Метод обратной съемки

Глава 2. Получение и измерение рентгенограмм. 2-1. Оборудование рентгеновских лабораторий (рентгеновские установки, рентгеновские трубки и кенотроны, рентгеновские камеры, микрофотометры). 2-2. Получение сфокусированных линий. 2-3. Методы исследования превращений и состояния кристаллической решетки при высоких и низких температурах. 2-4. Фотографический метод регистрации (режимы съемки рентгенограмм некоторых металлов, номограмма для установки рентгеновских камер обратной съемки, номограмма для установки рентгеновских камер экспрессной съемки). 2-5. Ионизационный метод регистрации (свойства счетчиков излучения, поглощение рентгеновских лучей в счетчиках Гейгера — Мюллера, эффективность различных типов счетчиков излучения). 2-6. Селективно-пог.чощающие фильтры. 2-7. Характеристики кристаллов-монохроматоров (характеристики отражения и свойства кристаллов-монохроматоров, отражательная способность кристаллов-монохроматоров, оптимальная толщина кристаллов-монохроматоров при съемке на прохождение, свойства плоских кристаллов-монохроматоров, углы отражения для изогнутых кристаллов-монохроматоров). 2-8. Параметры съемки с изогнутым кварцевым монохроматором. 2-9. Измерение положения дифракционных линий на рентгенограммах (определение угла скольжения при съемке на плоскую пленку, поправка на нестандартность диаметра рентгеновской камеры, поправка на толщину образца, поправка на эксцентриситет образца в рентгеновской камере). 2-10. Измерение интенсивности (число импульсов, нужное для получения заданной вероятной ошибки на ионизационной установке, поправка на статистическую ошибку счета, поправка иа размер частиц для неподвижного образца, поправка на размер частиц при вращении образца, поправка на просчет счетчика). 2-11. Междублетные расстояния. 2-12. Некоторые данные для расчета лауэграмм (сетка для расчета лауэграмм, снятых методом обратной съемки, сетка для расчета лауэграмм, снятых на прохождение, вспомогательная таблица для построения проекции кристалла по лауэграмме). 2-13, Определение ориентировки крупных кристаллов в поликристаллических образцах. [c.320]

На рис. 9.31 показана рентгенограмма, снятая на плоскую пленку по методу обратной съемки (рис. 9.23, в). [c.246]

Рис. 11,22. Метод обратной съемки

В одном опыте исследовалась пластинка чистого палладия по методу обратной съемки. Расстояние объект — фотопленка было 60,2 мм. Сначала на пленку снимался на медном излучении чистый палладий. Затем на чистое место той же нленки производилась съемка той же точки пластинки, в то время, как пластинка использовалась как катод в ванне с [c.136]

Результат обработки двух рентгенограмм от пластинки палладия, полученных на нефильтрованном медном излучении по методу обратной съемки [c.137]

Экспериментальное измерение остаточных напряжений осуществляют методом обратной съемки с регистрацией на фотопленку или съемкой на дифрактометре. [c.342]

При использовании метода обратной съемки следует иметь в виду, что на рентгенограмме регистрируются рефлексы от плоскостей hkl , которые составляют угол 90°— с поверхностью образца (рис. 14.3,а). Таким методом измеряется деформация не по нормали, а под углом 90°—г ) к поверхности (т. е. не бх). Поэтому расчетные формулы, основанные на выражении (14.8), в этом случае неточны. Ошибка тем больше, чем меньше o. [c.342]

Длительный нагрев не влияет также и на параметр решетки улучшенной (режим 1) стали Х8, измеренный по рентгенограммам, полученным методом обратной съемки на хромовом излучении (параметр решетки 2,868 А). [c.116]

Рентгенографический контроль фаз, возникающих в этих системах, производился в камерах конструкции МГУ с асимметричным расположением пленки. Периоды идентичности решеток отдельных фаз устанавливались по методу обратной съемки. [c.109]

Определение напряженности кристаллической решетки электролитического хрома после различных видов обработки проводилось методом обратной съемки с экспозицией в течение 3 час. При этом методе образец и кассета вращались. [c.129]

Назовите разные методы укладки пленки в цилиндрическую камеру п особенности этих методов. В чем заключается метод обратной съемки [c.174]

При рентгеновском исследовании методом обратной съемки величины а — расстояние от первой щели до пленки — и А — расстояние от об]>азца до пленки — д[огут быть определены из соотношений [c.112]

Съемка плоских шлифов (пластинок). Съемка плоских шлифов в цилиндрических камерах возможна, но требуется установка образца так, чтобы луч касался поверхности в центре камеры [12, стр. 153]. Чаш,е съемка плоских образцов применяется в методе обратной съемки. [c.155]

Метод обратной съемки. Метод обратной съемки относится к прецизионным методам. В нем используется плоская пленка, которая ставится перпендикулярно ходу луча у входного отверстия (рис. 11.26, а). На пленку, естественно, попадают только рефлексы, отвечаюш,ие брэгговским углам 6>45°. Конические рефлексы оставляют на плоском диске пленки кольца. Для расчета полное кольцо не нужно, его радиус можно измерить по малой части дуги. Поэтому обычно в таких камерах [c.155]

Рис. 11.26. Метод обратной съемки а — схема эксперимента Ь — рентгенограмма

В. литературе почти не имеется данных о структуре серебряных катализаторов, применяемых для окисления этилена в окись этилена рентгенографическим и электронно-графическим методами. Кушнеревым были исследованы образцы промышленного серебряного катализатора до и иосле работы. С этой целью были сняты рентгенограммы но методу обратной съемки с образца таблетиро-ванного катализатора до и после 50 час. работы в контактном аппарате, а такнге порошкограммы с таблетированного катализатора после работы в лабораторной динамической установке, в лабораторной статической установке и в заводском контактном аппарате. [c.30]

Рис. 26. Сетка для расчета лауэграмм, снятых методом обратной съемки.

Метод обратной съемки точен, но его большим недостатком является невозможность получения линий под малым уг-люм отражения, что может привести к совершенно ошибочным заключениям. Известны случаи, когда при закалке сплава с [c.254]

Рентгенографическая съемка образцов проводилась на ди- i фрактометре ДРОН-1 в отфильтрованном медном излучении со j скоростью 2,0—0,5 К/мин. Для определения плоскости роста моно- j кристаллов ИАГ вырезалась пластинка из наиболее совершенной j части кристалла, перпендикулярная к оси роста. С этой пла- стинки была получена эпиграмма методом обратной съемки в ка- i мере РКВ-86 в медном неотфильтрованном излучении. Установ- лено, что с направлением оси роста кристалла совпадает кристал- лографическая ось второго порядка, т. е. монокристалл растет j перпендикулярно к плоскости (110), что соответствует данным Л. М. Беляева и других исследователей о наибольшем развитии в гранатах грани 110 . Плотность гранатов измерялась методом гидростатического взвешивания с точностью 1-10 г/см . Полученные результаты корректировались по данным расчета рентгеновской плотности (рис. 67). Определение показателей преломле-Таблица 53 [c.190]

Наконец, с помощью острофокусных трубок [286] может быть поставлен целый ряд работ по рентгеноструктурному анализу как при работе на прохождение, так и методами обратной съемки. Эти вопросы выходят за рамки настоящей книги. [c.310]

Характеристика рентге-нограмм, полученных по методу обратной съемки [c.302]

Рис. 21. Рентгенограммы, полученные методом обратной съемки (медное излучение). Сняты на разной глубине от поверхности сплава ним0(ник а — поверхность обработана напильником и тонкой наждачной бумагой 0000 (начальные условия). Диффузные кольца показывают интенсивный наклеп 6—поверхность после удаления 6,3 мк электрополировкой в— поверхность после удаления 19 мк электрополировкой г поверхность после удаления 50 мк электрополировкой. Пятна, которые все яснее выявляются и становятся мельче с увеличением расстояния от поверхности, отвечают все меньшему разрушению зерен

Справочник химика 21

Химия и химическая технология