Дифракция Фраунгофера

Конечно, плоскость объекта, сопряженная с плоскостью фотопленки, не находится в бесконечности, хотя и расположена очень далеко за плоскостью щели (телескопический пучок лучей от вогнутого зеркала). Поэтому точки щели , проектируемые через однородную среду рабочей части, фокусируются нечетко и увеличиваются вследствие дифракционного смещения (дифракция Фраунгофера—Френеля). В области, где пограничный слой действует как шлирная линза с переменным положительным фокусным расстоянием, зависящим от градиента показателя преломления, возникает дисторсия сопряженной плоскости объекта. Эта плоскость расположена ближе к плоскости щели . [c.63]

При г > Гбл акустическое поле преобразователя можно представить в виде пучка лучей, расходящихся в пределах угла 20. Эту область называют дальней зоной (зоной дифракции Фраунгофера). В пределах указанного углового сектора сконцентрировано 85% энергии излучения. Угол 0 может быть найден из соотношения [c.100]

В приборе для измерения диаметра тонких цилиндрических изделий (проволок, волокон и т.д.) (рис. 4, г) пучок излучения когерентного источника претерпевает дифракцию на изделии, и в плоскости сканера образуется дифракционное изображение изделия, соответствующее дифракции Фраунгофера. Дифракционное распределение интенсивности преобразуется в электрический сигнал, описывающий это распределение. Блок обработки электрического сигнала формирует прямоугольный импульс, длительность которого однозначно связана с расстоянием между выбранными минимальными точками дифракционного распределения. В приборе используется объектив, обеспечивающий величину дисторсии в пределах 0,2 % при смещениях объекта измерения в пределах 5 мм вдоль пучка излучения и 2,5 мм поперек пучка. Пофешность измерителя не превышает 0,5 % при смещениях объекта в указанных пределах. [c.494]

Малая длина свободного пробега пиона в области А-резонанса приводит к ярко выраженной картине дифракции Фраунгофера в упругом рассеянии на ядрах. Это четко видно из рис. 7.5. [c.247]

Формула (2.21) совпадает с формулой распределения интенсивностей при дифракции света от круглого отверстия. Это объясняется тем, что лучи, проходящие вне частицы, образуют фронт плоской волны, часть которого, соответствующая тени частицы, теряется. Согласно принципу Гюйгенса, эта неполнота волнового фронта приводит к появлению определенного углового распределения интенсивности, известного под названием картины дифракции Фраунгофера. [c.28]

Начиная с 1919 г. дифракция Френеля с большим успехом применяется в рефрактометрии. Значительно ранее получили распространение интерференционные рефрактометры, в которых используется другой вид дифракции, связанный с именем Фраунгофера. Для осуществления дифракции Фраунгофера точечный источник или ярко освещенная щель помешается в фокальной плоскости объектива коллиматора Ь (рис. 93). Дифракционная картина образуется в фокальной плоскости другого объектива 2, где собираются пучки параллельных лучей, частично загораживаемых экраном Л2 между объективами. [c.220]

Дифракция Фраунгофера на двух щелях [c.220]

Таким образом, изображение формируется в приближении тени с учетом дифракции Фраунгофера для 2 0,13 мм. Целесообразно оценить вклад дифракционных явлений в формирование изображения неоднородности (дефекта). [c.108]

Для осушествления дифракции Фраунгофера точечный источник или ярко освещенная щель помещается в фокальной плоскости объектива коллиматора Li (рис. XI, 2). [c.213]

Рис. XI, 2. Дифракция Фраунгофера на двух щелях

Из интерференционных приборов, применяемых в химических лабораториях, наибольшее распространение получили интерферометры типа Рэлея (1896) . В этих интерферометрах, предназначенных для точных измерений малых разностей показателей преломления жидкостей и газов, используется рассмотренное выше явление дифракции Фраунгофера их принципиальная схема не отличается от изображенной на рис. XI, 2. Характерной особенностью интерферометра типа Рэлея является возможность осуществления второй системы интерференционных полос, используемой в качестве репера для измерения сдвига основных интерференционных [c.216]

Из интерференционных приборов, применяемых в химических лаборатериях, наибольшее распространение получили интерферометры типа Рэлея (1896). В этих интерферометрах, предназначенных для точных измерений малых разностей показателей преломления жидкостей и газов, используется рассмотренное выше явление дифракции Фраунгофера их принципиальная схема не отличается от изображенной на рис. 93. Характерной особенностью интерферометра типа Рэлея является возможность осуществления второй системы интерференционных полос, используемой в качестве репера для измерения сдвига основных интерференционных полос (см. п. 3). Благодаря применению реперных полос уменьшается влияние механических деформаций прибора и повышается точность измерений. Другой особенностью интерферометров рэлеевского типа, связанной с использованием фраунгоферовой дифракции, является необходимость применения небольших расстояний между щелями, а значит, и между [c.223]

Рассмотренный выше случай возникновения интерференционных полос характеризуется проникновением света в область геометрической тени экрана, т. е. дифракцией света. Дифракционные явления происходящие на конечных расстояниях от источников и экранов, были исследованы Френелем и носят его имя. Начиная с 1919 г. дифракция Френеля с большим успехом применяется в рефрактометрии. Значительно ранее получили распространение интерференционные рефрактометры, в которых используется другой вид дифракции, связанный с именем Фраунгофера. Для осуществления дифракции Фраунгофера точечный источник или ярко освещенная щель помещается в фокальной плоскости объектива коллиматора 1 (рис. Х1.2). Дифракционная картина образуется в фокальной плоскости другого объектива 2, где собираются пучки параллельных лучей, частично загораживаемых экраном Лг между объективами. Щели О] и Ог являются центрами вторичных шаровых волн. Интенсивность света в некоторой точке Р ( окальг ной плоскости объектива зависит от разности хода собирающихся в ней лучей. Последняя для лучей, идущих под углом <р к первоначальному направлению, равна А=аз1пф, где а — расстояние между щелями О1 и Ог. Таким образом, в ряде точек, отвечающих [c.186]

При измерении размера монодисперсных частиц с неизвестным показателем преломления используется то наблюдение, что интенсивность рассеяния вперед обусловлена главным образом дифракцией Фраунгофера и поэтому не зависит от показателя преломления частицы. Дж.Р. Ходкинсон вычислил семейство кривых для отношения интенсивностей, наблюдаемых при двух различных углах. Оно показано на рис. 7.12. Если бы можно было измерить малые (до 5°) углы рассеяния вперед, то эта методика была бы точной при измерении размеров частиц для д от 1 до 18 [c.191]

Метод оптического сканирования, разработанный П. Джексоном (709, 710], использует дифракцию монохроматического света на непрозрачных препятствиях. Принцип метода ясен из рис. 4. Схема уста1ювки аналогична той, которая используется в физике при анализе спета неизвестного состава. При анализе сейсмических данных свет известен (монохроматический, предпочтительнее лазерный), а сейсмограмма представляет собой ту неизвестную структуру, которую нужно проанализировать. Дифракция Фраунгофера аналогична преобразованию Фурье, поскольку процесс Дифракции зависит от размеров элементов в дифракционной решетке. Сфер it ческа я линза осуществляет двумерное преобразова-inie, а цилиндрическая — одномерное. Подробности можно найти в (159, 1168) или в учебниках физики. Как и звуковой спектрограф, 0Е1тическии спектрограф дает трехмерное представление строения волны в тех же координатах. [c.29]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология