Интенсивность рассеяния излучений

Светорассеивающий прибор содержит в качестве источника света лампу со средним или высоким давлением ртутных паров, которая дает параллельный монохроматический луч с помощью стеклянных монохроматических фильтров. Такой луч проходит через поляризатор и попадает на ячейку с образцом. Интенсивность рассеянного излучения измеряется при различных углах фотоумножителем, и результаты регистрируются высокочувствительным гальванометром или записывающей лентой. Весь прибор заключен в светонепроницаемый ящик. Кроме того, он снабжен световой ловушкой для поглощения луча, выходящего из ячейки с образцом, с тем, чтобы исключить случайное попадание света из фотоумножителя. Все внутренние поверхности приборов не должны отражать свет, а пыль необходимо полностью удалять. [c.151]

Рэлеевское рассеяние света. Из эксперимента определяют отношение До = = / / 1, где и /к — интенсивности рассеянного излучения, поляризованного по осям 2 и у соответственно, а падающее излучение поляризовано по оси г. Тогда имеет место уравнение [c.279]

В основе всех экспериментальных исследований структуры кристаллов дифракционными методами лен>ит получение функциональной зависимости интенсивности рассеянного излучения С/ (Н), описывающей дифракционную картину. Дифракционная картина представляет собой пространственное распределение рассеянного образцом рентгеновского излучения и может быть описана путем указания интенсивности рассеянного излучения в каждой точке пространства, окружающего кристалл. [c.112]

По сравнению с простыми ионными решетками расшифровка структуры молекул представляет собой значительно более сложную задачу, в особенности для несимметричных молекул. Наряду с определением углов рассеяния необходимо измерять интенсивность рассеянного излучения. Так как из дифракционной картины нельзя получить фазовые характеристики волнового излучения, рассеянного в веществе, прямое определение структуры во всех подробностях становится невозможным. Поэтому рассчитывают интенсивность рассеянного излучения исходя из нескольких возможных модельных структур молекулы и сравнивают результаты расчета с экспериментальными данными. При таком методе проб и ошибок параметры модельной структуры меняют до тех пор, пока не получат полного совпадения между теорией и экспериментом. [c.74]

Уравнение Брэгга связывает угловое распределение максимумов интенсивности рассеянного излучения, известных как брэгговские отражения hkl, с размерами элементарной ячейки и ориентацией кристалла. [c.395]

Интенсивность рассеянного излучения в первую очередь зависит от количества электронов в электронной оболочке и увеличивается по мере повышения порядка симметрии. Тем самым становится возможным локализовать положение отдельных атомов в молекуле. Однако положение атомов водорода можно установить лишь косвенно —как областей с минимальной электронной плотностью. [c.74]

В основу классификации экспериментальных методов рентгенографии можно положить либо способ регистрации дифракционного спектра (фотографический или ионизационный), либо агрегатное состояние исследуемого объекта (поли- или монокристалл, аморфное вещество, жидкость или газ). Несмотря на существование единого физического подхода к проблеме дифракции рентгеновских лучей (см. Введение и гл. I), различия в методических особенностях экспериментальных исследований различных объектов весьма существенны и приводят к появлению специальных областей рентгеноструктурного анализа. Например, значительная информация о белках, полимерах и ряде других объектов сосредоточена в области малых углов рассеяния от нескольких угловых минут до 3—5 градусов. С позиций физики рассеяния рентгеновских лучей между этой и всей остальной частью дифракционного спектра нет никакой принципиальной разницы, однако, специфические экспериментальные трудности, в первую очередь — малая интенсивность рассеянного излучения, привели к созданию специального рентгеновского оборудования — малоугловых рентгеновских камер и дифрактометров [1]. [c.111]

В 1928 г. Раман обнаружил экспериментально, что в рассеянном излучении наблюдаются линии слабой интенсивности, отсутствующие у падающего излучения. Разности частот между слабыми линиями и возбуждающей линией являются характерными для рассеивающего вещества и не зависят от частоты возбуждающей линии. Комбинационное рассеяние можно рассматривать как неупругое рассеяние фотона молекулой. Оно отличается от флуоресценции или фосфоресценции (разд. 18.3), при которых образец не имеет полосы поглощения при длине волны падающего света. Другими словами, для изучения комбинационного рассеяния можно использовать любую длину волны. Интенсивность рассеянного излучения пропорциональна четвертой степени его частоты. [c.477]

Рентгенографические, электронографические и нейтронографические исследования атомной и молекулярной структур жидкостей и аморфных тел основываются на анализе углового распределения интенсивности рассеянного рентгеновского излучения, электронов и нейтронов. Рассеяние веществом этих трех видов излучений не одинаково, что объясняется различием их физической природы. Рентгеновское излучение рассеивается электронами атомов и молекул. Процесс рассеяния не характерен обычному отражению или преломлению. Рентгеновское излучение, взаимодействуя с электронами, приводит их в колебательное движение. Колеблясь с той же частотой, что и электрический вектор первичной электромагнитной волны, электроны порождают вторичное электромагнитное излучение, распространяющееся во всех направлениях. Интенсивность рассеянного излучения, фиксируемая в некоторой точке, пропорциональна электронной плотности атомов и молекул. [c.26]

Рассмотрим рассеяние рентгеновского излучения, электронов и нейтронов совокупностью атомов одного элемента (сжиженные инертные газы, расплавленные металлы, полуметаллы и диэлектрики). Выведем уравнение, связывающее угловое распределение интенсивности рассеянного излучения с радиальной функцией распределения ЩЯ), описывающей ближний порядок в расположении атомов. [c.41]

Оно определяет интенсивность рассеянного излучения, обусловленного мгновенным расположением атомов. Однако дифракционный эксперимент дает не мгновенную, а среднюю за время экспозиции картину рассеяния. [c.42]

В современной рентгеновской аппаратуре для измерения углового распределения интенсивности рассеянного излучения применяют дифрактометры, снабженные сцинтилляционными счетчиками и счетно-решаю-щими устройствами. [c.98]

Важным условием эффективности счетчика является ширина его входной щели. Она должна быть такой, чтобы не размывать истинный профиль дифракционных максимумов и в то же время обеспечивать достаточно регистрируемую интенсивность рассеянного излучения. Обычно ширину приемной щели счетчика и щели коллиматора выбирают примерно равной. [c.99]

Отметим, что определение параметров молекул жидкости непосредственно по кривым интенсивности рассеянного излучения практически неосуществимо, поскольку дифракционная картина молекулярных жидкостей представляет суперпозицию внутри и межмолекулярного рассеяний. Параметры молекул можно определить по кривым распределения электронной плотности, что было показано В. И. Даниловым и А. Ф. Скрышевским. [c.206]

Типичной особенностью углового распределения интенсивности рассеянного излучения разбавленными водными растворами неэлектролитов является сохранение максимумов 1(8), специфичных для чистой воды, а кривых интенсивностей концентрированных растворов —наличие максимумов, близких по положению к максимумам /(5) для чистых неэлектролитов. Можно полагать, что в растворе молекулы НгО стремятся сохранить водородные связи друг с другом и поэтому образуют ассоциации в виде микрообластей с тетраэдрической структурой. Молекулы неэлектролита не проникают [c.299]

Интенсивность рассеянного излучения измеряется на расстояниях, во много раз превышающих длину волны рассеянного света, так что рассеянные рентгеновские волны можно считать плоскими. Опыт показывает, что благодаря интерференции на фотопластинке, регист- [c.115]

Рассеяние света на отдельных частицах описывается теориями Рэлея и Ми. Первая из них справедлива для частиц малого размера для света в видимой области спектра это частицы с радиусом от 0,03 мкм и менее. Интенсивность рассеянного излучения / на расстоянии L под углом 0 от частицы на единицу падающего излучения описывается уравнением [c.141]

И для измеряемой интенсивности рассеянного излучения получим [c.157]

Для количественного описания структуры простых жидкостей и аморфных веществ П. Дебаем в 1925—1927 гг. была введена радиальная функция межатомных расстояний W(R), а Ф. Принсом и Дж. Цернике — радиальная функция атомной плотности 9(R) = < >W(R). Теоретически доказали, что эти функции связаны с угловым распределением интенсивности рассеянного излучения соотношением [c.4]

Из опыта мы получаем интенсивность рассеянного излучения [c.271]

Диффузное рассеяние под малыми углами позволяет изучать макромолекулы в растворе. При этом наблюдается суммарное рассеяние на беспорядочно расположенных отдельных макромолекулах, т. е. происходит усреднение интенсивности рассеянного излучения по их всевозможным ориентациям. Фазы рассеяния при таком усреднении смешиваются, и поэтому можно построить лишь функцию, аналогичную функции Паттерсона. Эта функция, однако, позволяет охарактеризовать форму и размеры рассеивающего объекта. Ситуация здесь подобна той, с которой мы имеем дело при изучении рассеяния света растворами макромолекул (см. стр. 159 и далее). Получение такой ограниченной информации много проще, чем при рентгеноструктурном анализе кристаллов. [c.281]

Пусть рассеяние происходит на частице, состоящей из центров (атомов) с рассеивающей способностью г-го центра /j. Тогда для интенсивности рассеянного излучения, представляющей квадрат амплитуды, имеем [c.282]

Для сильно вытянутых фигур анализ затруднен, так как теоретические кривые при большой асимметрии, очевидно, практически сливаются друг с другом. Зато в этом случае можно провести анализ применительно к поперечному сечению, что особенно результативно, если заранее известно, что макромолекул. имеет цилиндрическую форму (молекула ДНК в растворе). При умножении интенсивности рассеянного излучения на соответствующий угол рассеяния получается функция Ы Н), характеризующая сечение молекулы, и по ней определяется (совершенно так же, как и при нахождении радиуса инерции Но) радиус инерции поперечного сечения [40]. Определить векторы, соответствующие поперечным размерам молекул, позволяет и умножение интенсивности на /г т. е. построение фурье-свертки. Этот метод был с успехом применен Федоровым и Птицыным для интерпретации индикатрис рассеяния [4 ]. [c.283]

Рентгеновское и нейтронное рассеяние. Методы рентгепострук-турного и нейтроноструктурного анализа представляют собой дифракционные методы. Рентгеновские лучи — это электромагнитные волны большой энергии. Длины волн пх лежат в интервале от 0,05 до 0,20 нм. Нейтроны — незаряженные микрочастицы, обладаюплие массой покоя. Для пучков нейтронов соответствующие им длины волн лежат в пределах 0,1 —1,0 нм. Рентгеновское излучение рассеивается электронами атомов и молекул. Интенсивность рассеянного излучения фиксируется каким-либо способом и характеризует электронную плотность. Рассеяние рентгеновских лучей на ядрах оказывается пренебрежимо малым. В свою очередь, нейтроны рассеиваются ядрами атомов. При этом упругое рассеяние медленных нейтронов позволяет изучать атомную структуру вещества, а неупругое используется для изучения динамики частиц. Механизмы рассеяния рентгеновских лучей и нейтронов похожи. [c.101]

Отношение интенсивности аналитической линии к интенсивности рассеянного излучения можно представить в виде [c.32]

Из всех существующих моделей лазерных спектрометров КР наибольшее распространение получили модели, построенные по традиционной оптической схеме, с регистрацией рассеянного излучения под прямым углом к падающему лазерному пучку (см. рис. 11.12). Спектры КР представляют в виде кривых зависимости интенсивности рассеянного излучения от величины сдвига частоты возбуждающего света. [c.292]

Интенсивность рассеянного излучения определяется концентрацией рассеивающих центров, их размером и формой. В деформированных и предварительно ориентированных полимерах обнаружено скопление очень мелких дефектов, возникающих под действием механической нагрузки. Эти дефекты имеют форму дисков, ориентированных в поле механических сил перпендикулярно разрушающим усилиям. При однородном растяжении эти микродефекты образуют в полимере систему параллельно расположенных микродисков, каждый из которых располагается перпендикулярно оси растяжения. Анализ зависимостей скорости зарождения микродефектов от уровня растягивающего напряжения, времени и температуры позволил сделать вывод о том [36], что эти дефекты являются зародышем тех дефектов, рост которых приводит к разрыву образца. [c.242]

Уравнения (2.2) и (2.3) могут быть изображены графически (рис. 2). Геометрическое условие, изображенное на рис. 2, представляет собой необходимое условие рассеяния рентгеновских лучей, которое само по себе еще не несет информации об интенсивности рассеянного излучения. Интенсивность рассеяния определяется динамикой взаимодействия излучения с рассеивателем. [c.16]

Сечение рассеяния (интенсивность рассеянного излучения), выраженное в электронных единицах, равно квадрату амплитуды (2.4) [c.16]

V — объем элементарной ячейки периодического распределения) для периодического распределения электронов. Линейная суперпозиция всех волн, имеющих амплитуду (2.6) или (2.7), полностью описывает произвольное распределение электронной плотности Ие1(г)- Рассеяние рентгеновских лучей будет всегда иметь место, если дифракционный вектор д = кг — равен какому-либо из волновых векторов К пакета волн электронной плотности, аппроксимирующих произвольное распределение электронной плотности (условие (2.2)). Из выражения (2.5) следует, что интенсивность рассеянного излучения в этом случае будет равна квадрату амплитуды волны, имеющей волновой вектор К = д [c.17]

Таким образом, интенсивность рассеянного рентгеновского излучения может рассматриваться как величина, распределенная в К-пространстве волновых векторов или, как его еще называют, в обратном пространстве. Изменяя направление и величину дифракционного вектора д (этого можно добиться, изменяя геометрию съемки — направление падающего и рассеянного пучка), можно прозондировать значительные области обратного пространства и определить распределение в нем интенсивности рассеянного излучения или же, что то же самое, распределение квадрата модуля фурье-компоненты электронного распределения. [c.17]

Обозначим I s) интенсивность рассеянного излучения, которая является функцией переменной s, определяемой выражением 5 = 20Д, где 20 (рад) —угол рассеяния и л — длина волны рентгеновского излучения. Если образец состоит из частиц одинакового размера, справедливо уравнение [c.373]

Интенсивность рассеянного излучения dli представим в виде (33) с заменой угла 6+ иа 0Г. Далее, интегрируя по всевозможнмм направлениям О,, получаем [c.506]

В основе фотографического способа регистрации рентгеновского излучения и электронов лежит фотохимическое действие их на фотоэмульсию. В результате фотохимического процесса происходит разложение молекул AgBг в эмульсионном слое и образование мелких зерен серебра. При проявлении эти зерна укрупняются, одновременно происходит дальнейшее разложение бромистого серебра на засвеченных участках пленки. При фиксировании неразложившиеся зерна удаляют из эмульсии, а непрозрачные зерна металлического серебра остаются, вызывая почернение пленки. Интенсивность рассеянного излучения пропорциональна почернению пленки, которое измеряется с помощью микрофотометров. При этом почернение в данной точке пленки определяют как логарифм отношения интенсивности падающего на пленку света к интенсивности света, прошедшего сквозь нее [c.96]

В ГДР запатентованы способы и устройства анализа в слоях переменной толщины и плотности со специальной обработкой сигналов в заданных интервалах устройство для измерения зольности угля на конвейере в слоях меньше насыщения, в котором один источник и первый детектор размещены под лентой, второй — над нeю . Здесь же разработаны два варианта устройства для измерения состава угля на ленте конвейера с одним источником, двумя детекторами и поглотителем с суммированием сигналов от поглощения и рассеяния излучения [13] предложен способ и устрюйство для анализа угля на конвейере с формирующей плоской поверхностью и прозрачным для излучения окном в ней, над которым установлен датчик , а также способ измерения состава золы по интенсивности рассеянного излучения в двух энергетических интервалах . [c.36]

Учитывая далее, что /, является полной энергией, рассеянной одним электроном в секунду, интенсивность рассеянного излучения на расстоянии Я от него равна если допустить равные вероятности всех иаиравлениг . [c.461]

Возбуждение спеБпров комбинационного рассеяния осуществляется мощными импульсными лазерными источниками излучения. Для выделения аналитических линий используются монохроматоры. Для подавления засветки на длине волны зондирующего излучения и неселективно рассеянного света применяются специальные фильтры. Для регистрации интенсивности рассеянного излучения используются фотоэлектронные умножители (ФЭУ) или фотодиодные матрицы. [c.922]

Уравнение (9.69) является основным результатом ПСФ для плот-ноупакованных систем цепей [13]. Он позволяет детально рассчитать рассеяние частично помеченными цепями. Если амплитуда рассеяния для п-го мономера есть, то интенсивность рассеянного излучения с волновым вектором q имеет вид [c.295]

Существуют две разновидности метода турбиди-метрия, основанная на измерении интенсивности света, прошедшего среду (а = 0), и собственно нефелометрия, в основе которой лежит регистрация интенсивности рассеянного излучения (а = 90°). Основное уравнение турби-диметрии записывается в виде [c.516]

Для определения влажности бумаги предложено применять метод, основанный на измерении ослабления рентгеновской флуоресценции [1а]. В этом методе оценивали соотношение интенсивностей рассеянного излучения, испускаемого исследуемым образцом и первичным источником рентгеновских лучей (W-ми-шень, FeKa- или СиКа-флуоресценция), Аксела [1а] сообщает [c.514]

В принципе экстраполированное значение интенсивности рассеянного излучения при нулевом угле позволяет нахии как молекулярный вес (средневесовой), так и второй вириальный коэффициент полимера. Практически этот метод дает возможность получать сколько-нибудь точные результаты только при не слишком высоких молекулярных весах, так как требует значительных концентраций. [c.165]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология