается японской фирмой Ниппон Когаку (Токио). Прибор (фиг. 94) имеет четыре проекционных объектива, смонтированных на револьверной оправе 3, дающих увеличения 20, 50, 120 и 320 . Соответствующие поля зрения на объекте составляют 15, 6, 1 и 0,5 мм. Два осветителя 1 м 4 позволяют работать в отраженном и проходящем свете. Объективы 20 и 50 хорошо исправлены на дисторсию (до 0,1 %) и служат для измерительных целей. Объективы 120 и 230 предназначены для наблюдений без измерений. Диаметр стеклянного экрана 2300 мм. К прибору прилагаются измерительный столик с двумя микрометрическими механизмами, позволяющими перемещать объект в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Диаметр предметного стекла столика — 40 лип. Пределы перемещения столика — 10 X 10 мм. Цена деления шкалы на барабанчике — 0,01 мм. [c.233]

Пусть оптический пирометр визируется через пламя на зеркало, отраженные лучи от которого через пламя попадают в объектив, позволяя, таким oopaaoiM, сделать два измерения яркостных температур Гг, я Тг. для одинарной и двойной толщин пламени. Если обозначить красную степень черноты и истинную температуру пламени через е р и Тр а коэффициент отражения зеркала через рл4, на основании закона Вина можно написать [c.143]

Оптимальные условия при регистрации ИК-спектров отражения-поглощения на стандартных спектрофотометрах достигаются с помощью специальных приставок, которые позволяют выполнять измерения без изменения оптической схемы прибора. Приставки представляют собой систему зеркал, располагаемую на специальном плато и служащую для фокусировки пучка излучения спектрофотометра на входную апертуру системы исследуемых образцов и далее, после ero многократного отражения между образцами, для перефокусировки в соответствии с оптической схемой спектрофотометра. Различают в основном два типа приставок для спектрофотометров, -имеющих пучок излучения, сфокусированный на входном окне корпуса монохроматора, и для спектрофотометров с пучком, сфокусироваипым в центре кюветного отделения. В первом случае схема приставки (рис. 7.9) включает два или три плоских зеркала, направляющих пучок на входную 7.9. Оптическая схема ириставки апертуру образцов, и ис- многократного отражения, следуемые зеркала, рас- 2 - плоские направляющие зеркала . 4 -полагаемые параллельно обпа.ць, - фото етрнчес.нй [c.151]

Концентрация дыма определяется либо путем сравнения загрязненного фильтра с набором стандартных в различной степени зачерненных кружков либо фотоэлектрическим измерением отраженного от фильтра света Оба метода требуют предварительной калибровки — взвешивания фильтров до и после от бора пробы Методика калибровки т е определения отношения оптической плотности осадка на фильтре к весу осадка дыма образующегося при сжигании угля описана Хиллом Но результаты калибровки строго говоря применимы лишь к тому дыму, по которому она проводилась Изменения в распределении размеров частиц в дыме и особенно в его окраске могут привести к серьезным ошибкам Эти н другие ошибки например в определении объема отобранного воздуха обсуждены в сборнике Воздушные загрязнения Паркером и Ричард сом а также Коулсоном и Эллисоном В повседневной практике можно впро чем пользоваться для определения концентрации дыма обычной стандартной калибровочной кривои Для специальных же целен должна быть определена путем взвешивания фнльтра хотя бы одна точка на кривои для рефлектометри ческих измерении концентрации Поскольку по мере отбора толщина осадка на фильтре непрерывно увеличивается то для избежания серьезных ошибок она ие должна выходить из некоторых пределов Полуавтоматический вариант при бора исключает ежедневную ручную смену фильтра каждые 24 часа поток воздуха переключается иа другой фильтродержатель Таким путем могут быть получены последовательно семь суточных проб В приборах для непрерывного автоматического отбора дыма передвижение фильтровальной бумаги может происходить через интервалы в один два три восемь и двадцать четыре часа [c.372]

Результаты для ионных кристаллов. Для всех измеренных отражений ионных кристаллов обнаружены существенные изменения (уширение и сужение) дифракционных пиков в процессах механической обработки и отжига. Причем для отражений (200), (111) и (220) начала дифракционного спектра зависимость ширины линий от продолжительности механической обработки имеет один максимум. А для отражений (222), (400), (420), (440) и др. эта зависимость имеет два максимума. Иллюстрацией полученных результатов служат приведенные на рис.За зависимости ширины линий (200) и (400) для хлорида натрия от продолжительности механической активации. На рисунке отчетливо видна функция с двумя максимумами для образцов 1 и 3 для отражения (400) и с одним максимумом для отражения (200). Подобные нелинейные зависимости были обнаружены и для всех отражений кристаллов Na l и КС1. [c.25]

Ход определения. Два кружка помещают под ртутно-кварцевую ламлу ПРК-2 (или ДРТ-375) на расстоянии 250 5 мм от нее. Устанавливается следующий режим работы лампы напряжение 120 12 В, сила тока 3,7 0,6 А. Образцы облучают в течение 4 ч. Одновременно испытывают не менее двух образцов. Перед измерением образцы выдерживают в темноте в течение 2 ч. На приборе ФКЦШ-М при источнике С определяют коэффициент отражения света необлученной части образца и облученного образца Ki. Отношение Kj/K рассчитывается по формуле K /K = s/100 s измеряется, как описано в работе N I4. [c.40]

В некоторых случаях при измерении толщины со стороны основного металла для получения четкого отражения от границы наплавки (особенно часто при контроле труб) приходится применять два наклонных преобразователя по зеркальнотеневой схеме (рис. 6.12). Используют преобразователи с углом ввода 40. .. 52° частотой 2,5 МГц. Преобразователи жестко соединяют друг с другом на расстоянии, обеспечивающем получение четких сигналов от дна и границы наплавки. Их располагают вдоль образующей трубы или цилиндрического сосуда. [c.716]

ГОСТ 8.055—73 Машины. Методика выполнения измерений для определения шумовых характеристик установлено четыре метода определения шумовых характеристик машин при типовых испытаниях в свободном звуковом поле (в заглушенных камерах, помещениях с большим звукопоглощением или в открытом пространстве) в отраженном звуковом поле (в реверберационных камерах или гулких помещениях) в обычных помещениях с помощью образцового источника шума, на расстоянии 1 м от наружного контура машины. Первые два из указанных методов требуют специальных помещений — заглушенных и реверберацион- [c.207]

Упрощенный вариант кюветы, изготовленной из стекла пнрекс, представлен на рис. 11,6. Медный блок с отверстием для ИК-пучка присоединен с помощью перехода металл — стекло к основанию охлаждаемой камеры. Эта кювета первоначально была сконструирована для записи спектров твердых образцов (Вагнер и Хорниг, 1950), но также успешно может быть использована и для исследования адсорбции. Аналогично кювету (рис. 11, в), сконструированную Перкамнусом и Баумгартеном (1961), можно приспособить для низкотемпературных адсорбционных исследований. Перегородка нижней части кюветы имеет платинированную нижнюю понерхность для отражения ИК-пучка обратно через образец. Верхняя камера является охланедающим резервуаром. Используя эту кювету в обычном ИК-спектрометре, необходимо применять дополнительные оптические приспособления для отклонения ИК-пучка от его - первоначального пути. Превосходную кювету (рис. И, г) сконструировал Робертс (1955) для записи спектра при температурах жидкого гелия. Используются два охлаждающих сосуда Дьюара, из которых Б предназначен для жидкого гелия, а. А — для жидкого азота. Используются двойные окошки для пропускания ИК-излучения (В ш Г). Метод прикрепления окошек был рассмотрен в другой работе (Робертс, 1954). Эта кювета была описана не для адсорбционных измерений, но легко может быть приспособлена для этой цели. [c.51]

Тетрахлорид бора B4 U [8]. Очень реакционноспособное соединение B4 I4 образует тетрагональные кристаллы. Систематические погасания не наблюдаются, но отсутствуют отражения (М/) с нечетным I и hkO) с нечетным h к). По этим погасаниям однозначно определяется пространственная группа PA2 nm . Неустойчивость кристаллов не позволяет проводить непосредственные измерения плотности, но приемлемое значение плотности было получено в предположении, что в элементарной ячейке находятся две молекулы. Пространственная группа включает шестнадцать общих положений. В группе есть два набора двухкратных положений, и оба этих набора приводят к наличию у молекулы точечной симметрии 42m(D2d). В этом случае единственной подходящей химической формулой является такая, в которой тетраэдр из атомов бора окружен большим тетраэдром из атомов хлора, как это изображено на рис. 7.11. Если бы оба тетраэдру были правильными, то молекула имела бы симметрию 43т(Td) полный рентгеноструктурный анализ показал, что симметрия молекулы лишь незначительно отличается от такой высокой симметрии. [c.158]

Для получения приближенных сведений о координатах атомов можно использовать различные данные. Наиболее полезным оказывается то, что из всех уже найденных ранее результатов нам примерно известно, как далеко могут отстоять друг от друга атомы в молекуле и как близко могут подходить друг к другу атомы разных молекул. Значения длин связей составляют обычно от 1 до 3 А, тогда как наименьщее расстояние, на которое могут приблизиться друг к другу атомы разных молекул, так называемое вандерваальсово расстояние, почти в два раза больще. Размеры элементарной ячейки часто могут оказать помощь при определении ориентации молекулы в ячейке, особенно если молекула плоская. Иногда, когда одно определенное рентгеновское отражение значительно интенсивнее остальных, можно полагать, что в плоскостях, обусловливающих это рассеяние, будет находиться соответственно большая доля рассеивающего вещества. Как показано в разд. 12.3, при определении ориентации плоской молекулы могут оказаться полезными измерения магнитной восприимчивости. Нередко известную роль может сыграть и определение показателей преломления, поскольку в направлении, перпендикулярном к плоскости молекулы, значение показателя преломления, как правило, не велико, а в нанрав- [c.178]

Мы должны различать два случая. Первый, когда двулучепреломление, которое испытывает свет после прохождения дихроичного вещества (например, в выходном окне кюветы или на входной поверхности фотоэлемента), пе влияет на измерение. Строго говоря, следует принимать во внимание, что, когда нормально падающий пучок проходит через двулучепреломляющую пластинку, потери света при отражении сопровождаются незначительной частичной поляризацией, поскольку фактор отражения п—1)/( -Ы)Р различен для колебаний, параллельных одной или другой оси пластинки. Однако эта частичная поляризация, которая невелика для кристаллической пластинки, будет еще меньше в пластинках, имеющих весьма незначительное двулучепреломление. В любом случае указанное явление приводит к возникновению сигнала с частотой 2со и, следовательно, не обнаруживается. [c.92]

I. Дифр актометрические данные обычно состоят из индексов отражения и шести измеренных для него величин. Они включают два значения интенсивности фона, интенсивность пятна и время, затраченное на каждое из этих измерений. Вместо этого можно ввести скорость измерения в секундах на градус и угол, в пределах которого было проведено измерение. В набор данных также включают измеренные через определенный промежуток времени контрольные отражения, что необходимо для проверки качества кристалла и аппаратурных режимов. Для некоторых интенсивных отражений требуется введение ослабителя перед окном счетчика, и это должно быть учтено. [c.231]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология