Микроскопия с высоким разрешением

МИКРОСКОПИЯ С ВЫСОКИМ РАЗРЕШЕНИЕМ [c.24]

Важным видом мебранного соединения в нервной системе является так называемый щелевой контакт (gap jun tion). Здесь внешние листки разделены щелью в 2—4 нм, в результате чего образуется семислойный комплекс (рис. 5.4 и 5.5). В некоторых случаях отмечена корреляция между наличием таких соединений и физиологическими данными о низкоомной электрической связи между двумя нейронами. В связи с этим такие соединения относят к электрическим синапсам. Диаметр такого соединения варьирует от 0,1 до 10 мкм. При наблюдении в микроскоп с высоким разрешением под каждой из контактирующих мембран заметно какое-то плотное вещество. Можно показать, что эти мембраны входят в состав двух систем каналов, одна из которых непрерывно переходит в межклеточное пространство, а другая соединяет обе клетки. Электрические синапсы— распространенный вид межнейронных связей у беспозвоночных и низших позвоночных. Они были также обнаружены в нескольких участках мозга млекопитающих. Щелевые контакты имеются не только между нейронами, но и между клетками многих других типов. В табл. 5.1 перечислены некоторые [c.112]

Все сказанное выше относительно метода оттенения остается справедливым, пока работают с электронными микроскопами, обладающими разрешающей способностью около 30—50 А. Однако применение современных электронных микроскопов с высоким разрешением позволило установить, что практически все напыленные слои в той или иной степени обладают зернистой структурой. Это вполне естественно, так как из общих соображений следует, что атомы металлов, нанесенные на подложку, проявляют тенденцию к агрегированию (см. стр. 208). Величина агрегатов в первую очередь зависит от относительной величины энергии взаимодействия наносимых атомов между собой и атомов с поверхностью, т. е. от природы атомов и поверхности, а также степени однородности поверхности, в частности ее топографии. Очевидно, нанример, что на гладкой поверхности скола монокристалла атомы, характеризующиеся слабым взаимодействием с поверхностью, будут мигрировать по ней и образовывать сравнительно крупные агрегаты. Кроме того, имеет значение температура подложки, угол падения атомов относительно поверхности и скорость испарения металла. [c.86]

Неалмазную фазу в поликристаллических алмазных пленках часто называют графитом, но это утверждение не совсем точно. Неалмазная фаза — это прежде всего разупорядоченный углерод межкристаллитных границ. Его удается непосредственно наблюдать на поверхности алмаза с помощью электронного микроскопа с высоким разрешением [41] или рамановского микрозонда [42] толщина межкристаллитных границ в алма,зных пленках достигает нескольких нанометров. Помимо этого, в алмазных пленках присутствуют различные дефекты кристаллической решетки. В ряде случаев поверхность алмазной пленки покрыта тонким (порядка нескольких нанометров) слоем неалмазного углерода, кото- [c.18]

Использование электронной микроскопии с высоким разрешением позволило понять ультраструктурную основу этого взаимодействия на толстых филаментах удалось увидеть множество боковых отростков, образующих поперечные мостики между толстыми филаментами и расположенными на расстоянии 13 нм от них тонкими филаментами (рис. 10-6). В настоящее время известно, что при сокращении мышцы толстые и тонкие нити перемещаются относительно друг друга именно с помошью этих поперечных мостиков, которые работают циклично, подобно рядам миниатюрных весел. Взаимодействующие белки тонких и толстых филаментов были вьщелены и охарактеризованы, получив соответственно названия актин (этот белок содержится в цитоскелетных структурах в наибольших количествах) и миозин (он обычно встречается в ассоциации с актином в клеточных структурах, ответственных за подвижность). Практически все, что мы знаем сейчас об этих двух важных белках, имеющихся почти во всех эукариотических клетках, является результатом изучения актина и миозина, экстрагированных из мышечной ткани. [c.78]

Возможен и другой крайний случай размеры областей неоднородности гораздо меньше длины волны белого света, а пока а-тели преломления обеих жидких фаз практически неразличимы. Тогда свет не рассеивается на границах фаз, и стекло кажется оптически прозрачным и гомогенным. Чтобы исследовать неоднородность стекла, в этом случае необходимо использовать электронный микроскоп с высоким разрешением. Примером стекла, имеющего такую структуру, является стекло состава 20% N320+80% SiOs. [c.200]

Обычно авторадиограммы изучают с помощью обычного микроскопа. Люсьен Каро и Роберт ван Тюберген разработали метод, позволяющий использовать электронный микроскоп с высоким разрешением. Для этого необходимо применять очень тонкий слой эмульсии, который бы не препятствовал наблюдению образца в электронный микроскоп. Тонкий срез ткани или клетку, заделанную в пластмассу и адсорбированную на решетке для электронного микроскопа, погружали в эмульсию, разбавленную настолько, чтобы наносился только монослой кристаллов галогенида серебра. При этом использовали очень мелкие (<0,1 мкм) кристаллы. После экспонирования и проявления срез ткани окрашивали уранилацетатом и изучали с помощью электронного микроскопа (рис. 6-12). Такой метод позволяет получить разрешение до 0,1 мкм. До сих пор метод использовали редко, но он явно заслуживает большего внимания. [c.149]

Тщательный анализ причин возникновения зернистости на снимках микрофибрилл целлюлозы проведен в работе [52]. В микроскопе с высоким разрешением исследовали ультратон-кие срезы, подвергнутые негативному контрастированию. Автор [c.104]

Были определены параметры пиков (положение и интенсивность, которые затем были сравнены с базой данных (табл. 6). Оказалось, что дифракционные параметры в спектрах нашего образца очень хорошо совпадают с параметрами фазы диоксида кремния, описываемой как деалюминированный цеолит Y-ти-па. Никаких изменений в данной фазе в процессе старения не происходит. Дополнительный аргумент в пользу такого отнесения был получен при анализе изображений просвечиваюшей электронной микроскопии с высоким разрешением (рис. 17). На этом изображении хорошо видны межплоскостные расстояния в 1,4 нм, характерные для SiO в (111) направлении. [c.34]

Многие исследователи изучали субструктуру ВТМ при помощи электронной микроскопии с высоким разрешением. Наблюдавшаяся при этом периодичностьДне согласующаяся о данными рв1Игеноструктурного анализа, объясняется образованием грунн субъединиц в процессе высушивания препаратов при подготовке их для исследования в электронном микроскопе см., нанример, [690]). [c.91]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология