Лучи катодные рентгеновские, дифракция

С принципиальной стороны рассматриваемые методы не вполне эквивалентны, так как дифракция рентгеновских лучей вызывается преимущественно электронами, а катодных — атомиы.ми ядрами. Иначе говоря, при рентгенографическом исследовании устанавливается расположение в пространстве центров тяжести электронных облаков атомов, а при электронографическом — их ядер. Однако, как правило, одно практически совпадает с другим, и оба метода дают хорошо сходящиеся результаты. [c.295]

Дифракция электронов в очень тонких пленках силикатных стекол используется как вспомогательный метод при определении структуры стекла . В противоположность интерференции рентгеновских лучей катодные лучи дают высокую дифракционную интенсивность только при малых углах скольжения. Результаты этого исследования удовлетворительно согласовались с межионными расстояниями, определенными Уорре- [c.181]

Но вот произошло открытие рентгеновских лучей и радиоактивности. В 1895 г. Вильгельм Рентген (1845-1923) проводил опыты с сильно ваку-умированными круксовыми трубками (см. рис. 1-11), что позволяло катодным лучам соударяться с анодом без препятствий, создаваемых молекулами газа. Рентген обнаружил, что при этих условиях анод испускает новое излучение, обладающее большой проникающей способностью. Это излучение, названное им х-лучами (впоследствии его стали также называть рентгеновскими лучами), легко проходит через бумагу, дерево и мышечные ткани, но поглощается более тяжелыми веществами, например костными тканями и металлами. Рентген обнаружил, что х-лучи не отклоняются в электрическом и магнитном полях и, следовательно, не являются пучками заряженных частиц. Другие ученые предположили, что эти лучи могут представлять собой электромагнитное излучение, подобное свету, но с меньшей длиной волны. Немецкий физик Макс фон Лауэ доказал эту гипотезу спустя 18 лет, когда ему удалось наблюдать дифракцию рентгеновских лучей на кристаллах. [c.329]

Для понимания процессов анодной пассивации и ингибирования растворения металлов, коррозионных процессов, ингибирования анодного окисления водорода и органического топлива чрезвычайно существенно знать свойства пассивирующей пленки. Ингибирующие пленки, состоящие из окислов металлов, обычно изучают различными методами, основанными на тонкопленочной катодной кулонометрии, химическом десорбировании и анализе, дифракции рентгеновских лучей (в случае тонких окисных пленок на никеле и железе), а также оптическими методами с использованием эллипсометра. Существенное преимущество последнего подхода в том, что он является методом in situ и легко применим к изучению гладких металлических поверхностей, на которых происходит анодное растворение, окисление или пассивация. В ряде случаев удается получить информацию не только о толщине пленки, но и о ее диэлектрических свойствах и о высокочастотной проводимости, и это помогает выяснить роль изменений электрических и физических свойств защитных или пассивирующих пленок. Особенный интерес представляет выяснение критических [c.400]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология