Дифракция рентгеновских лучей полиэтилентерефталата

Рассчитанные значения температурных скачков примерно согласуются со значениями, вычисленными по работе деформирования при условии, что никаких тепловых процессов, связанных с кристаллизацией полимера, не происходит. В действительности методом дифракции рентгеновских лучей было показано, что при холодной вытяжке волокон из полиэтилентерефталата происходит слабая кристаллизация полимера. [c.271]

На основании экспериментов по малоугловому рассеянию рентгеновских лучей было найдено [2112], что количество кристаллитов и максимальный объем кристаллитов в аморфном полиэтилентерефталате, прогретом при 80—100 °С, зависит лишь от температуры. Получены функциональные зависимости от температуры скорости переориентации полиэтилентерефталата из аморфно-стеклообразного и расплавленного состояний [2113]. Методом дифракции рентгеновских лучей обнаружены две кристаллические модификации в полиэтилентерефталате [2114]. Методом неупругого рассеяния нейтронов изучено [2115] низкочастотное движение в полиэтилентерефталате. [c.426]

В работе [2090] для идентификации кристаллической промежуточной и аморфной фаз в полиэтилентерефталате использовали метод дифракции рентгеновских лучей. При исследованиях морфологии кристаллизации полиэтилентерефталата из раствора применялось широкоугловое и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей [2091]. С помощью экспериментов по рассеянию под малыми углами была установлена корреляция между периодом складывания цепи п температурой кристаллизации полиэтилентерефталата [2092], а также его количественная морфологическая характеристика [2093]. На основании данных исследования пленок полиэтилентерефталата методом ЯМР, дифракции рентгеновских лучей и оптическим методом дано 2094] описание молекулярной ориентации в этих пленках. Ллотность кристаллической фазы полукристаллических полимеров типа полиэтилентерефталата была вычислена из размеров элементарной кристаллической ячейки, полученных методом дифракции рентгеновских лучей [2095]. [c.425]