Темнопольный метод

Среди разнообразных методов исследования при помощи электронного микроскопа просвечивающего типа можно выделить группу методов, различающихся условиями образования изображения. К этой группе целесообразно отнести светлопольный и темнопольный методы, метод муара и микродифракцию. [c.15]

Наиболее универсальным является обычно применяемый светлопольный метод, при помощи которого можно исследовать препараты, приготовленные любым из описанных в главе II способов. Темнопольный метод в принципе пригоден для изучения как кристаллических, так и аморфных тел, однако на современном уровне развития электронной микроскопии его целесообразно применять почти исключительно для изучения кристаллических препаратов. Остальные методы предназначены для исследования кристаллов (или для препаратов, содержащих достаточно ярко выраженные элементы кристаллической структуры), причем для осуществления, метода муара необходимо подбирать определенным образом ориентированные друг относительно друга кристаллы с некоторыми оптимальными значениями толщин и параметров кристаллической решетки. Несмотря на некоторые ограничения, эти методы вполне заслуживают право на самостоятельное существование. Микродифракция является сочетанием электронной дифракции [c.15]

Таким образом, просвечивающая электронная микроскопия в настоящее время располагает целым рядом методов исследования, причем некоторые из них сформировались совсем недавно. Тем не менее более детальное рассмотрение этих методов является целесообразным в связи с их перспективностью и быстро растущим числом приложений. Кроме того, например, разработка метода охлаждения препаратов в микроскопе привела к выяснению тех специфических условий, в которых находятся препараты во время электронной бомбардировки. Светло-польный и темнопольный методы и стереоскопия описаны в отечественных монографиях, цитированных во введении, и поэтому в данной книге будут изложены только их основные принципы. [c.16]

Благодаря этому в сочетании с электронографическим исследованием того же препарата возможно индицирование отражений, присутствующих на темнопольных микрофотографиях. Таким образом, темнопольный метод является важным дополнением к электронографии. [c.19]

На фото 88 приведена микрофотография пленки полиэтилена, предварительно высушенной и растянутой. Здесь отчетливо виден резкий переход от изотропной к высокоориентированной части полимера, в которой сферолиты совершенно отсутствуют. Особенно удобны для наблюдения тонкие нити, образующиеся при разрыве ориентированных и, несомненно, кристаллических полупрозрачных участков. Нити представляются не однородными, но как бы узловатыми, содержащими образования размером в несколько сотен ангстрем. Так как эти образования являлись единственными неоднородностями, которые удается заметить в кристаллической пленке, то это дало авторам основание предположить, что они представляют собой элементарные кристаллики полиэтилена. Во всяком случае размер элементарных кристалликов не может превышать размеры обнаруженных неоднородностей. Следует добавить, что, вероятно, более определенные сведения по этому вопросу дало бы применение темнопольного метода и, в особенности, микродифракции. Для растяжения же пленок целесообразно применять устройства, позволяющие проводить эту операцию непосредственно в микроскопе [60, 61]. [c.260]

Бахрома Брэгга и темнопольный метод исследования [c.254]

Кроме того, дифрагированные лучи могут быть также использованы для получения изображения объекта. Для этого путем горизонтального смещения апертурной диафрагмы объективной линзы добиваются прохождения через нее рассеянных электронов при полной задержке их первичного пучка. Используя темнопольный метод исследования, можно получать изображения кристаллов, на которых их отдельные участки, соответствующие плоскостям решетки, находящимся в положении отражения, будут казаться светлыми на общем темном фоне. Рис. 161 иллюстрирует этот факт на примере темнопольной микрофотографии кристалла полиэтилена [401. [c.256]

Для исследования тонких неконтрастных препаратов, кроме метода фазового контраста, применяют фазово-темнопольный метод, позволяющий различить меньшие разности оптических плотностей. Фазово-темнопольные объективы имеют более высокую разрешающую способность, чем фазовые. Для работы необходимо специальное устройство МФА-2, которое используется с биологическими микроскопами. [c.44]

При работе по темнопольному м е то д у через апертурную диафрагму проходят лишь электроны, рассеянные образцом, при этом на экране наблюдается темное поле, окаймляющее светлые участки, отвечающие по форме плотным ( рассеивающим ) частицам об1эекта. Особенность темнопольного метода — повышенная контрастность изображения. Пользуясь темнопольным методом, можно более отчетливо определить принадлежность рассматриваемого материала к кристаллическому или аморфному классу веществ, что весьма важно при распознавании гидратированных новообразований и компонентов смеси. Он позволяет установить связь между электронно-микроскопическим изображением данного участка объекта и его электронограммой. [c.132]

Темпопольный метод исследования особенно продуктивен при изучении неоднородностей в тонких слоях. В монокристаллических пленках неоднородности вызываются различной ориентацией структурных составляющих, возникающих за счет посторонних включений, сморщивания и т. п. Эти неоднородности отчетливо выявляются темнопольным методом, тогда как на светлопольпых микрофотографиях получается равномерно освещенное поле. [c.214]

Темнопольный метод исследования осуществ язтся в том случае, когда до экрана доходят только электроны, рассеянные объектом, образуя на нем темное поле, окаймляющее светлне места, отвечающие плотным рассеивающим, частицам образца. Этот метод может быть успешно использован для определения аморфного или кристаллического состояния вещества, что представляет большой интерес при исследовании катализаторов. [c.105]

Однако применение темнопольного метода для исследования полимеров ограничено некоторыми трудностями. Так, этот метод обязательно требует использования электронного пучка высокой интенсивности, что вызывает быстрое разрушение кристаллов. Но несмотря на такие ограничения, этот метод во многих случаях применялся с большим успехом. Так, например,используя темнопольный метод, удалось выяснить некоторые особенности строения монокристаллов полиэтилена [33—35, 46]. Было показано, что монокристаллы состоят из четырех различных структурных секторов. Эти секторы удовлетворяют различным дифракционным условиям относительно направления элек- [c.256]

Другое интересное применение темнопольного метода было описано Скоттом [48], который провел электронно-микроскопическое исследование срезов волокон линейного полиэтилена. Микрофотографии этих срезов не были равномерно светлыми, но кристаллические области выделялись в виде ярких участков. Размер этих участков хорошо соответствовал размеру кристаллитов, вычисленному по ширине рентгеновских дифракционных максимумов при больших углах рассеяния с того же образца и по результатам рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. Из этой работы следует важный вывод о реальном существовании кристаллитов. Используя темнопольный метод для исследования сферолитов найлона-6,6, Скотт [43] наблюдал расщепление тем1Юго изображения на систему мелких пятен, обусловленных существованием дискретных кристаллических областей. [c.257]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология