Рентгеновская дифракция от одномерной цепочки

РАСЧЕТ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ ОТ ОДНОМЕРНОЙ ЦЕПОЧКИ АТОМОВ [c.326]

В кристаллической одномерной молекулярной решетке N может достигать 10 (или больше). Поэтому структурный фактор становится очень большим всякий раз, как только sin(jrS а) приближается к нулю. Это происходит во всех случаях, когда величина S а приближается к целому числу. По сравнению с острым пиком рассеяния при целом S а все остальные значения F(S) пренебрежимо малы. Следовательно, интерференционная функция для линейной цепочки (ряда) точек (атомов) приводит к дискретной картине рассеяния. (В Дополнении 13.4 иллюстрируются подобные эффекты при оптической дифракции.) Вообше рассеяние может наблюдаться только для определенных относительных ориентаций объекта и детектора рентгеновских лучей. Этот результат носит название условия Лауэ [c.327]

РИС. 13.9. Рентгеновское рассеяние от одномерной цепочки атомов, наблюдаемое в лабораторных условиях. А. Рентгеновские лучи, идущие в направлении г, падают на образец, помешенный в начале координат, а рассеянные лучи регистрируются цилиндрической пленкой. Б. Картина рассеяния от одного атома. Поскольку применяется цилиндрическая пленка, для картины рассеяния характерна эллиптическая симметрия при использовании плоской пленки картина рассеяния обладала бы круговой симметрией. В. Линейный ряд точек (атомов). Г. Рассеянное излучение, разрешенное условиями Лауэ, в плоскости х — г. Д. Рассеянное излучение, разрешенное условиями Лауэ, в плоскости у — г. Е. Конусы рассеянного излучения, возникающие из-за условий Лауэ, для геометрии, представленной на фрагменте рисунка Л. Все рассеянные лучи идут по поверхности одного из конусов. Ж. Картина дифракции от одномерного ряда точек, возникающая в результате пересечения конусов рассеянного излучения с цилиндрической пленкой. 3. Рассеяние, наблюдаемое в действительности, является произведением атомного рассеяния (фрагмент Б) и картины дифракции, изображенной на фрагменте Ж. И. Иная геометрия рассеяния, когда ось одномерного ряда точек параллельна направлению падаюшего излучения. К. Рассеянные лучи, разрешенные условиями Лауэ, для геометрии, изображенной на фрагменте И. Л. Вид дифракционной картины для геометрии, показанной на фрагменте И. М. Произведение дифракционной картины на фрагменте Л и атомного рассеяния, показанного на фрагменте Б. [c.333]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология