Карта дефектов

Простая иллюстрация статистической обработки данных в медицинской ИК-термографии приведена на рис. 8.5 (См. цветную вкладку) (фирма "Инновация", Россия). Оператор выделяет на термограмме две области, покрывающие интересующие его зоны (на рис. 8.5, а, б для наглядности показаны прямоугольные зоны), после чего оценивают степень статистического совпадения зон. Например, у здорового пациента (рис. 8.5, а) отношение сигнал/шум S = 0,064, что говорит об идентичности температурных распределений в зонах. Рак левой молочной железы III степени (рис. 8.5, б), сопровождающийся некрозом тканей и резким понижением температуры, приводит к значению S = 3,45, что свидетельствует о резком различии температурных распределений. Карта дефекта на рис. 8.5, в отчетливо показывает пораженный орган. [c.264]

Пример карт дефектов, полученных при ТК образца из углепластика (см. [c.264]

При оптимизации по дефекту "Точка" максимальное значение отношения сигнал/шум было получено в изображении полиномиального коэффициента (рис. 9.19, а, 5 = 5,79). Результирующая карта дефекта характеризовалась = 100 % и Р,. = 3 % (рис. 9.19, б). Следует отметить, что в оптимальном по данному дефекту исходном изображении величина 5= 1,2. [c.295]

Рис. 9.10. Фрагмент торца жилого панельного дома и карта дефектов

Тепловые томограммы получают "расслаиванием" таймограммы. Иными словами, в томограмме отражены только те пиксели таймограммы, которые характеризуются значением в выбранном интервале. .. В ряде случаев производят бинаризацию томограмм, превращая их в карты дефектов. Теоретически, максимальное число слоев, которые можно выделить в твердом теле, должно быть равно числу изображений в последовательности, однако на практике, в силу шумов и конечного температурного разрешения тепловизора, толщина выделяемого слоя увеличивается с возрастанием глубины, и число различаемых слоев, как правило, не превышает 4. .. 6. [c.137]

Карта дефектов представляет собой бинарное изображение (binary, hit-miss), в котором единичный пиксель приписывают дефектным зонам, а нулевой - бездефектным. Карты дефектов, построенные для конкретной области на поверхности объекта контроля, характеризуются статистическими показателями Pf и P ,d, которые возникают после введения порога бинаризации (порога принятия решения). В НК чаще всего используют критерий принятия решения Неймана-Пирсона, согласно которому задают требуемое значение Руа, что эквивалентно заданию порога принятия решения после чего определяют P .d- Простейший алгоритм построения карты дефектов можно выразить следующим условием [c.264]

Другой пример развитой компьютерной обработки данных приведен на рис. 9.15. Представлены бинарные карты дефектов, позволяющие также оценить поперечные размеры дефектов. Изображение, полученное на основе таймограммы без трехмерной нормализации, содержит артефакты, соответствующие темным (перегретым) областям (рис. 9.15, а), в то время как после фильтрации обнаруживаются даже "слабые" дефекты, отчетливо видные на двух последовательных тепловых томограммах рис. 9.15, б, в. [c.294]

Образец нагревали лампами с энергией около 1500 Дж/м в импульсе длительностью 10 мс. Записывали до 300 термограмм с интервалом 20 мс (эксперименты вьиюлнены в СЕ81, Италия). Дефекты проявлялись оптимальным образом через 0,9 с после нагрева (рис. 9.35, а), однако при этом отношение сигнал/шум было < 1 и карта дефектов обнаруживала только два дефекта при большом уровне ложной тревоги. На фазограмме рис. 9.35, 6 видны все четыре дефекта, а также зоны с различной толщиной покрытия. Карта дефектов также показывает все дефекты с [c.319]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология