Линза магнитная

Рис. 6. Схема масс-спектрометра фирмы Дженерал Электрик, а — ионизационная камера в увеличенном масштабе, 1 — напряжение, ускоряющее ионы, 2500 2 — ионизационная камера з—ионная линза 4, — коллиматорные щели 4 — магнитное поле, расположенное в плоскости чертежа — вспомогательный коллектор 7 — щель коллектора I — вспомогательный усилитель 9 — главная коллекторная плоскость 10 — главный усилитель 11 регистрирующее устройство 12 — нить 13 — ловушка для электронов.

Основное отличие электронного микроскопа от оптического — использование потока электронов вместо лучей света, а вместо стеклянных линз — магнитных или электрических. На рис. 15 приведена упрощенная схема электронного микроскопа просвечивающего типа с магнитными линзами. [c.45]

Электронный микроскоп состоит из электронной пушки — источника быстрых электронов и системы электромагнитных линз, обеспечивающих две или три степени увеличения (объектив, промежуточная линза и проектор). Источник электронов, представляющий собой вольфрамовую нить, дает пучок электронов, фокусирующийся магнитной линзой-конденсором в практически параллельный пучок, который падает на объект. Схематически путь электронного луча в электронном микроскопе показан на рис. 91. [c.155]

При использовании магнитных линз, рассеивающих пучок ионов, поверхность ядерных мембран может достигать нескольких квадратных [c.55]

Выражения (7.65) и (7.65 ) показывают, что короткофокусные системы требуют большого количества ампер-витков. При этом резко возрастает радиус намотки, что также ведет к увеличению lw. Поэтому обмотки 1 (рис. 7.18,а) короткофокусных линз обычно заключают в магнитопровод 2, имеющий кольцевую щель 5. В таких линзах магнитное поле концентрируется в районе щели, и протяженность его вдоль оси составляет величину порядка я + 2Л, где Л - радиус отверстия в магнитопроводе. [c.283]

В квадрупольной линзе магнитное поле должно линейно нарастать от центра, где оно равно нулю, по радиусу (рис. 7.19). При такой конфигурации [c.285]

Осветительная система предназначена для получения электронов и формирования электронного пучка. Она состоит из электронной пушки, в которой нагретая до высокой температуры вольфрамовая нить испускает электроны, ускоряемые электрическим полем, и конденсорной линзы (электромагнитного или электростатического типа), которая с помощью магнитного или электрического поля фокусирует электронный пучок на исследуемый образец. [c.123]

Хорошим примером использования в анализе первичных рентгеновских лучей является электронно-зондовый рентгеновский микроанализатор. В этом приборе электроны, испускаемые нагретой тонкой вольфрамовой ленточкой (диаметром 0,1 мм), ускоряются напряжением 5— 40 кВ и направляются на анализируемое вещество, которое служит мишенью. Система поддерживается под высоким вакуумом по пути к образцу пучок электронов проходит через одну или две магнитных линзы. Эти линзы имеют форму катушки с небольшим сквозным отверстием, в котором создается сильное магнитное поле. Изменяя напряженность этого поля, можно сфокусировать электронный пучок на очень малой площади (вплоть до одного квадратного микрона) на поверхности мишени. Рентгеновское излучение, которое испускается из этой небольшой области образца, проходит через диспергирующую систему и регистрируется. Анализ полученного спектра позволяет установить состав выбранной области образца. [c.101]

Основным отличием электронного микроскопа от оптического является использование потока электронов вместо лучей света, причем вместо стеклянных линз применяются магнитные или электрические поля (рис. 43). Источником электронов служит вольфрамовая проволока, которая при накаливании испускает поток электронов. Электроны, пролетая через специальную электромагнитную систему, попадают на фотопластинку или на экран, давая увеличенное изображение предмета. [c.129]

Из элементарного германия изготавливают линзы для приборов инфракрасной оптики (германий прозрачен для инфракрасных лучей), дозиметры ядерных частиц, анализаторы в рентгеновской спектроскопии. Германий с добавкой индия применяется для низкотемпературных термометров сопротивления, работающих при температуре жидкого гелия [53]. Предложены германийсодержащие магнитные сплавы [54.1 [c.173]

С целью увеличения плотности энергии в пучке после выхода из анодного отверстия электроны фокусируются при помощи специальной магнитной линзы 4, а для перемещения луча по свариваемому стыку служит магнитная отклоняющая система 5. [c.302]

Ввернутые в корпус аппаратов шпильки подвергают циркулярному намагничиванию (рис. 93), обтюраторы проверяют с помощью соленоидов. Клапанные пластины и уплотнительные линзы контролируют пропусканием тока через оправку, на которую насаживают 8—10 пластин или линз (рис. 94). Монтажные цапфы проверяют циркулярным намагничиванием (рис. 95). В большинстве случаев на заводах отрасли применяют метод магнитной суспензии, а не сухой метод с использованием магнитного порошка. На рис. 96 приведены дефекты, выявленные магнитным методом. При оптимальных условиях контроля магнитным методом могут выявляться поверхностные и подповерхностные дефекты с раскрытием 5—10 мкм и глубиной 30—50 мкм и более, при этом дефекты округлой формы выявляются менее надежно. [c.139]

Крупногабаритные аппараты химических производств (реакционные колонны, теплообменники, скрубберы и пр.) работают в условиях высоких давлений, повышенных температур, взрывоопасных и агрессивных сред. Поэтому основные детали аппаратов монтажные цапфы, основные и крепежные шпильки, линзы и обтюраторы, трубы и фитинги подвергают комплексному неразрушающему контролю с применением магнитного, ультразвукового, радиационных и других методов. На рис. 127 приведен схематический чертеж реакционной колонны на давление 325 ат с обозначением деталей, подвергающихся дефектоскопии. [c.174]

Линзы и обтюраторы контролируют методом магнитной суспензии, Способы намагничивания этих деталей зависят от их размеров, [c.176]

Из уравнения (7.5) видно, что каждый отдельный ион, характеризуемый конкретной величиной М е, при данной индукции магнитного поля движется по собственной траектории. Одновременно секторное магнитное поле действует как собирающая линза, фокусируя ионные пучки, отличающиеся угловым распределением (рис. 7.8). Из этого [c.855]

Схема установки для фотоэлектрического титрования приведена на рис. 86. Лучи от источника света 1 (лампа накаливания) направляют линзой 2 через светофильтр 3 и кювету 4 на фотоэлемент 5. Над кюветой установлена бюретка 6. Магнитная мешалка 8 дает возможность перемешивать жидкость в кювете 4. Фотоэлемент связан с гальванометром 9. [c.348]

В электронном микроскопе используются быстрые электроны с соответственно малыми длинами волн, что позволяет распространить измерения вплоть до 10—50 А. Порошок наносится в виде тонкого слоя на подложку из коллодия, и силуэты частиц получаются на экране при правильном фокусировании лучей магнитными и электрическими полями, служащими линзами. При калибровке прибора по реплике стандартной решетки в качестве объекта можно определять размер частиц с точностью до нескольких ангстрем. Число частиц, попадающих в поле луча, невелико, однако функцию их распределения удается определить и использовать для установления возрастания размера частиц в процессе старения, спекания и во время реакции [35]. При иной фокусировке электронного пучка, отраженного от пленки, получающиеся электронограммы дают представление о межатомных расстояниях в слоях, близких к поверхности, хотя для этой цели чаще используют дифракцию электронов на отражение [36]. [c.166]

Применение. Г.-полупроводниковый материал, используемый в виде монокристаллов очень высокой чистоты для изготовления диодов, транзисторов, фотодиодов и фоторезисторов. Из него производят датчики Холла, линзы для приборов ИК-техники, рентгеновской спектроскопии и детекторы ионизирующих излучений (чувствительность 10 ат/см ), термометры сопротивления, эксплуатируемые при т-ре жидкого Не. Сплавы Г. с Аи, обладающие высокой твердостью и прочностью, используют в ювелирной и зубопротезной технике для прецизионных отливок. Сплавы с Si или с В-высокоэффективные термоэлектрич. материалы, с Nb и -сверхпроводники, с А1, 81 и Ре-тер-моэмиссионные материалы, с Мп и А1-магнитные. Нек-рые сплавы Г. применяют в кач-ве припоев (напр., с А1, 51 и Аи), антикоррозионных покрытий (со 8п или со 8Ь). [c.532]

Оптическая схема электронного микроскопа близка к схеме обычного светового. Катод, представляющий собой вольфрамовую проволоку, при накаливании испускает электроны. В результате разности потенциалов между катодом и анодом, равной нескольким десяткам киловольт, электроны со значительной скоростью движутся к аноду и проходят через отверстие б магнитную линзу. Линза фокусирует пучок электронов в плоскости объекта. Электроны, прошедшие сквозь объект, попадают во вторую магнитную линзу, которая создает в плоскости увеличенное изображение объекта. Чтобы сделать это электронное изображение видимым, в данной плоскости устанавливают флюоресцирующий экран. Получаемое видимое изображение объекта называют промеи<уточным. Часть электронов, несущих определенную часть общего изображения, проходит через отверстие в центре экрана и при помощи третьей магнитной линзы фокусируется в увеличенном виде в плоскости. В плоскости конечного изображения также имеется флюоресцирующий экран, превращающий электронное изображение в световое. Под флюоресцирующим экраном помещается кассета с обычной фотографической пластинкой, которую можно заэкспонировать. [c.131]

Инверсия рабочих уровней создается при прохождении пучка атомов в неоднородном магнитном поле шестиполюсной линзы. Атомы в верхнем энергетическом сос1оянии фокусируются на входе в колбу-накопитель, помещенную внутри термостатированного СВЧ-резонатора, настроенного на частоту сверхтонкого перехода. Специальное покрытие стенок колбы, которая одновременно служит реактором, обеспечивает пребывание в ней атомов Н без изменения их спинового состояния в течение 0,3 — 0,4 с. Газы-реагенты подаются непосредственно в колбу-накопитель, их стационарная концентрация измеряется с точностью до 1%. [c.303]

Размеры и форму коллоидных частиц можно определить методом электронной микроскопии. В электронном микроскопе вместо световых лучей используется пучок быстро движущихся электронов. Для фокусировки электронного пучка применяются электронные линзы — электромагнитные катушки, создающие электрические и магнитные поля. Увеличенное изoJбpaжeниe объекта проецируется на светящийся (флуоресцирующий) экран. Для электронного микроскопа предел разрешения, характеризующий способность прибора различать мелкие, близко расположенные детали объекта, составляет 0,2— [c.189]

Наилучшее разрешение в микроскопии может быть достигнуто с электронными микроскопами просвечивающего типа (трансмис-сионньпйи). Для формирования изображения в ТЭМ применяется мо-нокинетический пучок быстрых электронов, ускоренный высоким напряжением (50-100 кВ или даже 1 МВ), которые фокусируются электронными линзами (электрическим или магнитным полем). Изображение объекта проецируется на флуоресцирующий экран или фотопластинку. Ход лучей в просвечивающем электронном и оптическом микроскопе практически идентичен, высокое разрешение ТЭМ достигается исключительно за счет короткой длины волны электронного луча. Чтобы электронный пучок прошел в микроскопе весь путь (до 100 см) без соударений, в колонне микроскопа применяется высокий вакуум (Ю -Ю мм рт. ст.). [c.354]

И статьи, посвященные отдельным типам анализаторов с плоскопараллельными [78, 79] и изогнутыми параллельными [80—87] зеркалами, со сферическими [74, 88—91] и цилиндрическими [74, 92] зеркалами, анализаторам тормозящего поля [72, 93—97], в том числе с постмонохроматором [98] и с пост-фокальными сетками [99], анализаторам с комбинированными фильтрами отражения и пропускания [100], времяпролетным анализаторам [101], линзам Мёлленщтедта [102]. Все перечисленные типы анализаторов относятся к электростатическим. Кроме того, применяются анализаторы с отклоняющим магнитным полем [103, 104]. При измерении химических сдвигов ЭСХА разрещающая способность анализатора должна быть такой, чтобы его вклад в суммарное инструментальное уширение линий не превышал нескольких десятых электронвольта. Это означает, что при энергиях вылетающих электронов около [c.429]

Кроме указанных линз в современные микроскопы вводят также стигматоры, представляюш,ие собой слабые цилиндрические магнитные или электростатические линзы, оптической силой и ориентацией которых можно управлять. Назначением их является подавление одного из видов осевой аберрации — приосевого астигматизма, обусловленного отступлением линз от вращательной симметрии из-за неоднородности магнитных материалов и различных загрязнений, появляющихся в микроскопе. Стигматоры располагают в объективной линзе и в слабой линзе двойного конденсора для получения круглой формы сечения пучка на объекте. [c.10]

Швекендик [84] изучал ориентированную коагуляцию аэрозоля окиси железа, которая наблюдается не только в коллоидных растворах, но и в аэрозолях. Аэрозоль, полученный сжиганием паров пентакарбонила железа, не отличался устойчивостью в ультрамикроскопе наблюдалось агрегирование уже спустя /2 часа после его получения. Перед исследованием в электронном микроскопе частицы аэрозоля осаждали на пленку и сверху покрывали влан ной коллодиевой пленкой, которая после высыхания фиксировала частицы. Таким образом устранялась возможность перемещения частиц в магнитном поле объективной линзы микроскопа. На микрофотографиях были обнаружены хорошо ориентированные, без разветвлений, цепочки из частиц размером 0,05—1 р,. Многие частицы имели форму правильных шестиугольников вероятно, это были частицы окиси или карбоната железа. Интересное явление наблюдалось при рассматривании в ультрамикроскоп аэрозоля, помещенного между пластинами конденсатора при изменении знака заряда электродов агрегаты частиц, представлявшиеся в виде группы светящихся точек, совершали змееподобные движения в ритме частоты тока, подведенного к конденсатору. Нет оснований считать, что агрегаты.частиц представляли собой диполи ввиду заметной электропроводности кристаллов. Наиболее вероятное объяснение состоит в том, что частицы являлись маленькими магнитами, которые при старении аэрозоля располагались в цепочки, осуществляя, таким образом, ориентированную агрегацию. [c.156]

Электронный микроскопэто оптический прибор для получения увеличенных изображений небольших частиц или малых областей объектов. Изображение образуется пучком электронов линзами служат электростатические и магнитные поля. [c.244]

Смотреть страницы где упоминается термин Линза магнитная: [c.296] [c.448] [c.98] [c.161] [c.149] [c.150] [c.111] [c.46] [c.199] [c.200] [c.252] [c.213] [c.16] [c.284] [c.68] [c.88] [c.36] [c.136] [c.202] [c.43] [c.253] [c.26]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология