Константа термической ионизации дефекто

Константа термической ионизации решетки вычисляется по формуле (1У.26). К выражению для расчета констант ионизации дефектов можно прийти следующим путем. [c.183]

Сравнивая друг с другом уравнения, полученные для констант равновесия теплового разупорядочения решетки, распределения веществ между двумя фазами, реакций ассоциации-диссоциации и процессов термической ионизации дефектов и основной решетки, видим, что уравнение ( /1.49) является общим для всех этих констант. Величина Ко также может быть выражена общей формулой 15, стр. 341] [c.186]

Чтобы выразить константы равновесия в мольных долях, а не в числах частиц (дефектов) в единице объема, следует разделить величины Qn и Qp на число Nl молекул (атомов каждого сорта) в 1 см ZnS (это число составляет 2,53-1022). Учитывая это обстоятельство и подставляя найденные выражения для Q и Qp в уравнения (IV.26), (VI.34) и (VI.35), получим следующую общую формулу для констант равновесия процессов термической ионизации [c.186]

Итак, если известна ширина запрещенной полосы g и положение энергетических уровней дефектов, т. е. зонная диаграмма кристаллофосфора, то могут быть вычислены константы равновесия всех процессов ионизации. Существенно подчеркнуть, что в расчетах используются термические энергии ионизации. Экспериментальные способы их определения были рассмотрены в первой части книги. При расчете равновесных концентраций дефектов, отвечающих высокой температуре, необходимо учитывать температурную зависимость энергий ионизации. Ширина запрещенной полосы чаще всего уменьшается при нагревании кристалла. Это изменение Eg в определенном интервале температур может быть выражено формулой [c.187]

Второе условие приводит к уравненийм термической ионизации (VI. 13—VI. 19), в которых используются значения констант, отвечающие низкой температуре. Вместе с условием (VI.20) получаем систему из 12 уравнений — на одно уравнение меньше, чем при высокой температуре, поскольку концентрация [Vzn( ls)2] остается неизменной. Решая эту систему, можно найти концентрации дефектов, определяющих основные структурно-чувствительные свойства кристаллофосфора. [c.182]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология