Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Характеристики отражений и свойства кристаллов-монохроматоров

    Характеристики отражений и свойства кристаллов-монохроматоров [c.62]

    В табл. 19 приведены данные о свойствах монокристаллов различных соединений, применяемых в качестве плоских и изогнутых монохроматоров. Для облегчения выбора кристалла при исследовании различных специальных нросов приведены данные о характеристиках отражения, свойствах кри-лла и некоторых областях применения. Обозначения в графе интенсив-максимума сл. — слабая, ср.— средняя, с.— сильная, оч. с.— яфная. [c.62]


    Глава 2. Получение и измерение рентгенограмм. 2-1. Оборудование рентгеновских лабораторий (рентгеновские установки, рентгеновские трубки и кенотроны, рентгеновские камеры, микрофотометры). 2-2. Получение сфокусированных линий. 2-3. Методы исследования превращений и состояния кристаллической решетки при высоких и низких температурах. 2-4. Фотографический метод регистрации (режимы съемки рентгенограмм некоторых металлов, номограмма для установки рентгеновских камер обратной съемки, номограмма для установки рентгеновских камер экспрессной съемки). 2-5. Ионизационный метод регистрации (свойства счетчиков излучения, поглощение рентгеновских лучей в счетчиках Гейгера — Мюллера, эффективность различных типов счетчиков излучения). 2-6. Селективно-пог.чощающие фильтры. 2-7. Характеристики кристаллов-монохроматоров (характеристики отражения и свойства кристаллов-монохроматоров, отражательная способность кристаллов-монохроматоров, оптимальная толщина кристаллов-монохроматоров при съемке на прохождение, свойства плоских кристаллов-монохроматоров, углы отражения для изогнутых кристаллов-монохроматоров). 2-8. Параметры съемки с изогнутым кварцевым монохроматором. 2-9. Измерение положения дифракционных линий на рентгенограммах (определение угла скольжения при съемке на плоскую пленку, поправка на нестандартность диаметра рентгеновской камеры, поправка на толщину образца, поправка на эксцентриситет образца в рентгеновской камере). 2-10. Измерение интенсивности (число импульсов, нужное для получения заданной вероятной ошибки на ионизационной установке, поправка на статистическую ошибку счета, поправка иа размер частиц для неподвижного образца, поправка на размер частиц при вращении образца, поправка на просчет счетчика). 2-11. Междублетные расстояния. 2-12. Некоторые данные для расчета лауэграмм (сетка для расчета лауэграмм, снятых методом обратной съемки, сетка для расчета лауэграмм, снятых на прохождение, вспомогательная таблица для построения проекции кристалла по лауэграмме). 2-13, Определение ориентировки крупных кристаллов в поликристаллических образцах. [c.320]

Смотреть главы в:

Рентгеноструктурный анализ -> Характеристики отражений и свойства кристаллов-монохроматоров



ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Кристалл-монохроматор

Монохроматор



© 2025 chem21.info Реклама на сайте