Интерференционная функция

ФУРЬЕ-ТРАНСФОРМАНТА КРИСТАЛЛА И ИНТЕРФЕРЕНЦИОННАЯ ФУНКЦИЯ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ РЕШЕТКИ [c.17]

Интерференционная функция линейной цепочки из (1.276) [c.32]

Интеграл интерференционной функции в (IV.4г) равен пМ. Следовательпо, [c.87]

Интерференционная функция пространственной решетки [c.34]

Интерференционная функция пространственной решетки в раз вернутой форме имеет вид [c.34]

Эти условия показывают, что положения главных максимумов интерференционной функции отвечают узлам обратной решетки кристалла, т. е. вектору Н = НгЯ с целочисленными координатами. [c.34]

Интерференционная функция является непрерывной функцией вектора обратного пространства, и между узлами обратной решетки имеется диффузный фон функции, содержаш ий информацию [c.35]

Отсюда видно, что в случае одноатомных жидкостей и аморфных тел среднее расстояние от фиксированного атома до его ближайших соседей определяется по значению S, соответствующему любому максимуму интерференционной функции a(S). Это означает, что определяющим в образовании картины рассеяния одноатомными жидкостями и аморфными веществами является кратчайшее межатомное расстояние R повторяющееся в разных порядках интерференции. [c.47]

Это соотношение показывает, что значение интерференционной функции при нулевом угле рассеяния представляется как мера флуктуации числа атомов, содержащихся в данном объеме. Эти флуктуации связаны с коэффициентом изотермической сжимаемости Рг =— ]г соотношением [c.49]

Возможность вычисления электропроводности жидких металлов по значениям интерференционной функции и псевдопотенциала подтверждает наличие прямой связи между структурой и электрическими свойствами. На это впервые указал А. Ф. Иоффе. По мысли ученого, процесс образования электронов проводимости непосредственно связан с ближним порядком и электронной конфигурацией атомов. [c.54]

Интересно отметить, что учет внутренних напряжений приводит к асимметрии распределения интенсивности относительно узла обратной решетки (относительно точки к = 0). В этом можно убедиться, построив график Ф (д, к) р как функцию к при заданном направлении п = к/к. Функция Ф (д, к)р, как это следует из определения (27.15), обладает анизотропией относительно направления п. Из выражения (27.14) можно видеть, что фактор Ф (д, к)Р модулирует распределение интенсивностей внутри узла обратной решетки, которое определяется интерференционной функцией Лауэ (27.16). Последнее означает, что упругие искаже- [c.243]

Е. И. Харьковым было показано, что интерференционные функции a(S), рассчитанные по приведенным формулам, хорошо воспроизводят экспериментальные структурные факторы для всех металлов с плотной упаковкой. При т] = 0,47 максимальное отклонение интенсивности теоретических кривых a(S) от экспериментальных не превышает 3% в области первого максимума и порядка 10% в области второго максимума. Для металлов с рыхлой упаковкой согласие теоретических и экспериментальных кривых а(5) не наблюдается. [c.175]

Электронограммы фотометрировались, в результате получались кривые, аналогичные представленной на рис. 12.1, а. Видно, что экспериментальная кривая осциллирует относительно некоторой прямой. Это упрощает нахождение нормирующего множителя для приведения значений интенсивности к электронным единицам и построения интерференционной функции а(8). [c.303]

Напомним, что интерференционная функция определяется как отношение нормированной интенсивности 1(8) к интенсивности независимого рассеяния (5). Если в качестве излучения пользоваться электронами, то функция а(5) может быть определена по экспериментальной кривой рассеяния (см. 5 гл. 4). Функцию а(8) можно рассчитать теоретически через функцию атомной плотности по формуле [c.303]

Интересно отметить, что функция 9(к)р в теории рассеяния рентгеновских лучей называется интерференционной функцией Лауэ (см. (27.16)). Она равна [c.206]

Левая часть неравенства (27.27) характеризует величину смещения АЯ узла обратной решетки включения относительно узла обратной решетки Н матрицы, обусловленного структурной деформацией 6q. Правая часть — размеры узла обратной решетки включения и матрицы, определяемые интерференционной функцией Лауэ (27.16). Таким образом, неравенство (27.27) показывает, что размеры рефлексов включения и матрицы много больше, чем расстояние между ними в обратной решетке. Последнее означает, что рефлексы включения и матрицы перекрываются и, следовательно, включение и матрица рассеивают когерентным образом. В этой ситуации мы можем говорить о существовании некоторой слабо искаженной средней решетки сплава. В противоположном случае, когда знак неравенства (27.27) меняется на противоположный, т. е. [c.246]

Так как интерференционная функция Лауэ (34.18) отлична от нуля практически только в узлах обратной решетки (34.19), а атомный фактор (34.17) есть плавная функция своего аргумента к , то выражение (34.16) можно упростить, представив его в форме [c.304]

Впервые за решение этой задачи взялся Паттерсон в 1928 г. В своей работе он исходил из двух предположений 1) в качестве интерференционной функции взял приближенную функцию Лауэ [2, 1] и 2) в качестве Ж(Д) взял функцию типа распределения Максвелла для скоростей газовых молекул [c.40]

В методе электронографии V и V = К + обозначают среднее значение рассеивающего потенциала (в алмазе V -= 19,4 В [36]) и его изменение в радиальном направлении. Расширенная интерференционная функция J х) = [c.48]

Узлы ОР, которые суть главные максимумы интерференционной функции, не являются математическими точками. Их размер определяется областью, в которой L отлична от нуля. Кроме того, им приписывают вес G, равный f 1. [c.179]

При переходе к кристаллу с его периодическим повторением элементарных ячеек в написанные формулы требуется ввести интерференционную функцию Ф ( Г14), играющую роль известной в математике дельта-функции . Благодаря введению такой функции значение выражения, стоящего под знаком интеграла в (56), сводится к нулю во всех точках 5г С, кроме целочисленных (и в то же время интеграл сохраняет ненулевое значение). Опуская математические выкладки, отметим только, что результатом [c.98]

Интенсивность спектра 1м пропорциональна р. Ее можно выразить через двойную лаузвскую сумму и через интерференционную функцию. Для конечного кристалла из (1.25) получаем [c.32]

Связь интерференционной функции со сжимаемостью. Предельное значение функции a S) по направлению к малым углам рассеяния для любого вещества связано с его сжижаемостью. При этом речь идет о предельном значении при 5 = О выражения (2.71), которое было получено из более точного уравнения (2.70) при исключении из него слагаемого, которое определяется внешней поверхностью исследуемого вещества и не связано с его структурой. Величина а(0), которую мы определим, является предельным значением рассеивающей способности вещества, отнесенной к одному атому. [c.48]

SrmS) - /3, (W(S)l a. = 2,5 при 5 =4,0 А К Следовательно, 1/k = (4,3+ 1,5)/2 = 2,9 k =0,35. Изложенный способ определения нормирующего множителя и интерференционной функции рассеяния электронов не связан с громоздкими вычислениями. Он прост и доступен. На примере германия и кремния было показано, что определяемые этим методом структурные параметры полностью совпадают сданными рентгенографических исследований [c.106]

Следующий шаг был сделан Лауэ в 1926 г. Он вывел общее соотношение, связыва ющее ширину дебаевской линии с линейными размерами кристалла произвольной формы и сингонии для случая, когда главные его оси совпадают с кристаллографическими осями. Для решения этой задачи Лауэ не исходил из точного определения интерференционной функции [1, 2], а пользовался следующими приближенными ее выражениями [c.31]

При допущении некоторого произвола в выборе того или иного представления для интерференционной функции Лауэ получил возможность решить ноставленную задачу в более общем виде, чем удавалось его предшественникам. Последние исходили из выражения [1, 2] для интерференционной функции, вполне точного только для случая интерференции от кристалла в форме параллелепипеда, подобного своей элементарной ячейке. [c.31]

Интерференционная функция можег быть предсгавлена в виде [c.95]

Смотреть страницы где упоминается термин Интерференционная функция: [c.13] [c.32] [c.34] [c.84] [c.102] [c.235] [c.251] [c.51] [c.51] [c.61] [c.63] [c.304] [c.309] [c.243] [c.304] [c.49] [c.177] [c.194] [c.93] [c.95] [c.97] [c.621]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология