Микроанализ поверхностных процессов

Б. Микроанализ поверхностных процессов [c.79]

Л. а. субмикронных и поверхностных слоев проводят методами рентгеноспектрального анализа (см. Электронно-зондовые методы), катодолюминесцентного микроанализа, спектроскопии рассеяния быстрых ионов (резерфордовского рассеяния), масс-спектрометрии вторичных ионов в динамич. режиме, оже-спектроскопии и др. При послойном анализе субмикронных слоев без разрушения образец бомбардируют заряженными частицами (электронами, ионами). В зависимости от их энергии меняется глубина, на к-рой происходят процессы, приводящие к появлению аналит. сигнала - рентгеновского излучения, резонансных ядериых р-ций, резерфордовского рассеяния и др. Послойный анализ можно также проводить, варьируя угол отбора, т.е. угол, под к-рым к исследуемой пов-сти располагается приемник аналит. сигнала. [c.610]

Заключение о важной роли транспортных процессов в кинетике СР сплавов не является, тем не менее, общепринятым.- Остановимся на экспериментальны исследованиях, результаты которых свидетельствуют, казалось бы, об отсутствий диффузионной зоны В сплавах, подвергнутых селективному растворению. К примеру, при изучений поверхностного слоя сплавов систем Mg—Сс1 (11- 51 ат.% Mg [52]) и Мп—Си (25 и 50 ат.% Мп [56]) методом рентгеновского микроанализа в их спектре не обнаружены линии, отвечающие составам, промежуточным между исходным и чистым электроположительным компонентом. Зафиксированы лишь, ийтенсивные линии меди и кадмия. Аналогичным образом на электронных дифрактограммах а-латуни после травления в 2%-ном ЫН4С1 за,регистрированы только рефлексы чистой меди [53]. [c.44]

Элементарный поверхностный микроанализ. Идентификация твердых фаз, входящих в исследуемую систему, с помощью дифракции электронов часто бывает очень полезной. Кроме того, процесс наблюдения поверхности зерен в электронном сканирующем микроскопе может быть дополнен количественным элементарным микроанализом, если в аппаратуру включить рентгеновский спектрометр с пропорциональным счетчиком. Такое сочетание, использующее принцип микрозонда Кастэнга [55], позволяет производить либо точечный анализ серии элементов, либо распределение одного из элементов вдоль линии сканирования. Исследования порошкообразных образцов с помощью этого метода могут стать хорошим дополнением к собственно кинетическим измерениям. [c.78]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология