Бахрома Брэгга

Бахрома Брэгга и темнопольный метод исследования [c.254]

Рассмотрение областей применения методов, основанных на явлениях дифракции электронов и используемых для изучения структуры полимеров, выявило их преимущества по сравнению с рентгенографическим анализом, что объясняется возможностью комбинирования чисто дифракционных методов с электронно-микроскопическим наблюдением дифрагирующих структурных элементов (фибриллы, пластины и т. п.). Именно таким путем можно установить определенную взаимосвязь между морфологическим типом структуры и ее кристаллографическими характеристиками. С другой стороны, дифракционные эффекты могут играть чрезвычайно важную роль при интерпретации результатов электронно-микроскопических исследований. Часто на электронно-микроскопических снимках, помимо обычной контрастности, обусловленной различием в толщине или в плотности образца, наблюдается появление дополнительного контраста, вызванного дифракцией электронов от плоскостей кристаллической решетки [5, 46]. Контраст, обусловленный такого рода дифракцией электронов, получил название бахрома Брэгга (рис. 153). [c.254]

Если при исследовании кристалла в электронном микроскопе добиться полного поглош,ения электронов, то ожидаемого равномерного затемнения экрана на самом деле не наблюдается. Скорее оказывается, что большинство кристаллов дифрагирует не полностью и условие Брэгга [уравнение (УП-З)] выполняется только в определенных областях кристаллов. Такое явление может быть вызвано, например, наличием напряжений в кристалле или истинными нарушениями в его структуре. Поэтому на микрофотографиях кристалла эти области, соответствующие определенным углам отражения электронов от плоскостей кристаллической решетки, будут казаться более темными, поскольку они образованы меньшим числом электронов, чем остальное изображение. Такое возникновение бахромы Брэгга может иметь большое значение при исследовании однородности и тонкой структуры кристаллов. [c.256]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология