Реплик метод

Все методы исследования с помощью просвечивающего электронного микроскопа разделяют на прямые и косвенные. При прямых методах в микроскопе исследуют непосредственно объект в виде очень тонкой пленки (среза) или мельчайших частиц (определение формы и размера частиц высокодисперсных систем, изучение структуры биологических объектов, полимеров, металлов и т. п.). При косвенных методах в микроскопе рассматривают не сам объект, а отпечаток этого объекта. Отпечаток иначе называют слепком или репликой. Метод реплик применяют для исследования рельефа различных поверхностей, а также таких объектов, как кристаллы льда или гели, которые невозможно исследовать непосредственно в микроскопе. Существенным недостатком электронной микроскопии является невозможность наблюдения образца в динамических условиях, т. е. в движении, так как препарат должен быть высушен или заменен репликой. [c.395]

Оттенение поверхности образца хромом и получение углеродной реплики методом напыления. Предварительное оттенение поверхности травленой и нетравленой медной фольги, а также получение углеродной реплики проводят в нанылительной вакуумной установке. Кусочек медной фольги (2x4 см) помещают под колокол вакуумной установки, укрепляют в специальной рамке и устанавливают рамку на расстоянии 80—80 мм от испарителя под углом 60° к направлению напыления. В испаритель вносят около 2 мг хрома. Затем включают вакуумный насос. После достижения необходимого вакуума (10 —10 мм рт. ст. остаточного давления) проводят напыление хрома. Затем на медную фольгу напыляют углеродную реплику, напыление проводят под углом 90° к поверхности фольги. Подробно работа на установке вакуумного распыления описана во введении к этой главе (см. стр. 191). [c.200]

Косвенными методами исследования являются методы, при которых в электронном микроскопе рассматривается не сам объект, а отпечаток, полученный с этого объекта. В литературе отпечаток часто называют репликой или слепком, а метод исследования с использованием реплики — методом реплик. Косвенные методы применяют, главным образом, для исследования рельефа различных поверхностей, а также тех объектов, которые невозможно исследовать непосредственно в электронном микроскопе (например, кристаллов льда или поверхностей гелей). [c.174]

Для исследования микроструктуры крупногабаритных изделий в данной работе использовался метод полистирольных реплик. Метод заключается в том, что на одну из сторон (контактную) полистирольного кубика (10т-20 мм) наносится тонкий слой растворителя (бензола), затем подготовленная сторона прижимается к шлифу на 5-10 с. В течение последующих 1,5-2 ч полистирол затвердевает, и полученные оттиски исследуют в лабораторных условиях. [c.366]

В отличие от светового микроскопа, в отношении которого предполагается, что каждый, кто на нем работает, способен использовать его наилучшим образом, электронный микроскоп — специализированный прибор, который настраивается и обслуживается специалистами. Это связано с расходами на запасные части и производством ремонтных работ, осуществляемых по контракту с обслуживающим предприятием-изготовителем. Для того чтобы оправдать капитальные вложения и затраты, связанные с организационными трудностями, в большинстве случаев на одном электронном микроскопе работает много людей. Часто к электронным микроскопам прилагаются устройства для производства срезов, получения реплик методами напыления сколов и травления замороженных образцов и, возможно, для других видов [c.90]

Энциклопедия полимеров Том 3 (1977) -- [ c.3 ]

Энциклопедия полимеров Том 3 (1977) -- [ c.3 ]

Руководство по анализу кремнийорганических соединений (1962) -- [ c.436 ]

Физические методы органической химии Том 2 (1952) -- [ c.328 , c.329 ]

Физические методы органической химии Том 2 (1952) -- [ c.328 , c.329 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология