Постоянные кристаллических решеток

Постоянные кристаллических решеток..............................199 [c.6]

Постоянные кристаллических решеток. ... [c.200]

Для исследования структуры кристаллов применяют также метод, основанный на дифракции медленных нейтронов. Рассеяние их потока происходит в результате взаимодействия с ядрами микрочастиц, образующих кристалл. Поэтому положение последних в кристаллической структуре можно определить с большой точностью вплоть до 0,0001 нм. Метод применим лишь для изучения структуры веществ, атомы которых обладают малым сечением захвата нейтронов. Известен также метод изучения структуры кристаллов, основанный на дифракции электронов. Исследуемый образец готовят в форме тончайшей пленки толщиной 10—100 нм и помещают в специальную вакуумную камеру. Точность определения положения микрочастиц в кристалле составляет порядка 0,003 нм. Методы, основанные на дифракции нейтронов и электронов, определяют положение атомных ядер в кристаллической структуре и не подвержены влиянию поляризуемости связей. Поэтому они позволяют более точно рассчитать постоянные кристаллических решеток в сравнении с величинами, определенными из рентгенограмм вещества. [c.92]

Постоянные кристаллических решеток [c.170]

Пропорциональность молекулярной рефракции объему частиц оказалась весьма ценной для определения радиусов ионов из постоянных кристаллических решеток. [c.105]

Постоянные кристаллических решеток различных модификаций FeS и сверхструктуры приведены в табл. 68. [c.173]

Постоянные кристаллических решеток твердых растворов германия и кремния изменяются почти линейно в зависимости от их состава (рис. 34). [c.81]

Стефана — Больцмана электрическая Постоянные кристаллических решеток химические газов Потенциал (ы) диффузионный изобарно-изотермический, изменение [c.154]

Чтобы найти значение радиуса одного из них, следует знать значение радиуса другого. С помощью оптических методов Вазаштерна удалось относительно строго и точно вычислить радиусы ионов фтора и кислорода гр = = 1,32 А и го - = 1,33 А. Пользуясь этими данными и зная постоянную кристаллических решеток различных фторидов и оксидов, можно находить радиусы различных ионов. [c.89]

Приложение 26 Постоянные кристаллических решеток и плотность оксифторидов типа ЬпОР [c.297]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология