Интерференционные полосы равного наклона

Наряду с описанными дифракционными явлениями в рефрактометрии используется интерференция света, происходящая при наложении широких световых пучков, в условиях, когда влияние диафрагм на распределение интенсивности света пренебрежимо мало. К подобного рода случаям относится интерференция световых волн, отраженных от противоположных поверхностей прозрачных пластин, или слоя жидкости, зажатой между пластинами. При этом различают два вида интерференционных полос полосы равного наклона и полосы равной толщины. [c.221]

В приборе, где чувствительным элементом является длина волны, она же является и мерой длины таким образом, интерферирующие пучки, воспринимаемые прибором, несут в себе разность хода, пропорциональную измеряемому расстоянию и определяемую по интерференционной картине (полосам) в регистраторе. Разность хода между интерферирующими пучками может определяться по полосам равной толщины или равного наклона. [c.80]

Параллельные лучи разных направлений дают в фокальной плоскости линзы L интерференционную картину, представляющую собой полосы равного наклона. За счет высоких порядков интерференции интерференционные полосы очень узки. Приборы, построенные на этом принципе, обладают малым свободным спек-тральным интервалом и малой приборной шириной. [c.9]

На рис., 28, а приведена одна из схем Фурье-спектрометра. Исследуемое излучение падает на входное отверстие интерферометра Майкельсона через выходное отверстие можно увидеть интерференционную картину полос равной толщины или полос равного наклона в зависимости от настройки интерферометра. Если зеркало интерферометра 5 параллельно изображению зеркала 8 , то можно видеть полосы равного наклона. Результирующая интенсивность на выходе прибора будет зависеть от разности хода Д, [c.51]

При рассмотрении полос равного наклона игнорировался вклад в интерференцию лучей, испытавших более двух отражений, что справедливо при, малой отражательной способности поверхностей. Особым случаем получения полос равного наклона является интерференция многих лучей, претерпевших многократное отражение на гранях пластинки с нанесенными для этой цели покрытиями, имеющими высокий коэффициент отражения. Как показывает теория [1], при многолучевой интерференции полосы равного наклона получаются значительно более резкими и точность интерференционных измерений существенно повышается. [c.215]

Всякая другая пара лучей (5 г и 82 ), образованная лучом 2, параллельным лучу Si, также соберется в точке I с прежней разностью хода А (XI.5). Следовательно, интенсивность света в точке I зависит от величины соответствующего этой точке угла i, а интерференционная полоса данного порядка образуется лучами, одинаково наклоненными к пластине Р. Полосы равного наклона используются при абсолютных измерениях показателей преломления прозрачных пластин. Эти полосы используются также в ряде [c.187]

Радикальная модификация метода, основанная на комбинации интерференции и развертки наклонной диафрагмой ( нож , струна или щель) и позволяющая тем самым одновременно получить на фотопластинке функции п х) и Wn x), принадлежит Свенссону [34]. Вместо точечной диафрагмы здесь применяется растр, который в случае системы скрещенных щелей играл бы роль горизонтальной диафрагмы. В рэлеевском интерферометре, однако, этот растр дает начало многополосной системе высокой интенсивности. Подробности монтажа имеются в статьях Свенссона [34]. Подобная система регистрирует изображение типа, приведенного на рис. XIV, 11. Форма интерференционных полос соответствует распределению показателя преломления в кювете, а внешний контур тени — распределению градиента показателя преломления. Расстояние между двумя последовательными полосами равно [c.301]

Рис. 14.4. Интерференционные полосы, развернутые в спектр а) горизонтальные полосы (разность хода равна нулю), б) кривые дисперсии, образующиеся при введении в одно плечо интерферометра исследуемых паров (Мп, ЯЛ 4031—33—34А), в) наклонные полосы, образующиеся при введении в другое плечо интерферометра пластинки Р, г) — крюки у линий поглощения (введены и пары и пластинка).

Изгибы кристаллической фольги приводят к тому, что в некоторых участках будет точно выполняться условие Вульфа—Брэгга и в светлопольном изображении эти участки имеют вид темных полос изгибных экстинк-ционных контуров. В случае кристалла переменной толщины (например, у края фольги или на наклонной границе зерен могут наблюдаться полосы, рис. 20.10, связанные с интерференцией электронов—толщинные экстинкционные контуры или интерференционные полосы равной толщины). [c.445]

В таких случаях применяются интерферометры типа Жамена (1856) , характеризующиеся возможностью значительно больщего разведения когерентных лучей и высокой яркостью интерференционных полос. В интерферометре Жамена раздвоение потока лучей выполняется при помощи точно плоскопараллельной пластины 1 (рис. XI, 5), изготовленной из однородного оптического стекла. Луч S после отражения и преломления на передней и задней (посеребренной) плоскостях образует два параллельных когерентных луча Si и 5г. Эти лучи проходят через соответственные кюветы с газами или жидкостями 5 и 4 и отражаются от плоскостей пластины 2, в точности такой же, как пластина 1. Из образовавшихся четырех лучей S l, S [, S z и S l два луча Si и Si направляются в сфокусированную на бесконечность зрительную трубу (на рисунке не показана). Если пластины 1 и 2 параллельны друг другу, то, независимо от наклона лучей Si и S2, разность их хода равна нулю. В этом случае поле зрения имеет равномерную освещенность. При небольшом изменении ориентации пластин компенсация разности хода в них нарушается. Остаточная разность хода меняется в зависимости от наклона лучей. При протяженном источнике в поле зрения возникает равномерный ряд полос равного наклона . В монохроматическом свете одинаково хорошо видны полосы и низких и высоких порядков. Их ширина увеличивается с уменьшением угла между пластинами. В белом свете можно различить ахроматичную полосу и несколько максимумов первых порядков . [c.217]

В таких случаях применяется интерферометр типа Жамена, характеризующийся возможностью значительно большего разведения когерентных лучей и высокой яркостью интерференционных полос. В интерферометре Жамена раздвоение потока лучей выполняется при помощи точно плоскопараллельной пластины 1 (рис. XI.6), изготовленной из однородного оптического стекла. Луч 5 после отражения и преломления на передней и задней (посеребренной) плоскостях образует два параллельных когерентных луча 5] и 5г. Эти лучи проходят через соответственные кюветы с газами или жидкостями 5 и 4 и отражаются от плоскостей пластины 2, в точности такой же, как пластина 1. Из образовавшихся четырех лучей 5/, 51", 5/ и 5г" два луча 5/ и 5г направляются в сфокусированную на бесконечность зрительную трубу (на рисунке не показана). Если пластины / и 2 параллельны друг другу, то, независимо от наклона лучей 5,1 и 5г, разность их хода равна нулю. В этом случае поле зрения имеет равномерную освещенность. При небольшом изменении ориентации пластин компенсация разности хода в них нарушается. Остаточная разность хода меняется в зависимости от наклона лучей. При протяженном источнике в поле зрения возникает равномерный ряд полос равного наклона. В монохроматическом свете одинаково хорошо видны полосы и низких и высоких порядков. Их ширина увеличивается с уменьшением угла между пластинами. В белом свете можно различить ахроматичную полосу и несколько максимумов первых порядков. Однако значительное разведение интерференционных пучков в интерферометре Жамена требует использования очень толстых пластин, имеющих чрезвычайно высокую оптическую однородность и обработанных с высочайшей точностью, что сложно реализовать на практике. Большое разведение интерферирущих световых пучков достигается в интерферометрах Маха — Цендера, схема которых аналогична схеме интерферометра Жамена, но каждая из-толстых плоскопараллельных пластин заменена комбинацией полупрозрачной пластинки и плоского зеркала. В тех случаях, когда требуется весьма значительное удаление интерферирующих пучков, например, для исследования однородности больших стеклянных пластинок, нагретых или сильно охлажденных тел, для наблюдения конвекционных потоков воздуха, кювет со сравниваемыми веществами и т. д., удобен интерферометр Майкельсона" (рис. XI.7). Падающий луч 5] разделяется полупосеребренной пластинкой 1 на два когерентных луча, один из которых направ- [c.191]

Принцип компенсационных измерений разности показателей преломления. Положение видимой в окуляр верхней системы интерференционных полос зависит от разности хода лучей, проходящих через кювету и компенсатор. В том случае, когда камеры кюветы наполнены одним и тем же веществом, а пластины компенсатора установлены параллельно друг другу, суммарная разность хода лучей равна нулю и верхняя система полос с ахроматичной полосой в центре располагается точно над нижней (рис. XI, 13, а). Если же камеры кюветы наполнить веществами с разными показателями преломления, то верхняя система полос смещается, как показано на рис. XI, 13, Ь и с. Изменяя с помощью микрометрического винта наклон одной из пластин компенсатора, можно создать в нем разность хода лучей, равную по абсолютной величине и противоположную по знаку разности хода в камерах кюветы. При этом суммарная разность хода вновь станет равной нулю и верхняя система полос вернется в исходное положение (рис. XI, 13, а). Произведенное смещение микрометрического винта служит мерой, вносимой компенсатором разности хода лучей и, следовательно, разности показателей преломления сравниваемых веществ. Для вычисления последней надо знать соотношение между показаниями шкалы микрометрического винта и разностью хода лучей в компенсаторе, выражаемой числом длин волн М. В компенсаторе данной конструкции зависимость между М и отсчетом по шкале Т не линейна и для ее установления требуется детальная градуировка, описываемая ниже (стр. 227). Число /V, определяемое по градуировочной таблице, подставляется в расчетную формулу [c.224]

Тангенс угла наклона прямой равен а = аЧц1/40, откуда находят О, а затем по начальной ординате определяют исходную концентрацию (или разность концентраций, если измерялся дифференциальный коэффициент диффузии), соответствующую (Ап)о (числу интерференционных полос). Начальная ордината, как можно показать, равна [c.298]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология