Аппаратура для микроскопических измерений

Аппаратура для микроскопических измерений [c.333]

Впервые подобные измерения проведены на микроскопических горизонтальных пенных пленках Дерягиным и Титиевской [118—120]. Применяемая в этих работах аппаратура схематически изображена на рис. 25. Два воздушных пузырька / и 2 посредством стеклянных рамок 3 4 приводили в соприкосновение друг с другом в исследуемом растворе 5. Равновесные толщины измеряли методом интерференции света. Расклинивающее давление пленки компенсировали внешним давлением, которое отсчитывали по манометру 6. [c.63]

Применении воды, былп на 20—40% выше, чел1 в слл"-чае воздуха. Определение поверхности седиментацион-ным методом Андризена [5о] хорошо совпало о данными проницаемости по воздуху, Гуден и Смит[ ] применили самозаписывающую аппаратуру для определения проницаемости воздуха и измерения средних диаметров частиц порошков кварца. При сравнении с микроскопическим методом обнаружилось хорошее совпа-ден11е вплоть до частиц с диаметром в Зд, однако для более мелкой фракции (0,3—Зд) метод проницаемости по воздуху дал величины, на 58% превосходящие микроскопические. [c.414]

Для планарной (плоскостной) технологии характерно, что на пластинке германия или кремния выращивают тысячи одинаковых диодов или триодов, прибегая к микроскопическим приемам работы. Следующим крупным шагом явилось создание интегральных схем при тех же приемах на общей пластинке изготовляют комплекты разных полупроводниковых приборов и соединений между ними. Диоды и триоды могут иметь разные размеры, неодинаковое количество активных примесей, различные электрические характеристики. Дальнейшее уменьшение массы и габаритов достигается путем изготовления на одной пластине разных интегральных схем и их соединений. Это составляет большую интегральную схему (БИС). К ней примыкает функциональная схема, которая, как и БИС, способна выполнять функции множества приборов. Эти кристаллы — подлинные агрегаты, где сотни активных элементов — диодов и триодов, а также пассивных элементов в виде резисторов (сопротивлений), емкостей и индуктивностей с высокой точностью распределены в трех пространственных измерениях. Они заменяют блоки прежней радиоэлектронной аппаратуры, на них работают ЭВМ третьего поко- [c.171]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология