Интерференционные и дифракционные явления, используемые в рефрактометрии

Наряду с описанными дифракционными явлениями в рефрактометрии используется интерференция света, происходящая при наложении широких световых пучков, в условиях, когда влияние диафрагм на распределение интенсивности света пренебрежимо мало. К подобного рода случаям относится интерференция световых волн, отраженных от противоположных поверхностей прозрачных пластин, или слоя жидкости, зажатой между пластинами. При этом различают два вида интерференционных полос полосы равного наклона и полосы равной толщины. [c.221]

Рассмотренный выше случай возникновения интерференционных полос характеризуется проникновением света в область геометрической тени экрана, т. е. дифракцией света. Дифракционные явления происходящие на конечных расстояниях от источников и экранов, были исследованы Френелем и носят его имя. Начиная с 1919 г. дифракция Френеля с большим успехом применяется в рефрактометрии. Значительно ранее получили распространение интерференционные рефрактометры, в которых используется другой вид дифракции, связанный с именем Фраунгофера. Для осуществления дифракции Фраунгофера точечный источник или ярко освещенная щель помещается в фокальной плоскости объектива коллиматора 1 (рис. Х1.2). Дифракционная картина образуется в фокальной плоскости другого объектива 2, где собираются пучки параллельных лучей, частично загораживаемых экраном Лг между объективами. Щели О] и Ог являются центрами вторичных шаровых волн. Интенсивность света в некоторой точке Р ( окальг ной плоскости объектива зависит от разности хода собирающихся в ней лучей. Последняя для лучей, идущих под углом <р к первоначальному направлению, равна А=аз1пф, где а — расстояние между щелями О1 и Ог. Таким образом, в ряде точек, отвечающих [c.186]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология