Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Блок-схема теневого метода

    Ультразвуковой метод дефектоскопии использует ЗВ высокой частоты (20 кгц — 25 Мгц). Известны два основных метода ультразвукового контроля — теневой (метод сквозного прозвучивания) п эхо-метод (метод отражения) имеются варианты иммерсионного и контактного ультразвукового методов, отличающиеся способом ввода ЗВ в исследуемый материал. При этом методе используется аппаратура, блок-схема к-рой аналогична схеме импульсного прибора для ультразвуковых испытаний полимерных материалов (см. рис. 1). [c.31]


    Рнс. 9-5. Блок-схема ультразвукового дефектоскопа, работающего по теневому методу. [c.197]

    На рис. 9-5 представлена блок-схема работы ультразвукового дефектоскопа, работающего по теневому методу. Как видно из схемы, генератор / высокочастотных электрических колебаний возбуждает механические колебания щупа — пьезоэлектрической пластинки 2, наложенной на исследуемый образец 4. С другой стороны образца соосно с излучателем 2 расположена пьезоэлектрическая пластинка щупа приемника 3. Ультразвуковые волны 6, пройдя образец 4, возбуждают в приемном щупе 3 колебания, которые усиливаются усилителем 7 и отмечаются стрелочным прибором-индикатором 8. Если между приемником и излучателем ультразвука находится дефект 5, то за дефектом образуется область звуковой тени , интенсивность ультразвуковых волн, приходящих к приемнику, резко падает и индикатор 8 покажет наличие дефекта в материале. Всем ультразвуковым дефектоскопам, работающим на непрерывном излучении ультразвуковых колебаний с теневым методом приема, свойственен общий недостаток. Если размер дефекта меньше, цем длина ультразвуковой волны, то вследствие [c.197]

Рис. 10-17. Блок-схема ультразвукового микроскопа с теневым методом приема. Рис. 10-17. <a href="/info/392383">Блок-схема ультразвукового</a> микроскопа с <a href="/info/90804">теневым методом</a> приема.
    Исследования проводились оптическими методами теневым и методом Теплера, которые позволили визуализировать саму струю, её внутреннюю структуру н окружающее звуковое поле а также с помощью микрофона. Блок-схема измерений изображена на рис. 2. Измерительный тракт позволял проводить исследования в диапазоне частот от 20 и, до 70 кгц. [c.87]

    Аппаратура д,ля испытания материалов с использованием незатухающих колебаний по теневому и резонансному методам может быть представлена в виде нростейпгей блок-схемы, изображенной на рис. 60. [c.128]

    На рис. 10-4 представлена блок-схема ультразвукового дефектоскопа, работающего по теневому методу. Как видно из схемы, генератор 1 высокочастотных электрических колебаний возбуждает механические колебания щупа—пьезоэлектрической пластинки 2, наложенной на исследуемый образец 4. С другой стороны образца соосно с излучателем 2 расположена пьезоэлектрическая пластинка щупа-приемника. Ультразвуковые волны 6, пройдя образец 4, возбуждают в приемном щупе 3 колебания, которые усиливаются усилителем 7 и отмечаются ст релоч-ным прибором-индикатором 8. Если между приемником и излучателем ультразвука находится дефект 5, то за дефектом образуется область звуковой тени . Интенсивность ультразвуковых волн, приходящих к приемнику, резко падает, и индикатор 8 показывает наличие дефекта в материале. Всем ультразвуковым дефектоскопам, работающим при непрерывном излучении ультразвуковых колебаний с теневым методом приема, свойствен общий недостаток. Если размер дефекта меньше, чем длина ультразвуковой волны, то вследствие явления дифракции область звуковой тени за дефектом не возникает и дефект обнаружить невозможно. Применяя ультразвуковой дефектоскоп с непрерывным излучением и теневым методом приема ультразвуковых колебаний, при частоте 1 Мгц можно обнаружить дефект сечением не менее 2 мм при расстоянии его от пластины приемного щупа не более 0,3 М.М. Это значит, что, меняя местами приемный и излучающий щупы, можно обнаружить дефект сечением более 2 мм при толщине стали до 0,6 мм даже при самых неблагоприятных условиях расположения дефекта внутри контролируемой детали. В реальных условиях измерений чувствительность теневых дефектоскопов будет несколько ниже из-за неплотного контакта между поверхностью изделия и щупами дефектоскопа. [c.195]



Ультразвук и его применение в промышленности (1958) -- [ c.128 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте