дифракционных явлений

Крепость микрообъектов определяют по направлениям, где они имеют большую величину. Минимальные размеры частиц, различимых по данному методу, по-видимому, ограничены длиной световой волны. Однако смещение осветителя относительно оптической оси микроскопа усиливает дифракционные явления на краях микрообъектов, что позволяет несколько расширить разрешение прибора и фиксировать частицы размером около 0,3-0,4 мкм. [c.33]

Светорассеяние, или опалесценция, принадлежит к дифракционным явлениям, обусловленным неоднородностями, размеры которых меньше длины волны падающего света. Такие неоднородности рассеивают свет во всех направлениях. Теория светорассеяния (опалесценции) впервые была развита Рэлеем. В ее основе лежит уравнение для интенсивности света /р, рассеянного единицей объема дисперсной системы со сферическими диэлектрическими частицами, значительно меньшими длины [c.111]

Таким образом, свет ведет себя в одних явлениях как периодически распределенный в пространстве процесс (волна), а в других — как частица (фотон). Это противоречие волна — частица распространяется и на частицы. Действительно, оказалось, что электроны дают дифракционные явления как на искусственных дифракционных решетках, так и на кристаллических телах. [c.545]

Позднее аналогичные дифракционные явления были обнаружены для пучков атомов и молекул, например, атомов гелия, отраженных от кристаллов нейтронов от кристаллических решеток и др. [c.546]

Конечно, уменьшать ширину щели можно лишь до тех пор, пока этому не положат предел дифракционные явления. Однако практический предел ширины щели может быть достигнут еще раньше из-за потерь света на щели. [c.129]

На фиг 15—17 наряду со значительно размытыми контурами наблюдаются интерференционные полосы, обусловленные дифракционными явлениями. Количественная расшифровка таких теневых фотографий представляет значительные трудности (см. также разд. 3.4). Тем не менее приведенные фотографии качественно подтверждают теорию, изложенную в предыдущем разделе. [c.38]

Как можно видеть, например, из приведенного описания теневых методов и фиг. 14—17 (гл. 2), дифракционные явления ограничивают чувствительность и в некоторых случаях область применения оптических методов. [c.48]

Разработаны и специализированные приборы для толщинометрии на базе дифракционных явлений. Примером может служить прибор для измерения диаметра тонкой проволоки 2—20 мкм с погрешностью не более 1%. Если поместить провод на пути лазерного пучка с диаметром больше максимального диаметра провода, то на (Некотором расстоянии от него будет наблюдаться дифракционная артина в виде пятен с убывающей от центра яркостью, расстояние между которыми пропорционально отношению длины волны к диаметру провода. Отсчитав с помощью цифрового устройства расстояние от центра картины до выбранного пятна света (обычно до 8—15), путем пересчета получают значение диаметра провода. [c.264]

Совсем иным -получается дифракционное явление в случае наличия такой упорядоченности. Положим, что ряды расположены параллельно друг другу и их совокупность дает некоторую правильную сетку с периодами а и Ь. Тогда и для [c.46]

Следующее очень важное дифракционное явление заключается в образовании сильного фона под очень большими углами с соответствующим уменьшением интенсивностей дифракционных линий. Объясняется оно следующим образом. [c.95]

Дифракционные явления приводят к рассеянию энергии и появлению вторичных максимумов [10], однако [c.76]

Если бы прибор не вносил искажений в спектральное распределение энергии этого идеализированного источника, то на выходе прибора мы получили бы ряд бесконечно узких спектральных линий. В действительности же образованные спектральным прибором линии, даже если они соответствуют монохроматическому излучению, всегда имеют конечную ширину. Это связано со следующими обстоятельствами 1) спектральная линия является изображением входной щели, которая в реальном приборе всегда имеет конечную ширину 2) дифракционные явления в приборе уширяют геометрическое изображение 3) аберрации и дефекты оптической системы приводят к дальнейшему уширению изображения 4) регистрирующее устройство в свою очередь расширяет изображение, даваемое прибором. [c.14]

Увеличение линейной дисперсии спектрографа в большинстве случаев ведет к снижению относительных пределов обнаружения элементов. Это связано с тем, что для многих спектральных приборов практическая разрешающая сила определяется не дифракционными явлениями, а разрешающей способностью используемых фотоматериалов. Для таких приборов, как это следует из выражения (32), увеличение линейной дисперсии ведет к росту практической разрешающей способности (например, при замене камеры с меньшим фокусным расстоянием на камеру с большим фокусным расстоянием в приборе ИСП-51). Но даже при использовании камеры с фокусным расстоянием / = 800 мм теоретическая разрешающая способность / теор прибора ИСП-51 не может быть использована ввиду недостаточной линейной дисперсии. Аналогичное явление наблюдается и для спектрографа СТЭ-1 со скрещенной дисперсией [788]. Несмотря на то, что теор этого прибора в ультрафиолетовой области спектра достигает 150 ООО, практическая разрешающая сила не превышает величины 60 000—70 ООО. [c.77]

Интерференционные и дифракционные явления, используемые в рефрактометрии [1,2,4] [c.218]

Наряду с описанными дифракционными явлениями в рефрактометрии используется интерференция света, происходящая при наложении широких световых пучков, в условиях, когда влияние диафрагм на распределение интенсивности света пренебрежимо мало. К подобного рода случаям относится интерференция световых волн, отраженных от противоположных поверхностей прозрачных пластин, или слоя жидкости, зажатой между пластинами. При этом различают два вида интерференционных полос полосы равного наклона и полосы равной толщины. [c.221]

Бекке как дифракционное явление). [c.370]

Правильная форма образующихся кристаллов свидетельствует о том, что структурные элементы, которыми могут быть атомы или Молекулы, расположены в определенном порядке. Упорядоченное расположение точек называется точечной решеткой. Интерференционные явления должны возникать, как это следует из волновой теории, при прохождении света через такую точечную решетку или при отражении от густо усеянных точками плоскостей решетки или плоскостной сетки в том случае, если константа решетки или в данном случае расстояние между соседними плоскостями решетки находятся в определенном соотношении с длиной волн проходящего света. Нетрудно показать, что при прохождения обычного света через кристаллы не происходит дифракционных явлений. Используя число Авогадро Na, можно определить число атомов, содержащихся в одном кубическом сантиметре вещества с известной плотностью. На основании этого можно определить и константу решетки. [c.231]

Распространение ультразвуковых волн происходит по законам геометрической (лучевой) акустики, которая по аналогии с геометрической оптикой соответствует предельному случаю звуковой акустики при переходе к бесконечно малой длине волны (когда >.- 0). В геометрической акустике пренебрегают волновой природой упругих колебаний и связанных с ней дифракционных явлений, если дифракционные эффекты очень малы. [c.57]

При распространении УЗК в упругой среде могут наблюдаться интерференционные и дифракционные явления. [c.59]

Из общего курса физики известно, что электроны, так же как атомы и молекулы, способны к интерференционным и дифракционным явлениям. Соответствующая длина волны % определяется при этом соотношением де Бройля [c.198]

С увеличением размеров частиц сравнительно простая картина релеевского рассеяния начинает осложняться дифракционными явлениями. Однако рассеянный свет сильно поляризован [c.66]

Амплитудный метод применяется при дефектоскопии оптически прозрачных материалов. При прохождении луча через исследуемый материал свет претерпевает рассеяние, отражение, преломление и другие эффекты на неоднородностях структуры и инородных включениях. Эти эффекты вызывают изменение интенсивности прошедшего или отраженного излучения. Анализируя эти изменения, можно определить характер неоднородности или дефекта. В том случае, когда геометрические размеры дефекта или включения соизмеримы с длиной волны, наблюдаются дифракционные явления, обусловленные дифракцией света на данном микрообъекте. При этом возможно получение дифракционного образа дефекта, по которому определяют его характер, степень опасности и т. д. [c.100]

Рассмотрим взаимодействие света с системой пленка — подложка при наличии в пленке газообразных включений, отверстий, микротрещин и т. п. Для этого необходимо определить приближение для расчета формирования изображения дефекта и учесть влияние дифракционных явлений. Известно [121, с. 70], что поле в произвольной точке пространства может быть найдено из скалярного волнового уравнения [c.107]

Поэтому возможны ошибки, например, на краю непрозрачного экрана. Можно, например, рассчитать распределение освещенности на проекции шлиры, но при этом необходимо исключить границы с дифракционными явлениями и с большими значениями gradln/4 (каустические поверхности). [c.17]

Ми. Его легко истолковать. На рис. 3.16 изображена рассеивающая частица. На эквивалентные рассеивающие элементы А и В падают параллельные лучи 5 y1 и S2B. Пути, проходимые лучами до точки Pi, находящейся за частицей, 5 Pi и SqBPi неодинаковы. Si/1 < S2B, но АР] > ВРи и поэтому полная разность хода невелика. Напротив, в точке Р2, расположенной перед частицей, SqB > и ВР2 > AP . Следовательно, разность хода здесь больще и интерференционное гашение рассеянного света сильнее. Теория эффекта Ми основывается на рассмотрении дифракционных явлений [62, 66]. Теория дает для сферических частиц радиуса г формулу, выведенную еще Рэлеем, [c.160]

В рассмотренной нами теории светорассеяния предполагалось, что частицы полимера малы по сравнению с длиной волны света. Иначе говоря, при рассеянии света можно было пренебрегать дифракционными явлениями. Это условие перестает удовлетворяться, когда молекулярный вес полимеров приближается к нгиллиону. В дальнейшем (стр. 158) мы рассмотрим теорию и практику изучения светорассеяния от больших макромолекул. [c.116]

Ранее нами было показано, что в аморфном нерегулярном сополимере, полученном обычной реакцией сополимеризации диэтилового эфира винил-фосфиповой кислоты с акриловой кислотой, самопроизвольно без каких-либо внешних направленных воздействий, при выделении веществ из растворов, имеющих pH 1,1, возникают совершенно необычные для аморфных полимеров крупные (сотни микрон) геометрически правильные структуры [1]. Эти образования аморфны в обычном смысле слова, т. е. они не обнаруживают характерных для кристаллических тел дифракционных явлений ни в пучке электронов, ни в рентгеновских лучах. Оптически они изотропны и не обнаруживают двойного лучепреломления в пределах разрешения обычного поляризационного микроскопа [2]. [c.191]

Возникающая разность хода проявляется в искривлении интерференционных полос. Форма интерференционной кривой определяется градиентом показателя преломления. Зная экспериментальную кривую, легко восстановить зависимость dddr. Простота оптической настройки, отсутствие дифракционных явлений и высокая чувствительность делают поляризационный интерферометр одним из самых удобных современных приборов для определения градиента показателя преломления. [c.163]

Однако существенным отличием акустических фокусирующих систем от оптических является соотнощение между длиной ВОЛНЫ и размерами системы. В акустике ввиду сравнительно больщих длин волн в больщей стененн проявляются дифракционные явления и поэтому фокусировка получается более размытой. К недостаткам звуковых линз, кроме различного типа аберраций, следует отнести их неполную прозрачность ввиду различия между акустическими сопротивлениями материала линзы и среды. Кроме того, для линз отмечается больнюе рассеяние и поглощение ультразвуковых волн в материале линзы на высоких частотах. С точки зрения наименьшей потери ультразвуковой энергии при фокусировке предпочтение следует отдать вогнутым зеркалам, однако они неудобны тем, что изображение в этом случае получается со стороны источника ультразвука. Наиболее эффективными фокусирующими системами следует считать пьезоизлучатели вогнутой формы. [c.59]

Рассеяние электронов зонда на атомах объекта может приводить к дифракции первичного пучка с образованием максимумов рассеяния под дискретными углами к падающему пучку. Дифракционные явления относятся к упругому (когерентному) рассеянию. При тонких слоях дифракция осуществляется в результате прохождения пучка через пленку, при массивных объектах дифракционные пучки исходят от поверхности. Различают дифракцию медленных и быстрых электронов с энергиями порядка десятков — сотен электрон-вольт и десятков килоэлектрон-вольт соответственно. При дифракции происходит отражение электронов полями атомов, которые являются суперпозицией кулоновского поля ядер и экранирующего поля электронного облака. В кинематическом описании дифракции считают, что падающий электрон испытывает только одно отражение, взаимодействие между падающей и рассеянной волной отсутствует. При динамическом, подходе учитываются многократные взаимодействия отраженных электронных волн в кристалле. Динамические эффекты возрастают с увеличением толщины объекта. [c.219]

Предельное разрешение микроскопа после исключения хроматических ошибок и астигматизма определяется сферической аберрацией и дифракционными явлениями. Повышение ускоряющего напряжения до 300 кВ вызывает резкое убывание потерь энергии электронов в объекте. Минимальные потери происходят при =1ч-2 МэВ при этом хроматическая аберрация уменьшается как АЕ1Е. Существенно повысить разрешение микроскопа можно применяя криогенные линзы, позволяющие уменьшить сферическую аберрацию по сравнению с аберрацией обычных объективов, либо корректируя сферическую аберрацию при помощи дополнительных октупольных элементов линз. [c.227]

Вывести формулу для оценки оптимальной угловой апертуры объектива в просвечивающем электронном микроскопе (принять, что разрешаемое расстояние определяется суммой размеров кружков размытия от сферической аберрации и от дифракционных явлений бсф 1 дифр бт1п при бсф бдифр). [c.479]

Физическое строение жидкостей и стекол характеризуется статистической неупорядоченностью, в которой находятся атомы, молекулы или более сложные комплексы и сверхмолекулы . Это состояние неупорядоченности противопоставляется упорядоченной структуре кристаллических силикатов, установленной рентгенографическими методами. Дифракция в трехмерных структурах с дискретными максимумами интерференции, подчиняющаяся основным уравнениям Лауэ и Брегга, в хаотических фазах не наблюдается. Теорию дифракционных явлений в этих фазах можно развить при помощи статистических методов и дать уравнения для интенсивности дифрагированных лучей. Выводы этих уравнений, основанные на вычислении характеристических функций распределения изотропных фаз, были сделаны Цернике и Принсом для газов и жидкостей, которые рассматриваются ими как конденсированные газы. В основу выводов положено допущение, согласно которому интенсивность дифракции монохроматических рентгеновских лучей, исходящих от материальных частиц 1(з) под углом ф определяется дисперсионной функцией g(r), которая представляет собой функцию вероятности распределения частиц на сферах с радиусом г. [c.167]

Эффект Мёссбауэра предоставляет возможность экспериментально исследовать дифракционные явления для гамма-излучения (см., нанример, обзор [21]). Интересными представляются результаты экспериментов по когерентным явлениям в мёссбауэровских гамма-переходах. В работе [22] обна- [c.108]

Для всякой волны, встречающей на своем пути подобное препятствие, неизбежны дифракционные явления с образо1ванием дифракционных максимумов и минимумов. Так называемая дифракция на краю ядра приводит, таким образом, к перераспределению плотности нейтронного потока, упруго рассеянного ядром . [c.202]

Погрешность в определении границы дефектного участка связана с наличием дифракционных явлений на границе раздела дефектного и бездефектного участков. При установлении порога срабатывания на уровне 20 мВ погрешность в определении границы начала трещины не превышает 1,5 мм. При увеличении порога срабатывания погрешность уменьшается, но появляется опасность необиаружения более мелких дефектов с меньшим раскрытием. [c.84]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология