Критерии разрешения

Рис, 2.4, К определению критерия разрешения Релея [c.22]

Рис. 37. Критерий разрешения днух спектральных линий.

В этом случае две линии равной яркости, различающиеся по длинам волн на величину удовлетворяющую критерию разрешения Рэлея, образуют суммарный инструментальный контур, ордината минимума которого составляет 80% от его максимума. [c.77]

Разрешающая способность. Критерий разрешения Рэлея, относящийся к распределению освещенности в изображении бесконечно узкой щели, выражаемому формулой (1.14), применим и к приборам с плоскими дифракционными решетками, дающими распределение вида (11.42). Будем считать две монохроматические спектральные линии с длинами волн Я и Я + бЯ разрешенными, если положение главного максимума k-ro порядка одной из них совпадает с положением ближайшего минимума другой линии. На расстоянии от главного максимума до первого минимума аргумент функции (v) в (11.42) изменяется на малую величину ov = п/т, а значение функции Ф и) остается практически постоянным, так что распределение освещенности вблизи главного максимума (вблизи V = кл) определяется только функцией Y (а). Положим [c.58]

В [106] был дан еще один практический критерий разрешения хроматографии. Оказалось, что условию Jo > 7 удовлетворяют такие колонки, на которых пики стандартов полистирола, взятых с промежутком в A gMp> 0,6 (через один), делятся с > 1. [c.138]

Для определения разрешаюш,ей силы эталона нельзя воспользоваться критерием Рэлея, так как в кривой интенсивности (рис. 62) отсутствуют дополнительные максимумы и минимумы, характерные для призмы и дифракционной решетки. Поэтому в качестве критерия разрешения можно взять такое расстояние между линиями, когда глубина провала в минимуме суммарной кривой интенсивности, даваемой двумя близкими линиями одинаковой интенсивности, равна 0,2 от интенсивности в максимуме. Вычисленная таким образом разрешающая способность дает возможность правильно сравнивать разрешающую способность эталона с вычисленной по Рэлею разрешающей способностью дифракционной решетки или призмы. [c.164]

Практическая разрешающая сила. В предыдущих главах были подробно рассмотрены вопросы, связанные с разрешающей силой призмы и дифракционной решетки, и выведены соответствующие формулы (1.28) и (2.17). При этом предполагалось, что инструментальный контур определяется только явлением дифракции. В этом случае две линии равной яркости, различающиеся по длинам волн на величину бХ, удовлетворяющую критерию разрешения Рэлея, образуют суммарный инструментальный контур, ордината минимума которого составляет 80% от его максимума. [c.75]

Исходя из предложенной Бадером теории возмущений (см. 13.2), Пирсон пришел к имеющему широкую область применимости простому критерию разрешенности или запрещенности химических реакций, в основу которого положены соображения симметрии [15]. Сам Пирсон формулирует этот критерий следующим образом Реакция разрешена, если симметрия вновь образуемых связей такая же, как симметрия связей нарушаемых . [c.401]

Для формализации критерия разрешения будем считать, что для надежного разрешения изображений указанных стержней по томофамме необходимо иметь [c.132]

Определение характеристик (1а и й/ непосредственно из спектрограммы в ряде случаев сопряжено с существенными трудностями. В первую очередь это касается величины йа, так как задача вплотную соприкасается с проблемой оценки разрешаемого интервала и соответственно с выбором критерия, который дол кен осуществляться с учетом результатов исследования проектной модели прибора и априорных сведений об исследуемом распределении ф(сг). До настоящего времени не выработана единая методология в решении данного вопроса, поэтому в каждом конкретном случае выбор критерия осуществляется индивидуально. Анализ известных критериев разрешения с рекомендациями и предложениями моукно найти в работах [18, 23, 37—39]. [c.132]

А А. Подготовка рентгеновской съемки кристаллов нативного белка или его производных. Закрепление кристаллов в капил-лярах. После того как кристаллы и их производные получены, необходимо исследовать их с помощью рентгеновской дифракции, чтобы определить пригодность для дальнейшей работы. Существуют два первичных критерия разрешение и изоморфизм. Для того чтобы можно было провести рентгеновские съемки, кристалл должен быть помещен в тонкостенный капилляр (рис. 20.9). С помощью тонкой пастеровской пипетки кристалл вместе с каплей маточного раствора переносят из кристаллизационной ячейки в капилляр. Для предотвращения изменения ионной силы во время съемки (например, в результате высыхания) в один из концов капилляра помещают дополнительную каплю маточного раствора и открытый конец капилляра герметично заклеивают зубным воском. Для удаления избытка жидкости вблизи кристалла пользуются тонкими полосками фильтровальной бумаги. Удаление избытка жидкости снижает фоновое рассеивание рентгеновских лучей, и кристалл лучше удерживается в неком фиксированном положении силами поверхностного натяжения следовых количеств жидкости вокруг него. В оставшийся открытым конец капилляра вводят еще одну каплю маточного раствора и закрывают его воском (рис. 20.9). Обычно начинают с того, что концы тонкостенного капилляра (длиной 30—40 мм) заранее покрывают воском так, чтобы после внесения кристалла и маточного раствора его можно было закупорить быстро и герметично. [c.541]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология