Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Площадь пика определение при наложении двух

    Высокая чувствительность и четко выраженная специфичность к веществу позволяют с упехом применять метод селективного детектирования ионов для количественного определения примесей в многокомпонентных смесях. Прежде чем приступить к препаративной подготовке исследуемого материала, в него вносят точно известное количество вещества сравнения в качестве внутреннего стандарта, соотнося его концентрацию с ожидаемым содержанием анализируемого компонента. В качестве внутреннего стандарта используют, как правило, соединения высокой изотопной чистоты, многократно меченные стабильными изотопами с разностью по массам но крайней мере на 3 единицы по сравнению с определяемым немеченым соединением, чтобы исключить наложение попарных пиков выбранных изотопных аналогов в одном и том же спектре. Для анализируемого соединения выбирают два характеристических иона (по возможности с интенсивными пиками), которые вместе с соответствующими ионами внутреннего стандарта, меченного стабильными изотопами, образуют две изотопно-массовые пары. Одновременное ион-селективное детектирование изотопно-массовых пар дает четыре сигнала, которые ввиду равенства времен удерживания исследуемого соединения и стандарта проявляются одновременно. Концентрация исследуемого соединения может быть определена непосредственно интерполяцией в выбранной области концентраций из измерения высот или площадей сигналов с учетом линейности ранее построенных градуировочных кривых. При наложении пиков одной из двух выбранных масс в оценке концентраций обоих ионов сразу же отмечаются заметные, существенные отклонения. [c.301]



Введение в термографию Издание 2 (1969) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Наложение

Площадь

Площадь пика, определение



© 2025 chem21.info Реклама на сайте