Линза электронная толстая

Магнитные линзы. Соленоид с равномерным полем представляет собой толстую магнитную линзу. Фокусирующее действие тонкой магнитной линзы пли, другими словами, короткой катушки, обтекаемой током, несколько сложнее, так как в этом случае траектория электрона зависит от интенсивности [c.195]

Препарат, подлежащий исследованию под микроскопом 1 осве-чивающего типа, должен быть прозрачным для электронов. Поглощение электронов недопустимо, так как может вызвать перегрев и разрушение препарата. Электроны, проходя сквозь препарат, соударяются с атомами вещества и вследствие этого рассеиваются. Угол, на который отклоняются при этом электроны, изменяется в зависимости от плотности и толщины препарата. Тонкие участки препарата меньше рассеивают электроны, поэтому проходящий через них плотный пучок частиц вызывает интенсивное свечение этих мест объекта на экране. Наоборот, толстые и плотные участки препарата рассеивают значительную часть проходящих через них электронов на большие углы, в результате этого они отсекаются апертурной диафрагмой объективной линзы и не попадают на экран. Такие участки препарата на экране имеют серую и темную окраски. [c.132]

Более высокое разрешение при исследовании толстых объектов. Ограничение толщины объекта в обычной электронной микроскопии связано не только с ограниченной проникающей способностью и уменьшением яркости, но и с тем, что падает разрешающая способность из-за потерь энергии электронов и эффекта хроматической аберрации. В системе РПЭМ нет линз после объекта, поэтому нет потерь в разрешении. В этом отношении РПЭМ при ускоряющем напряжении 100 кВ приб- [c.547]

В оптике можно пользоваться топкими линзами . Фокусное расстояние этих линз откладывается в ту и в другую сторону от центра линзы. При геометрическом построении пучков световых лучей, проходящих через тонкую линзу, можно пользоваться лучами, проходящими через центр линзы. В электронной оптике полного аналога тонкой линзы нет или, точнее говоря, тонкие электронноонтические линзы являются очень несовершенными, и ими мало пользуются. Прп построенип изображения, даваемого электрической линзой, приходится определять положение так называемых главных плоскостей толстой линзы и откладывать фокусные расстояния не от центра линзы, а от точек пересечения этих плоскостей с осью симметрии линзы. [c.185]

Помимо визуального исследования затухания или фотографирования развёртки свечения при применении однодискового фосфороскопа, уже несколько десятилетий назад начали входить в практтгу объективные методы измерения интенсивности затухающего свечения с помощью фотоэлементов. Особенное развитие эти методы получили после разработки усилителей и электронных умно кителей и соответствующей электроизмерительной аппаратуры. Со времени развития катодной осциллографии объективные методы исследования стали широко применяться и для исследования быстротекущих процессов. Катодный осциллограф даёт возможность легко получать развёртки свечений длительностью до 10" сек. На рис. 27, а приведена схема одной из таких установок, применённая Н. А. Толстым и П. П. Феофиловым [499] для исследования свечения люминесцирующих препаратов, главным образом стёкол. Возбужденно производится лампой Ь, на рпс. 27 ртутной лампой СВД. Свет лампы с помощью линзы фокусируется иа исследуемом препарате М, [c.84]

Препараты должны быть устойчивы по отношению к действию электронов с энергией 50 кэв в вакууме при остаточном давлении воздуха 10 —10" мм рт. ст. Препарат должен быть так укреплен, чтобы те электроны, которые им не поглощаются, не рассеиваются и не диффрагируют, достигали бы фотографической пластинки. Детали препарата, которые подлежат наблюдению, должны быть достаточно малой толщины, чтобы пропускать большую часть падающих электронов без существенного изменения их скорости и направления. Полная разрешающая способность электронного микроскопа может быть реализована для препаратов (с плотностью порядка единицы) лишь в том случае, если их толщина не превышает 0,1 [а. Разрешающая способность падает приблизительно пропорционально возрастанию толщины препарата, так что для препаратов толщиной в 1 [I. она не превышает разрешающей способности светового микроскопа. Рассеяние электронов в толстых объектах приводит к недостаточной резкости изображения особенно плохо видны детали образца со стороны, противоположной объективной линзе. [c.325]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология