Принцип работы электронного проектора

Принцип работы электронного проектора [c.108]

Существует еще одна трудность, касающаяся учета влияния единичного адсорбированного атома или молекулы на работу выхода поверхности. Концентрация как таковая не поддается непосредственному измерению в электронном проекторе. Например, если при адсорбции работа выхода уменьшается, а в эмиссионной картине преобладает одна из кристаллических областей, то в принципе такая ситуация возможна либо потому, что в этих местах выше концентрация адсорбированного вещества, либо потому, что выше поправка на работу выхода (отнесенная к одному адсорбированному атому), или же вследствие комбинации обоих этих эффектов. Пока еще нет способа количественного разделения этих факторов, и даже качественное различие возможно лишь в немногих частных случаях. [c.172]

Несмотря на широкое применение и бесспорную ценность, этот метод имеет значительные недостатки [347]. Прежде всего измерения поверхностных потенциалов этим методом фактически ограничиваются областью давлений ниже 10 мм рт. ст. Во-вторых, при использовании некоторых адсорбатов, в частности кислорода, имеется вероятность химического воздействия на горячую нить катода, который почти всегда делается из вольфрама. Такое воздействие приводит к искажению результатов. И, наконец, некоторые из изучаемых реакций на поверхности (скажем, нри исследовании адсорбции смешанных адсорбатов) неопределенным образом зависят от концентрации неизбежно присутствующих электронов. Все эти затруднения полностью отпадают нри использовании методов измерения работы выхода, основанных на принципе конденсатора, и устраняются в большей или меньшей степени при использовании методов электронных проекторов. [c.127]

В отечественной литературе описание принципа действия и устройства различных электронных микроскопов имеется в книге Сушкина [8], в обстоятельной монографии под редакцией Лебедева [9], в обзорной статье Кушнира [10], где разбираются советские электронные микроскопы (в том числе и последние модели). Обзорный материал относительно электронных и ионных проекторов имеется в статье Третьякова [И]. Поэтому указанные вопросы здесь рассматриваться не будут, и мы ограничимся приведением табл. 1, в которой даны характеристики советских электронных микроскопов (согласно [10]), а также табл. 2, в которой собраны характеристики ряда зарубежных микроскопов [12]. В периодической печати имеется детальное описание советских электронных микроскопов УЭМБ-100 [13, 14] и ЭМ-5 [15], а также уникального высоковольтного микроскопа на 400 кв [16]. Обзор современных зарубежных электронных микроскопов имеется в статье Руска [17]. Обстоятельное описание одного из лучших современных приборов — Эльмископ I — содержится в статье [18], где рассматривается также ряд вопросов, возникающих при работе с микроскопом высокого разрешения. Характеристика общего состояния электронной микроскопии в Японии и сведения [c.4]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология