Апертурный угол объектива

Апертурный угол определяется лучом, идущим от точки объекта, лежащей на оси, к краю объектива (его входного зрачка), и осью. [c.60]

Если объект или отдельные его участки имеют кристаллическую структуру, то, кроме диффузного рассеяния, на контраст изображения будет влиять еще и дифракционное рассеяние. В общем случае углы дифракции превышают апертурный угол объектива, поэтому кристаллические участки в светлопольном изображении при прочих равных условиях кажутся более темными, чем аморфные. Если объект состоит из различных по структуре или различно ориентированных кристаллических участков, то в зависимости от ориентации объекта по отношению [c.262]

Коэффициент яркости можно рассматривать как предельный случай апертурного коэффициента отражения, когда телесный угол конуса выбирается предельно малым (близким к нулю). В этих условиях коэффициент яркости есть частное от деления энергетической яркости объекта к энергетической яркости идеального рассеивателя (т. е. рассеивателя, коэффициент отражения которого равен 1 и который рассеивает падающую на него энергию излучения равномерно по всем направлениям) [c.509]

При микроскопической работе апертура объектива ограничивается специальной апертурной диафрагмой 9 (см. рис. 20.1,а), которую устанавливают возле задней главной фокальной плоскости объектива. При переходе к наблюдению дифракционной картины эту диафрагму убирают в сторону, так как для обычных объектов исследования в металловедении межплоскостные расстояния слищком малы, а углы дифракции слишком велики и дифрагированные лучи задерживаются апертурной диафрагмой. Обычно апертурный угол объективной линзы равен тысячным долям радиана. Для межплоскостных расстояний около 0,1 нм углы дифракции электронов составляют около сотой доли радиана. [c.443]

Если объект или его отдельные участки имеют кристаллическую структуру, то кроме диффузного рассеяния на контраст изображения будет влиять еще и дифракционное рассеяние. В общем случае углы дифракции пре-выщают апертурный угол объектива, поэтому кристаллические участки в светлопольном изображении при прочих равных условиях кажутся более темными, чем аморфные (рис. 20.8). Если объект состоит из различных по структуре или различно ориентированных кристаллических участков, то в зависимости от ориентации объекта ио отнощению к электронному пучку или в зависимости от апертуры пучка яркость изображения этих участков может сильно измениться. Такие изменения контраста связаны с тем", что определенные участки объекта попадают в отражающее положение, при этом интенсивность луча нулевого максимума существенно уменьшается, а дифрагированный луч задерживается [c.444]

Препарат, подлежащий исследованию под микроскопом 1 осве-чивающего типа, должен быть прозрачным для электронов. Поглощение электронов недопустимо, так как может вызвать перегрев и разрушение препарата. Электроны, проходя сквозь препарат, соударяются с атомами вещества и вследствие этого рассеиваются. Угол, на который отклоняются при этом электроны, изменяется в зависимости от плотности и толщины препарата. Тонкие участки препарата меньше рассеивают электроны, поэтому проходящий через них плотный пучок частиц вызывает интенсивное свечение этих мест объекта на экране. Наоборот, толстые и плотные участки препарата рассеивают значительную часть проходящих через них электронов на большие углы, в результате этого они отсекаются апертурной диафрагмой объективной линзы и не попадают на экран. Такие участки препарата на экране имеют серую и темную окраски. [c.132]

Коэффициент отражения является другим предельным случаем понятия апертурного коэффициента отражения телесный угол конуса, в котором измеряется отраженный поток излучения, берется равным 2я (полусфера). Коэффициент отражения есть частное от деления потока излучения, отраженного от объекта в пределах указанного конуса, к потоку излучения, падаюшему на объект [c.509]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология