Дифракционные эффекты

Таким образом, электроны, ускоренные в поле с разностью потенциалов 40 киловольт (кВ), дают такие же дифракционные эффекты, которых можно ожидать от электромагнитных волн с длиной порядка шесть сотых ангстрема. [c.356]

Близко к этому методу (рентгенографии) стоит метод дифракции электронов (электронография). Волновая механика показывает, что при действии пучка электронов на поверхность кристалла возникают те же дифракционные эффекты, что и при действии рентгеновских лучей. Определение структуры кристаллов и молекул методом дифракции электронов привело к результатам, полностью совпадающим с результатами, получаемыми с помощью рентгенографии, В последние годы с этой же целью стали применяться и нейтроны (нейтронография), что дало возможность определять положение и водородного атома, чего не удавалось достигнуть методами рентгенографии и электронографии. [c.123]

Эти полуклассические квантовые поправки часто относят к дифракционным эффектам , так как они включают отношение длины волны де Бройля к диаметру молекулы. На ошибочность такой интерпретации указывает существование квантовых поправок применительно к модели одномерного газа, состоящего из жестких линейных сегментов [62], хотя дифракция не может происходить в одном измерении. Поправки действительно появляются из-за исключенного объема, что можно доказать простым физическим аргументом. Исключенный объем можно учесть, уменьшая объем сосуда на величину, пропорциональную объему, занимаемому самими молекулами [c.58]

Принципиальная схема светового микроскопа представлена на рис. V. 1 а. Обычный микроскоп представляет собой двухступенчатый оптический увеличитель. В нем имеется система линз, называемая объективом 4, которая проектирует увеличенное изображение объекта S. Это промежуточное изображение 5 увеличивается другой системой линз — окуляром 6, через который ведет наблюдение исследователь. Объектив и окуляр помещены в тубусе микроскопа на одной оптической осн. Для устранения нежелательных дифракционных эффектов и обеспечения должной разрешающей способности предназначена система линз конденсора 2, благодаря которому пучок света от лампы / концентрируется в плоскости исследуемого объекта. Конечное изображение 7 регистрируется на фотопластинку 8. [c.248]

Как видно из приведенных результатов, значение х, при котором осуществляется максимальный эффект преобразования, меняется в пределах 0,28 х 0,32. Сравним эти результаты с осевым изменением амплитуды разностной волны в гауссовском пучке и пучке с амплитудой, распределенной по полиному четвертой степени при различных параметрах, характеризующих соотношение нелинейных и дифракционных эффектов в пучке накачки, приведенных в работе [85]. Роль 3 сводится к уменьшению амплитуды разностной волны. Амплитуда разностной волны увеличивается с ростом соотношения частот. Волновой фронт разностной волны, плоский вначале, затем искривляется. Очевидно для волны В, эти тенденции должны сохраниться. [c.25]

Если г=0,Ъй, то согласно (2.15) величина Р 1Ро обращается к бесконечность. Однако с учетом дифракционных эффектов ультразвук фокусируется не в точку, а в пределах кружка Эри (см. п. [c.115]

Для расчета дифракционных эффектов в стареющих сплавах обычно используют два теоретических подхода. В одном из этих подходов рассматривав т рассеяние рентгеновских лучей на отдельном нарушении, а затем рассчитывают интерференционную картину, обусловленную вторичными волнами, идущими от этих нарушений, и производят усреднение по всем конфигурациям распределений нарушений по кристаллу матрицы. В другом подходе кристалл снлава рассматривается как периодическая структура, состоящая из средних атомов, образующих кристаллическую решетку. В такой модели все возможные нарушения правильной периодичности описываются с помощью флуктуационной волны, искажающей правильную кристаллическую решетку среднего сплава. Такая флуктуационная волна может описывать либо изменение концентрации сплава, либо распределение статических смещений атомов, либо то и другое одновременно. В этом случае периодиче- [c.105]

При экспериментальных рентгеновских исследованиях большой группы стареющих сплавов на рентгенограммах были обнаружены эф-X фекты диффузного рассеяния в виде сателлитов, сопровождавших главные максимумы дифракционного спектра матричного кристалла. Для объяснения этих дифракционных эффектов были предложены различные модели структуры твердого раствора па промежуточных стадиях распада, получивших название периодических и апериодических модулированных структур. [c.108]

Для расчета дифракционных эффектов в сплавах с модулированными распространенным стал второй подход, [c.108]

Предложенная в [И] модель структуры сплава с синусоидальной флуктуацией концентрации в общих чертах достаточно хорошо описывала дифракционные эффекты на рентгенограммах стареющих сплавов, но не объясняла расхождений в распределении интенсивности сателлитов. В ряде последующих работ были предложены модифицированные одномерные модели модулированных структур, частично устранившие расхождение результатов эксперимента с расчетами дифракционных спектров. Однако дальнейшие исследования стареющих сплавов показали, что с помощью одномерных моделей модулированных структур нельзя объяснить все экспериментально наблюдавшиеся эффекты диффузного рассеяния. К примеру, эти модели не объясняют появление сателлитов около основных отражений матрицы по направлениям типа <110)> и <111> — так называемые перекрестные сателлиты [12]. [c.110]

Рассеяние рентгеновских лучей электронами может быть когерентным (без изменения длины волны) и некогерентным. Во втором случае часть энергии рентгеновского кванта при упругом соударении передается электрону (эффект Комптона, который наблюдается в основном для жесткого рентгеновского излучения). Интерференция когерентно рассеянного излучения приводит к дифракционным эффектам. Поскольку длины волн рентгеновских лучей сравнимы с межплоскостными расстояниями в кристаллах, то кристаллы играют роль дифракционных решеток. Представим кристалл как комплекс параллельных плоскостей, на которых расположены атомы. Вследствие периодического строения расстоя- [c.12]

За последние годы для определения структуры кристаллов и молекул сравнительно широко применяется метод дифракции электронов (электронография). Метод заключается в том, что при действии пучка электронов на поверхность кристалла возникают те же дифракционные эффекты, что и при действии рентгеновских лучей. [c.59]

Периодическая повторяемость одинаковых атомных группировок или, иначе говоря, трансляционная симметрия в их расположении, является обязательным свойством всякого кристалла. Но атомы кристалла могут быть связаны между собой не только трансляциями, но и другими операциями симметрии. Присутствие последних также сказывается в той или иной степени на дифракционных эффектах и, следовательно, может быть использовано в процессе определения атомной структуры кристалла. [c.5]

Понятно поэтому, что изложение основ рентгеноструктурного анализа кристаллов немыслимо без предварительного ознакомления с некоторыми понятиями, представлениями и обозначениями, принятыми в структурной кристаллографии и в первую очередь в теории симметрии кристаллов. С этих представлений и целесообразно начать, предварительно оговорившись, что в задачу автора отнюдь не входит последовательное изложение всех основ теории симметрии. Будут рассматриваться лишь те ее аспекты, которые абсолютно необходимы для понимания особенностей дифракционных эффектов, возникающих при прохождении рентгеновских лучей через кристаллы, и правильного (грамотного) описания самой структуры кристалла. [c.5]

Трансляционная система кристалла играет опреде-ляюш,ую роль в геометрии дифракционного эффекта, возникающего при прохождении рентгеновских лучей через кристалл. Параметры и другие характеристики решетки входят во все основные формулы рентгеноструктурного анализа. Поэтому следует познакомиться с некоторыми вспомогательными понятиями и обозначениями решетчатой кристаллографии . К таковым относятся понятия узловых рядов и узловых сеток и вспомогательный образ — обратная решетка. [c.8]

Методы получения дифракционного эффекта [c.54]

Другие способы представления дифракционного эффекта. [c.58]

Неравномерность зависимости интенсивности от угла рассеяния позволяет использовать дифракционный эффект для структурных исследований веществ в любом агрегатном состоянии. Сказанное в одинаковой мере относится к дифракции рентгеновских лучей, электронов и [c.129]

Трансляционная система кристалла играет определяющую роль в геометрии дифракционного эффекта, возникающего при прохождении рентгеновских лучей [c.7]

Др угие способы представления дифракционного эффекта. Индицирование рентгенограмм [c.58]

Если второй дифракционный луч p q r достаточно интенсивный, то он может создать заметный вторичный дифракционный эффект. Чтобы учесть результаты этого эффекта, нужно принять луч ОЕ за первичный, т. е. перенести начало координат обратной решетки в точку Е без изменения ориентации решетки. Точка О совместится с точкой Е, а точка R с точкой D, и, следовательно, в направлении GD должен возникнуть не только дифракционный луч pqr, но и вторичный (от луча p q r ) дифракционный луч р—р, q—q, г—г. Лучи pqr и р—р, q—q, г—г имеют разную начальную фазу, и в зависимости от сдвига по фазе второй из них может как усилить, так и ослабить луч pqr. [c.62]

Области применения трех методов получения дифракционного эффекта [c.64]

Электронографический метод получения дифракционного эффекта от текстурированной пленки вещества с варьированием толщины пленки или скорости электронов первичного пучка. [c.148]

Требование к исследуемому образцу. Для получения дифракционного эффекта требуется кристалл определенного размера. Последний зависит от коэффициента рассеяния и быстроты поглощения лучей в веществе поток электронов полностью поглощается при прохождении через слой в несколько микронов рентгеновские лучи дают достаточную интенсивность рассеяния при пересечении слоя в 1 мм для ощутимого рассеяния потока нейтронов нужны уже не миллиметры, а сантиметры. Поэтому для рентгеноструктурных исследований необходим монокристалл с размерами в пределах 0,1 —1,0 мм. В частности, можно использовать игольчатые (нитевидные) кристаллы очень небольшого поперечного сечения. Для нейтронографического исследования обычно требуется более массивный монокристалл — размером в 0,5—1 см (что, впрочем, существенно зависит от интенсивности первичного пучка нейтронов). Получение таких монокристаллов часто составляет самостоятельную техническую проблему. Наоборот, в электронографии можно пользоваться лишь кристаллическими пленками. Обычно они создаются путем кристаллизации вещества на аморфной, прозрач- [c.172]

Неравномерность зависимости интенсивности от угла рассеяния позволяет использовать дифракционный эффект для структурных исследований веществ в любом агрегатном состоянии. Сказанное в одинаковой мере относится к дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов. Помимо рентгеноструктурного анализа кристаллов наибольшее распространение и признание получили рентгенография стекол и особенно электронография газов и паров. [c.174]

Известно [112, 120], что использование картин Муара позволяет наиболее отчетливо выявлять небольшие искажения кристаллической решетки. Данный принцип основан на том факте, что небольшие изменения в трансляционной симметрии приводят к заметным изменениям в картинах Муара. Картины Муара часто наблюдаются в тех случаях, когда изображения кристаллических решеток двух соседних зерен накладываются друг на друга. Характерными чертами картин Муара при электронно-микроскопических исследованиях искажений кристаллической решетки являются искривления получаемых изображений кристаллографических плоскостей и часто изменение расстояния между ними. С другой стороны, наблюдаемые явления могут быть вызваны дифракционными эффектами. [c.66]

Учитывая потребности промышленности, можно ожидать появления способов контроля сварки давлением. Кстати, фотоакустиче-ский метод по предварительным данным выявляет слипания в диффузионной сварке (выполняется сдавливанием в вакууме). В литературе [7] имеются пока недостаточно проверенные положения о том, что дефект типа слипания можно обнаружить, если направить волну вдоль него. Взаимодействие дефекта и волны на значительном протяжении может вызвать появление головных волн и других дифракционных эффектов. Применительно к контролю свар- [c.265]

Таким образом, существует три классических метода получения дифракционного эффекта от кристалла полихроматический метод (или метод Лауэ), метод порошка (или метод Дебая — Шерера) и метод враш ения монокристалла. Различные схемы, основанные на методе вращения, но включающие то или иное перемещение кассеты с рентгеновской пленкой, называют рентгенгониометрическими. [c.55]

Интерференционное уравнение позволяет также наглядно проследить связь между лауэвским и брэгговским представлением дифракционного эффекта. Если обе части векторного равенства взять по абсолютной величине, то приходим снова к уравнению Брэгга если же обе части умножить на о, O и с последовательно, то получим три условия Лауэ. Например, [c.61]

Рис. 29. Иллюстрация закона центросимметричности дифракционного эффекта

НИИ центра инверсии в начале координат. Это вытекает из рис. 35 (атомы / и / связаны как вектором ы,-/ так и вектором = — ,/, из формулы (45) (возможность замены переменных / наг—и без изменения результата) и, наконец, из формулы (46) (косинус — центросимметричная функция). Результат и не мог бы быть иным, поскольку по закону Фриделя дифракционный эффект центросимметричен, а паттерсоновская функция основана только на экспериментальных дифракционных данных. [c.94]

Требование к исследуемому образцу. Для получения дифракционного эффекта требуется кристалл определенного размера. Последний зависит от коэффициента рассеяния и быстроты поглощения лучей в веществе поток электронов полностью поглощается при про.хождении через слой в несколько микронов ренггеновские лучи дают достаточную интенсивность рассеяния при пересечении слоя в 1 мм для ощутимого рассеяния потока нейтронов нужны уже не миллиметры, а сантиметры. Поэтому для рентгеноструктурных исследований необходим монокристалл с размерами в пределах 0,1 —1,0 мм. В частности, можно использовать игольчатые (нитевидные) кристаллы очень небольшого поперечного сечения. Для нейтронографического исследования обычно требуется более массивный монокристалл — размером в 0,5—1 см (что, впрочем, существенно зависит от интенсивности первичного пучка нейтронов). Получение таких монокристаллов часто составляет самостоятельную техническую проблему. Наоборот, в электронографии можно пользоваться лишь кристаллическими пленками. Обычно они создаются путем кристаллизации вещества на аморфной, прозрачной для электронов подложке. При этом, как правило, возникает не монокристальная, а поликристалличе-ская пленка. Для структурного анализа, однако, важно, чтобы кристаллики пленки имели в ней некоторую преимущественную ориентацию. Добиться кристаллизации такой текстурированной пленки удается не всегда. [c.128]

Роль возбудителя дифракционных эффектов в кристалле могут выполнять рентгеновские лучи, поток электронов или поток нейтронов при соответствующей скорости (по соотношению де Бройля частице с массой т и скоростью V соответствует волна длиной Х=Ь1тю). Соответственно существуют три дифракционных метода структурного анализа рентгеноструктурный, электронографический и нейтронографический. [c.47]

В нейтронографии, использующей в качестве лучей поток нейтронов, аналогом метода энергодисперсионной дифрактометрии можно считать в р е м я п р о л е т н у ю методику регистрации дифракционного эффекта, позволяющую разделять в пучке нейтронов компоненты с разным временем прохождения от кристалла до детектора, т. е. нейтроны разной скорости, а следовательно, и с разной длиной волны X, определяемой соотношением де Бройля x = hlnw. [c.58]

Выше отмечалось (гл. И, 2), что любая волна помимо ее направления и длины характеризуется амплитудой Е и начальной фазой б, причем интенсивность луча пропорциональна квадрату амплитуды волны. На одномерном примере было показано, что суммарный дифракционный эффект представляет собой наложение (интерференцию) волн, рассеянных отдельными атомами, и оба параметра дифракционной волны — рез и брез — зависят и от природы рассеивающих атомов, и от их взаимного расположения, т. е. относительных координат в элементарной ячейке. Наша главная задача заключается в том, чтобы найти математическую форму этой зависимости, т. е. представить рез И бре В функции рассеивающей способности атомов и их координат. Далее следует рассмотреть вопрос о возмож- [c.92]

Для получения заданной температуры образцы охлаждались до температуры несколько ниже тройной точки, что приводило к затвердеванию аргона и ксенона. Твердое состояние образцов обнаруживалось при наблюдении дифракционных максимумов, характерных для кристалла. Затем каждый образец слегка подогревали до тех пор, пока эти максимумы не исчезли. Разность между температурой, при которой наблюдалась смесь твердой и жидкой фаз, и температурой, при которой дифракционные максимумы соответствовали только жидкой фазе, составляли 0,3 0,1 К. Кривые интенсивности получены в монохроматическом молибденовом излучении с помощью 0 — 0 -дифрактометра. Регистрация рассеянного излучения производилась в интервале 5 от 0,3 до 14 Дифракционные эффекты наблюдались до значений 5=9 А 1 для аргона и S = 8 А для ксенона. Положение максиму MOB интенсивности и вычисленные по ним кра1чайшие межатомные рас стояния Ri и средние числа ближайших соседей приведены в табл 15. Там же указаны значения энергии парного взаимодействия атомов Экспериментальные кривые атомного распределения были соиоставле ны с теоретическими, рассчитанными методом идеальных пиков [c.159]

ТОЧНО не известно, так как из-за дифракционных эффектов контур стенки оказывается размытым. Ближайшая к стенке интерференционная полоса накладывается иа дифракционную картину, вследствие чего нельзя точно определить положение полосы (см. увеличенный участок интерферограммы иа фиг. 65). Эту проблему можно обойти, если проэкстраполировать распределение температуры (у), [c.187]

При измерении малых частиц могут возникнуть весьча значительные ошиб ки, обусловленные дифракционными эффектами и приводящие к завышению размеров частиц при визуальном измерении под оптическим микроскопом Вре аультате гистограммы распределения размеров частиц могут смещаться в сто рону больших размеров [c.229]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология