Эшелле

Таблица 14.19 Основные характеристики обычного и эшелле-снектрометров

Свет от щели спектрографа и сферического зеркала— коллиматора — направляется на диспергирующий элемент, состоящий из оптического клина — призмы с углом у вершины 18° и отражательной решетки эшелле. Спектрограф имеет сменные кварцевую призму и стеклянную, которая установлена таким образом, чтобы ее преломляющее ребро было перпендикулярно щели прибора. При таком расположении призма не участвует в разложении света в спектр. Пройдя через нее, свет попадает на дифракционную решетку, которая разлагает его в горизонтальной плоскости. Отразившись, разложенный свет снова проходит через призму, которая разделяет перекрывающиеся спектры третьего, четвертого и пятого порядков в вертикальной плоскости на три области 220,0—270,0 нм. [c.657]

Что такое решетка эшелле Почему часто используют последующую дисперсию [c.38]

Типичные значения для п находятся в интервале 1000-4800 штрих-мм . Ширина решетки может превышать 100 мм. В АЭС применяют как стандартные решетки (плотность штрихов > 600 штрих-мм используется большая сторона треугольного профиля), так и решетки эшелле (низкая плотность штрихов, < 100 штрих- мм , используется малая сторона профиля, большой угол падения). [c.25]

Оригиналы интерферометрических решеток коммерчески доступны. Интерферометрические решетки предпочтительнее в случае вогнутой формы, всякий раз когда требуется высокая плотность штрихов и при работе в УФ. Для получения стандартных решеток используют обе технологии, тогда как решетки эшелле можно изготовить только с помощью нарезки. Усовершенствование производства решеток стало, несомненно, основным прогрессом в оборудовании для АЭС. [c.29]

Из-за большого числа порядков, наблюдаемых при использовании решеток эшелле, в большинстве производимых дисперсионных систем применяют дополнительный диспергирующий элемент. Он представляет собой дисперсионный компонент (например, призма или решетка), установленный под прямым углом к плоскости дифрагированного луча, чтобы получить дисперсию [c.30]

В монохроматорах применяются фотоэлектронные умножители, тогда как в полихроматорах на основе решеток эшелле — новые твердотельные детекторы, которые включают набор фотодиодов. Свыше 60 фотодиодов используются как для первичных, так и для вторичных линий наиболее важных элементов. [c.49]

Современные спектральные приборы на основе эшелле-решеток имеют спектральное разрешение на уровне 0,001-0,003 нм. Такое же разрешение может быть достигнуто с помощью устройства, состоящего из двух полупрозрачных зеркал, параллельных друг другу. Этот прибор, названный эталоном Фабри-Перо , является основным при изучении сверхтонкой структуры спектральных линий. Неудобство работы с ним [c.383]

Наибольшей гибкостью обладают эшелле-спектро-метры с телевизионными твердотельными приемниками излучения, в которых какие-либо подвижные механические элементы вообще отсутствуют. Весь спектр проецируется на фотокатод диссектора или многоэлементную матрицу, осуществляющие электронное сканирование спектра. [c.386]

Сравнительная характеристика наиболее распространенных моделей ИСП / эшелле-снектрометров приведена в табл. 14.22. [c.386]

Сравнительная характеристика ИСП / эшелле-спектрометров зарубежных фирм [c.386]

Формулы (6) и (7) подобны друг другу, однако приборы, действующие на их основе, принципиально различны для дифракционных решеток порядок спектра т невелик — несколько единиц, иногда десятков (решетка эшелле ) для интерференционных приборов порядок интерференции т выражается многими тысячами. [c.10]

В подобных приборах обычно используются для основной дисперсии специальные решетки эшелле с небольшим числом штрихов, работающие в высоких порядках т=ь 40ч-60. Решетка эшелле является ступенчатой решеткой с канавками почти прямоугольного профиля AB на рис. 15). Здесь РР — плоскость [c.32]

Количество налагающихся друг на друга спектров разных порядков на один свободный интервал зависит от общей длины подлежащего регистрации спектра и параметров эшелле. [c.32]

Отметим еще одно свойство эшелле-спектрограммы. Вследствие взаимно перпендикулярного действия двух дисперсий строчки идут наклонно по отношению к главному сечению оптической системы и этот угол наклона определится из условия [c.34]

При анализе материалов со сложными спектрами или при работе с источниками типа индуктивно-связан-ной плазмы спектральное разрешение полихроматоров с вогнутыми дифракционными решетками оказывается недостаточным. Поэтому все большее распространение получают спектрометры на основе оптических схем со скрещенной дисперсией и плоских дифракционных решеток эшелле. Они позволяют у-величить дисперсию прибора примерно на порядок — до 0,03-0,1 нм/мм. Фактический выигрыш несколько меньше, так как в приборах со скрещенной дисперсией выходные щели должны быть ограничены по высоте (не более 0,1-2 мм), и для компенсации потерь светового потока приходится увеличивать их ширину. [c.385]

Для работы в инфракрасной области спектра и в приборах ео скрещенной оптикой применяют решетки с профилированным шагом с числом штрихов на миллиметр, равным 10. Такие дифракционные решетки называют эшелле и эшеллетами. Эти решетки нарезаны таким образом, что излучение данной длины волны концентрируется главным образом в одном порядке. При прохождении монохроматического света через узкую щель на экране видна дифракционная картина. Один из лучей проходит через щель прямо, образуя в центре интенсивную полосу. Другие лучи той же длины волны отклоняются от него симметрично на разные углы, величины которых зависят от длины волны монохроматического света. При освещении дифракционной решетки немонохроматическим светом на экране наблюдается усиление одних участков спектров и ослабление других вследствие интерференции. Если выбрать из этого потока только те лучи, которые образуют с основным направлением света, падающего на дифракционную решетку, угол ф, то можно заметить, что пути лучей будут отличаться на величину аЬ. Если эта величина будет равна длине волны света или четному ей числу, то освещенность будет максимальной. Если величина аЬ будет равна [c.653]

Устройство диспергирующих систем подобно уже описанным для атомно-эмиссионной спектрометрии (разд. 8.1). Большинство производимых систем ААС основаны па одноэлементном определении. Для выбора линий используют, следовательно, монохроматор на основе вращающейся плоской решетки. Недавно были разработаны системы с одновременным многоэлемент-ным определением, использующие полихроматор на основе решетки эшелле 79 штрих/мм с применением дисперсии на скрещенных пучках для получения двумерных спектров. [c.48]

Эшелле — отражательная дифракционная решетка, обеспечивающая концентрацию дифрагированного излучения в спектрах высоких порядков к = 70-150). При относительно небольшом числе штрихов (до 100 штрих/мм) для эшелле характерны очень высокие дисперсия и разрешающая способность. Профиль штриха у эшелле такой же, как и у эшелетта, а угол блеска достигает 75°. [c.383]

Практическое применение дифракционных решеток с профилированным штрихом привело к появлению оптических схем со скрещенной дисперсией. В них используется сочетание решетки и призмы или двух решеток, направления дисперсий которых взаимно перпендикулярны эшелле-решетка разлагает полихроматическое излучение на длины волн и создает спектр, состоящий из перекрьшающихся спектров многих дифракционных порядков, а другой диспергирующий элемент (призма или решетка) разделяет порядки. В результате в фокальной плоскости прибора образуется двумерная спектрограмма (эшел.че-грамма), состоящая из набора строк, каждая из которых относится к определенному порядку дифракции. Такая оптическая схема позволяет использовать высокие порядки дифракции (т.е. достигать более высокого спектрального разрешения) и снижает размеры спектрального прибора. Сравнительная харакгеристика приборов сопоставимых размеров на основе обычньгх дифракционных решеток и решеток типа эшелле приведена в табл. 14.19. [c.383]

ДСД-1 JIOMO (Санкт-Петербург, Россия) Оптическая схема сканирующий спектрометр эшелле-решетка 75 штрих/мм фокусное расстояние 0,32 м спектральный диапазон 200-700 нм рабочие порядки дифракции 35-119 дисперсия 0,17 нм/мм для 200 нм 0,29 нм/ мм для 300 нм 0,35 нм/мм для 400 нм [c.807]

Продолжаются попытки использовать источнию сплошного спектра и для прямых измерений абсорбции, например, в схемах на основе эшелле-полихрома-торов высокого разрешения. Наилучшие результаты получены с помощью ксеноновой дуговой лампы мощностью 150—300 Вт и вольфрамовой галогенной лампы мощностью 650 Вт. Исследуются также возможности импульсных источников сплошного спектра. Удачное техническое решение в этой области могло бы придать ААС новое качество — возможность одновременного многоэлементного анализа. [c.828]

Для того чтобы использовать такую решетку, необходимо применять второй диспергирующий элемент (решетку или призму), расположенный под прямым углом, чтобы разделить порядки. На рис. 5.8 показан пример спектрограммы, полученной на спектрографе со скрещенными решетками эшелле и призмой Литтрова. [c.89]

А, снятый на большом спектрографе Литтрова и на спектрографе с решеткой эшелле. [c.89]

Plie. 5.8. Спектр железа в области 2500 А, сфотографированный на спектрографе с решеткой эшелле (свер.ху) и на большом спектрографе Литтрова (внизу). [c.90]

А, показывающий сравнительную дисперсию спектрографов с решеткой эшелле и призмой Литтрова. [c.90]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология