Электрические линзы

Молекулы анализируемого вещества ионизируются в ионизационной камере 1 источника ионов под действием электронов, испускаемых накаленным катодом 2. Некоторые твердые вещества с малой упругостью пара могут ионизироваться методом так называемой поверхностной ионизации с использованием явления термоионной эмиссии, когда слой анализируемого вещества наносится на накаленную поверхность металла. Образовавшиеся положительные ионы ускоряются в продольном электрическом поле (ускоряющая линза 5) и фокусируются в узкий пучок прямоугольного сечения системой электрических линз, состоящей из вытягивающего электрода 4 и отклоняющего электрода 3. Ионный пучок содержит ионы всех атомов и молекул, находящихся в области ионизации. В камере анализатора магнитное поле разделяет пучок на ионные лучи, отличающиеся друг от друга отношением массы ионов к их заряду. [c.4]

Оптические свойства каждой данной оптической линзы, в частности показатель преломления её материала и связанное с ним и с геометрической формой фокусное расстояние, изменит в готовой линзе нельзя. Фокусное расстояние электрической линзы можно изменять в широких пределах, изменяя напряжение между электродами электроннооптической системы. Поэтому в электронной оптике можно создать показатели преломления , во много раз большие, чем показатели преломления оптических сред. [c.185]

Электрические линзы. На рис. 62 приведена схема тонкой электрической линзы и эквивалентной ей оптической линзы в реальном для электрической линзы случае непрерывного возрастания потенциала слева направо. Эквивалентная оптическая линза должна граничить в этом случае с двумя различными средами. Показатель преломления левой среды меньше, а показатель правой среды больше, чем показатель преломления вещества линзы. [c.186]

Представленная на рис. 62 электрическая линза осуществлена путём комбинации двух диафрагм, находящихся при разных потенциалах Fl и Вне линзы поле принято постоянным и потенциал на каждой стороне принят равным потенциалу соответствующей диафрагмы. Стелками показано направление движения электронов, первоначально двигающихся с той и с другой стороны параллельно оси симметрии линзы. [c.186]

Уравнения (48,13) и (48,19) являются наиболее существенными уравнениями электронной оптики в той её части, которая касается электрических линз. Из них можно вывести все основные свойства последних. Распределение потенциала вдоль оси линзы, которое необходимо знать для использования уравнений [c.191]

Основными экспериментальными методами исследования электрических линз и определения их параметров являются следующие. [c.191]

Поэтому теми же приёмами, как это было сделано в случае электрических линз, для распреде.т[(шия потенциа.ла находим [c.196]

Рис. 70. Схема электронного микроскопа с электрической фокусировкой. К—источник электронов >—диафрагма О—объект Ьу—электрическая линза, служащая объективом 7,—первичное изображение — проекционная электрическая линза /а—изображение на флуоресцирующем экране 5.

Течеискатель своей вакуумной частью присоединяется к испытываемому сосуду, который снаружи обдувается гелием. Молекулы гелия, проникая через негерметичные места испытываемого сосуда, поступают в анализатор и, следовательно, в коробку ионизатора ионного источника. В коробке ионизатора молекулы газа, в том числе и гелия, подвергаются ионизации потоком электронов (рис. 13.7). Образующиеся ионы вытягиваются из ионизатора, фокусируются в пучок и ускоряются в область анализатора с помощью системы электрических линз. Для анализа газов по массам применен анализатор с 180 градусной фокусировкой ионного луча полем постоянного магнита (рис. 13.8). [c.258]

В оптике можно пользоваться топкими линзами . Фокусное расстояние этих линз откладывается в ту и в другую сторону от центра линзы. При геометрическом построении пучков световых лучей, проходящих через тонкую линзу, можно пользоваться лучами, проходящими через центр линзы. В электронной оптике полного аналога тонкой линзы нет или, точнее говоря, тонкие электронноонтические линзы являются очень несовершенными, и ими мало пользуются. Прп построенип изображения, даваемого электрической линзой, приходится определять положение так называемых главных плоскостей толстой линзы и откладывать фокусные расстояния не от центра линзы, а от точек пересечения этих плоскостей с осью симметрии линзы. [c.185]

В оптике в подавляющем числе случаев по обе стороны от линзы находится одна и та же среда (воздух) с постоянным показателем преломления. В электронноонтическпх системах потенциалы по обе стороны от линзы, как правило, неодинаковы. Поэтому для электрической линзы фокусное расстояние зависит от направления движения электрического пучка, и у каждой линзт. два фокусных расстояния—по одному для каждой её стороны. Это приводит к тому, что электронная линза характеризуется четырьмя параметрами положениями двух главных плоскостей и двумя фокусными расстояниями. [c.185]

Обратимся к траектории электрона в гпо.гстой электронной. шнзе. Проведём через центр электронной линзы плоскость нернендикулярную к оси линзы (рис. 63), п назовём её для крат-ности средней плоскостью. Расстояние главных плоскостей электронной линзы от средней плоскости принимается равным расстояниям точек пересечения прямолинейного продолжения той части каждого из главных лучей, которая параллельна оси линзы, и касательной к главному лучу в точке пересечения им оси (или соответствующего прямолинейного продолн ения луча, если фокус лежит в области постоянного потенциала вне поля линзы). Поэтому, хотя траектория электрона в электронной линзе и яв-.чяется криволинейной, построение изображения, даваемого электрической линзой, производится так же, как в геометрической оптике. Таким образом, основной задачей теории электронных. шнз является нахождение фокусных расстояний и / g и расстояний Pj и главных плоскостей и Н от центра линзы. [c.187]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология