Монохроматор кристалл-анализатор

Детектор проточный газовый пропорциональный счетчик и сцинтилляционный детектор, до 9 сменных плоских кристаллов-анализаторов и 3 первичных коллиматоров модель 84608 имеет 14 фиксированных каналов со своими детекторами, модель 84808 имеет 8 каналов, в модели 86608 размещено более 30 монохроматоров, модель 8680 содержит 20 монохроматоров и 1 гониометр, модель 84208 снабжена двумя гониометрами. [c.184]

Кристаллы-анализаторы. Если требуется излучение с большей степенью монохроматичности, чем получаемое с помощью фильтров, необходимо использовать дифракционный монохроматор. Устройство этого прибора будет описано ниже в разделе, посвященном дифракции рентгеновских лучей. [c.227]

Кроме строгого контроля за калибровкой монохроматора спектрополяриметров и дихрографа оптическая юстировка данных приборов включает в себя точную установку взаимного положения поляризатора и анализатора в спектрополяриметре и поляризатора и кристалла модулятора в дихрографе. Разъюстировка этих узлов или нарущение работы электронных блоков могут привести к появлению ложных кривых ДОВ ля КД. Одним яз обязательных коптролей данных приборов является запись спектров (ДОВ или КД соответственно) для заведомо оптически яеактивных образцов с оптической плотностью до 2,0ч-2,5. Если появляются ложные вращение ил и эффект Коттона в области потлощепня образца, то прибор необходимо дополнительно настраивать. [c.45]

Оказывается, что эту трудность можно преодолеть, применяя иной метод измерения рассеяния под малыми углами — метод двух монокристаллов [20, 21]. Схема прибора дана на рис. 9. Кристалл кальцита, служащий монохроматором, дает очень узкий пучок отраженных лучей. На определенном расстоянии от этого закрепленного кристалла монохроматора помещается другой кристалл кальцита в таком положении, чтобы он отражал пучок лучей от первого кристалла. В случае отражения обоими кристаллами грани их параллельны. Если поворачивать второй кристалл анализатор вокруг оси, лежащей в плоскости кристалла и проходящей через точку, в которую попадает луч, отраженный от первого кристалла, то луч, падающий от анализатора на счетчик Гейге ра, будет менять свою интенсивность. Таким образом, может быть измерена зависимость между интенсивностью отра- [c.368]

При измерении /т (экваториальная установка) плоскости рассеяния для монохроматора и кристалл-анализатора должны совпадать между собой, а при измерении А (азимутальная установка) они должны быть взаимно перпендикулярны. Этх условия предъявляют определенные требования к аппаратуре. Кинематика аппаратуры должна обеспечивать соответствующие степени свободы для разворота кристалл-анализатора и счетчика (блока монохроматор — счетчик при расположении последнего на дифрагированном пучке) из горизонтальной установки в вертикальную и плавное вращение (колебание) кристалл-анализатора для измерения интегральной интенсивности в обеих его установках (рис. 1). Заметим, что в случае расположения монохроматора на дифрагированном пучке /у и /т могут быть измерены также и без изменения положе- [c.68]

Разность хода обыкновенного и необыкновенного лучей в кристалле зависит от длины световой волны и это обеспечивает возможность осуществления интерференционной модуляции вращением поляроида-анализатора на выходе монохроматора. Что же касается первого условия осуществления сисама (селективной модуляции), то в поляризационном приборе она может быть получена и при отсутствии встречной дисперсии интерферирующих пучков. [c.344]

Рассмотрим рассеяние под прямым углом орторомбическим кристаллом. (Для образного представления шести возможных ориентаций кристалла очень подходит спичечная коробка.) Для каждой ориентации кристалла лучше всего устанавливать анализатор в пучке рассеянного излучения перед монохроматором и регистрировать спектр с поляризацией луча лазера, параллельной [c.440]

Способы разложения рентгеновского излучения в спектр. В СРС наиболее часто применяется монохроматор Брегга-Соллера, состоящий из коллиматора, плоского кристалла-анализатора, вращающегося вокруг [c.13]

Так как излучение, отражаемое под углом 90° от кристалл-анализатора, плоскополяризовано, то, очевидно. А- п /т в этом случае будут пропорциональны составляющим интенсивностей монохроматического излучения соответственно с перпендикулярной и параллельной поляризацией относительно плоскости рассеяния монохроматора. Следовательно, величина 1—V соз 2дм определяет степень поляризации отраженного от монохроматора излучения, если падающий пучок неполяри-зованный. [c.68]

Рнс. 1. Схема взаимного расположения монохроматора н кристалл-анализатора при экваториальной (а) и ази.мутальнон (б) установках [c.68]

Описываются методы экспериментального определения поляризационпого фактора рассеяния монохроматического рентгеновского излучения в случае установки кристалл-монохроматора на прямом или дифрагированном пучках. Методы основаны на измерении 1) интегральной интенсивности отражения от кристалл-анализатора при экваториальной и азимутальной съемках 2) интенсивности аномально прошедшего пучка через совершенный кристалл (эффект Боррмана) в двух взаимно перпендикулярных положениях 3) интегральных интенсивностей рефлексов 111 и 333 от совершенного кристалла германия. Последний метод в экспериментальном отношении наиболее простой. [c.274]

Наибольший объем внедрения новой технологии достигнут для германия. Отработана промышленная технология получения кристаллов в виде лент, пластин, труб, стержней круглого сечения, в том числе технология группового выращивания. Развита методика выращивания крупногабаритных цилиндрических монокристаллов с диаметром до 300 мм. Изучено влияние технологических факторов и легирования на форму, структуру, особенности распределения примесей и электрические свойства профилированных кристаллов. Для контроля электрических свойств профилированных кристаллов потребовалось разработать специальные методы измерени удельного сопротивления и коэффициента Холла. Установлено, что структура и свойства выращиваемых в промышленных условиях профилированных монокристаллов германия обеснечивают возможность их применения для изготовления высокочастотных транзисторов, тензорезисторов, монохроматоров и анализаторов рентгеновского излучения, подложек эпитаксиальных структур, для инфракрасной оптики и оптоэлектроники, в качестве подложек для термического разложения моногермана. Для дальнейшего совершенствования структуры и свойств профилированных кристаллов германия необходимы более детальные исследования распределения в них легирующих примесей в процессе кристаллизации способом Степанова. [c.255]

Почти все современные исследования спектров КР кристаллов выполнены при возбуждении линиями 6328 А Не — Ые-ла-зера или 5145 и 4880 А Аг+-лазера возможно также использование некоторых линий Кг -лазера. В идеальном случае для исследования неорганических кристаллов КР-спектрометр должен быть снабжен обоими лазерами. Как правило, Аг+-лазер дает более интенсивное излучение, чем Не — Ые-лазер однако излучение в красной области незаменимо при исследовании многих окрашенных кристаллов, поскольку в красной области они поглощают в меньшей степени, чем в зеленой или синей областях. Для большинства кристаллов можно получить хорошие спектры КР до 15 СМ . Излучение этих газовых лазеров плоскополяри-зовано, следовательно, для вращения плоскости поляризации на 90° требуется полуволновая пластинка. В качестве анализатора вполне пригодна поляроидная пленка. Однако вследствие поляризации излучения на дифракционной решетке поляризационное устройство для исследования комбинационного рассеяния необходимо помещать между анализатором и монохроматором. [c.436]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология