Эталон Фабри Перо

Как следует из уравнения (3.19), для увеличения разрешающей силы необходимо создать условия, обеспечивающие максимальную разность хода интерферирующих лучей. Такие условия, например, реализуются в устройстве, состоящем из двух полупрозрачных зеркал, параллельных друг другу. Этот прибор, названный эталоном Фабри-Перо , является основным прн изучении сверхтонкой структуры спектральных линий и широко используется во всем мире. Неудобство применения эталона Фабри-Перо заключается в том, что он может работать только в узком спектральном интервале длин волн и поэтому всегда должен использоваться в сочетании с более грубыми спектральными приборами, производящими предварительную монохрома-тизацию, т. е. выделение нужного узкого исследуемого участка спектра. Второй недостаток — узкий динамический диапазон измерений интенсивностей линий, что определяется поглощением света в пластинах или зеркальных покрытиях. [c.69]

Современные спектральные приборы на основе эшелле-решеток имеют спектральное разрешение на уровне 0,001-0,003 нм. Такое же разрешение может быть достигнуто с помощью устройства, состоящего из двух полупрозрачных зеркал, параллельных друг другу. Этот прибор, названный эталоном Фабри-Перо , является основным при изучении сверхтонкой структуры спектральных линий. Неудобство работы с ним [c.383]

ИСП-51 с эталоном Фабри-Перо. . . [c.25]

В гл. II даны практические работы, относящиеся к общим свойствам призменных и дифракционных приборов. Кроме того, предлагается цикл лабораторных работ с дифракционными приборами, связанных со специфическими свойствами дифракционных решеток. Приборы высокой разрешающей способности представлены в виде двух работ с эталоном Фабри — Перо. [c.4]

Сопоставление различных типов спектрометров может быть сделано с точки зрения их светосилы при одних и тех же значениях Яр- Например, спектрометр с эталоном Фабри—Перо может иметь выигрыш в светосиле по сравнению со спектрометром с дифракционной решеткой в 100—200 раз при одинаковых значениях разрешающей способности Яр. Приборы интерференционной спектроскопии, основанные на применении интерферометра Майкельсона, еще более перспективны в этом отношении. [c.39]

Рис. 103. Распределение интенсивности, даваемое эталоном Фабри—Перо при различных коэффициентах отражения

Выражение (198) показывает, что отношение расстояния между соседними интерференционными порядками-(А А,) к ширине интерференционного максимума б А, однозначно определяется числом эффективных пучков Следовательно, для уверенных измерений реальных значений б А, выгодно использовать большие коэффициенты отражения при любом расстоянии между пластинами эталона Фабри—Перо. [c.166]

Поверхности пластин при этом должны быть изготовлены с весьма большой степенью точности. Реально для газовых лазеров пластины эталона Фабри—Перо должны иметь местные ошибки не более зеленой длины волны видимого спектра. Часто пластины изготовляют из плавленого кварца. Для получения генерации необходима весьма высокая степень параллельности пластин. Юстировочные приспособления должны обеспечить параллельность пластин с точностью 10—5". [c.166]

Эталон Фабри—Перо без предварительного монохроматора [c.48]

Некоторой модификацией эталона Фабри—Перо является интерферометр с малым прозрачным отверстием на первой пластине при полном зеркальном отражении слоя. При работе обычного интерферометра часть света от первой пластины отражается и, 166 [c.166]

ИСТОЧНИК света F — зеленый фильтр Lj — первая линза с f = 111 мм D — диафрагма 0 I мм Li — линза с f = 75 мм N — эталон Фабри — Перо Oj — объектив фотоаппарата с / = = 135 мм [c.167]

Вычислить спектральные характеристики реально используемого в эксперименте эталона Фабри—Перо а) свободный спек-174 [c.174]

Рис. 12.2.-Картина интерференционных колец эталона Фабри—Перо

Спектральные характеристики использованного в работе эталона Фабри—Перо. [c.180]

Фотографический метод регистрации контуров спектральных линий с помощью эталона Фабри—Перо (см. 22) обладает некоторыми преимуществами, а именно сравнительной простотой установки и возможностью усреднения измерений во времени при нестабильности горения разряда. [c.180]

Юстировка установки и ее отдельных частей. Состоит в настройке монохроматора с дифракционной решеткой, в юстировке собственно эталона Фабри—Перо и в согласовании работы этих двух узлов установки. [c.184]

Учитывая условие (189) для эталона Фабри—Перо и считая ф малым, имеем [c.187]

Рис. 3. Ход лучей в эталоне Фабри—Перо

Аппаратная функция эталона Фабри—Перо. Способ непосредственного определения N )ф неизвестен. Поэтому, чтобы получить выражение для разрешающей силы эталона, необходимо найти его аппаратную функцию. Амплитуда световых колебаний в луче, [c.101]

Формирование наблюдаемого контура спектральной линии. Знание аппаратной функции имеет в теории спектральных приборов исключительное значение. Оно необходимо для определения разрешающей силы приборов, к которым критерий Рэлея неприменим (например, эталон Фабри—Перо). Оно дает возможность определить оптимальные условия работы прибора (см. гл. П1). Здесь же мы покажем, что знание аппаратной функции позволяет определить истинный контур спектральной линии по наблюдаемому, восстанавливая этим самым информацию, потерянную в приборе. [c.35]

Ориентировочные значения критерия сравнения для спектральных приборов различных типов (табл. 7.1) иллюстрируют преимущества дифракционных спектрометров перед призменными и интерферометра Фабри—Перо — перед ними обоими. Значения критерия для сферического эталона Фабри—Перо, сисама и фурье-спектрометра на несколько порядков выше критериев сравнения для классических спектрометров с одной выходной щелью. Однако это не следует понимать в том смысле, что один из приборов нового типа может заменить сотни и тысячи приборов классического типа при любых измерениях. Данные таблицы характеризуют лишь предельные возможности каждого прибора, которые могут быть полностью реализованы только при особых условиях проведения измерений в этом заключается условность приводимых значений критерия сравнения. Необходимо обратить внимание на большое различие значений критерия для приборов с разными приемниками, полученные для сисама и фурье-спектрометра. Оно является следствием принципиально неизбежной засветки приемников этих приборов посторонним излучением, которое снижает отношение сигнала к шуму только в приемниках, у которых шум зависит от сигнала. [c.50]

Эталон Фабри—Перо [c.97]

Величину А К называют постоянной эталона Фабри—Перо. Она представляет собою спектральный интервал, в пределах которого наложение соседних порядков еще не имеет места. [c.99]

Из формулы (12.7) следует интересный вывод угловая дисперсия эталона не зависит от параметров эталона (в отличие от призмы и решетки) и определяется исключительно углом падения Р интерферирующих лучей, т. е. для всех эталонов Фабри—Перо при одном и том же угле р угловая дисперсия будет одинакова и еще — при р = О угловая дисперсия эталона бесконечно велика. Однако практического значения последнее обстоятельство не имеет, поскольку дисперсия быстро падает с увеличением угла р. [c.100]

Из формулы (12.9) видно, что М ф в теории эталона Фабри— Перо играет такую же роль, какую играет N — общее число штрихов в теории дифракционной решетки. Покажем это на примере еще одной аналогии. Из формул (9.14) и (9.16) следует, что расстояние между соседними главными максимумами решетки в N раз больше предела разрешения. В эталоне Фабри—Перо расстояние между соседними максимумами в Л ф раз больше предела разрешения действительно, по формулам (12.4) и (12.9) [c.101]

Если введение понятия эффективного числа пучков посредством формулы (12.9) было чисто формальной операцией, то теперь формула (12.10) вкладывает уже определенный смысл в это понятие и делает его практически полезным при выборе вспомогательного монохроматора для устранения налагающихся порядков в эталоне Фабри—Перо. Очевидно, что число Nзф будет тем больше, чем ближе коэффициент отражения зеркал эталона к единице. [c.101]

Рис. 12.5. Предел разрешения эталона Фабри—Перо по критерию Рэлея

Несколько лет назад был предложен и получил всеобщее признание сферический эталон Фабри—Перо. Он состоит из двух вогнутых сферических зеркал одинакового радиуса кривизны, установленных на расстоянии этого радиуса друг от друга нижние половины этих зеркал (на рис. 12.8) покрыты непрозрачным отражающим слоем, две другие половины — частично пропускающим свет. Луч, вошедший в эталон, после четырех отражений идет по первоначальному пути, по которому пойдут и все остальные лучи, образовавшиеся из Рис. 12.8. Сферический эта-вошедшего луча в результате много- Фабри—Перо [c.109]

О повышении разрешающей силы и прозрачности эталонов Фабри—Перо. При исследовании тонкой структуры спектральных линий помимо высокой разрешающей силы и малой величины фона большое значение имеет прозрачность эталона, мерой которой может служить отношение интенсивности в максимуме интерференционной картины к интенсивности падающего света. Эту величину мы назовем пропусканием эталона Фабри—Перо. В соответствии с выражением (12.14) [c.109]

Эта формула, соответствующая решетке в автоколлимационной установке, дает значение угла блеска, при котором можно получить максимальную концентрацию энергии в рабочем диапазоне спектра при заданной дисперсии. Величина б определяет серийность прибора при б < 40° — прибор может быть серийным при б = 40- 70° он будет уже уникальным из-за уникальности установленной в нем дифракционной решетки при б > 75° прибор будет уже невозможно изготовить, это означает, что нужно рассмотреть вопрос о переходе от дифракционной решетки к эталону Фабри — Перо. [c.113]

В Советском Союзе промышленность выпускает два комплекта эталонов Фабри—Перо — ИТ-28 и ИТ-51, которые можно использовать совместно со спектрографами ИСП-28 и ИСП-51, а также и для самостоятельных измерений. [c.308]

Конструкция эталонов Фабри—Перо уже достаточно испытана и отработана фис. 40.2). Сборка оптических деталей производится в корпусе 1 — стальной или инварной трубе. Зеркальные пластины 4 и 14 разделены промежуточными кольцами 2, которые имеют с каждого торца по три опорных выступа, расположенных под углом 120° друг к другу кольца толщиной до 6 мм делаются из инвара, более толстые — из плавленого кварца. [c.309]

Эталон Фабри—Перо ИТ-28-30 [c.309]

Рис. 40.2. Конструкция эталона Фабри—Перо

Аппаратная функция монохроматора. Величина светового потока, проходящего через монохроматор с эталоном Фабри—Перо, определяется размерами выходной диафрагмы. Интерференционная картина этого прибора представляет собой систему концентрических колец, поэтому естественно выходную диафрагму выбрать в форме кольцевой щели. Не касаясь пока способов сканирования спектра, определим аппаратную функцию монохроматора с кольцевой диафрагмой частным случаем ее является круглое отверстие, которое можно рассматривать как кольцо с внутренним диаметром, равным нулю. [c.311]

Обозначим и внутренний и внешний радиусы кольцевой диафрагмы, — монохроматическую освещенность в фокальной плоскости выходного коллиматора при отсутствии эталона Фабри— Перо. Тогда с учетом выражения (12.12) монохроматический световой поток, пропускаемый кольцевой диафрагмой, б.удет равен [c.311]

Измерить некоторые характеристики эталона Фабри—Перо, используя сверхтонкую структуру зеленой линии ртути, и сопоставить их с теоретическими значениями. На рис. 109 дана полная картина составляющих заленой линии ртути. Из указанных составляющих при t = 3- -4 мм отчетливо распознаются компоненты Л, III, С. [c.175]

Световой пучок второго канала, минуя эталон Фабри—Перо, подается на полупрозрачную пластинку Д з и фокусируется одновременно со световым пучком канала на диаграмме 5g, которая выделяет нужную часть спектрального интервала из центрального кольца интерференционной картины. Линза L4 собирает далее пучок на катод фотоумножителя Ф. Диафрагма D регулирует световой поток в канале сравнения для правильной работы элек-тронно-регистрирующей схемы необходимо, чтобы световой поток в канале сравнения был больше, чем в рабочем канале. [c.182]

Основное преимущество установки Уодсворта — стигматич-ность изображения спектральных линий, что имеет особое значение при фотометрических работах со ступенчатым ослаблением, а также при совместной работе решетки с эталоном Фабри—Перо. [c.93]

Интерференционная картина эталона Фабри—Перо. Эталон Фабри—Перо состоит обычно из двух кварцевых или стеклянных пластин, установленных параллельно друг другу. Обращенные внутрь поверхности пластин покрыты отражающими металлическими или диэлектрическими слоями, частично пропускающими свет. При сборке и юстировке эталона эти поверхности устанавливаются взаимопараллельно с точностью до 0,01 длины световой волны. [c.97]

Это дает возможность сделать следующий практически важный вывод интенсивность колец эталона Фабри—Перо при изменении его толщины t меняется точно по такой же зависимости, как и при изменении длины волны X—Хц, которая описывается аппаратной функцией эталона это упрощает сканирование спектра изменением геометрической или оптической толщины эталона. По такой же зависимости интенсивность колец изменяется и при изменении Р . Последнее означает, что диаметр любого интерференцион- [c.105]

Рис. 12.6. Зависимость эффективного числа Ыаф интерферирующих пучков эталона Фабри—Перо от коэффициента отражения 7 его зеркал при различных значениях отклонения зеркал от взаимопараллельности

Оптиками принято при полировке оптических поверхностей точность изготовления называть качеством поверхности и оценивать ее в долях полосы АЫ, понимая под этим относительную величину местного искажения интерференционной полосы, наблюдаемой в воздушном клине при наложении на обрабатываемую деталь пробного стекла. Для пластины эталона Фабри—Перо пробное стекло заменяет вторая, парная ей, пластина эталона. Выразим отклонение пластин эталона от взаимопараллельности в долях полосы [c.107]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология