Аморфные тела анализ рентгеновскими лучами

Дифракция рентгеновских лучей при их прохождении через вещество позволяет получить представление о взаимном расположении атомов вещества. Эта задача решается строго и практически однозначно в отношений характеристик дальнего порядка как простого, так и сложного по составу, но упорядоченного кристаллического вещества. Несколько более сложным образом (и потому не всегда однозначно) анализ дифракции дает статистически усредненные характеристики ближайших окружений атомов в кристаллах сложного состава (ближний композиционный порядок). Анализ центрального или малоуглового рассеяния позволяет исследовать неоднородности в распределении электронной плотности как в случае агломерата высокодисперсных частиц с произвольной внутренней структурой, так и в случае пористого тела (кристаллического или аморфного), содержащего включения или, наоборот, пустоты. [c.314]

Большой и разнообразный материал собран в двухтомном курсе А. И. Китайгородского Рентгеноструктурный анализ (ГТТИ, 1950) и Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел (ГТТИ, 1952), где наряду с физикой рентгеновских лучей, кристаллографией и прикладными методиками даны сводные таблицы межплоскостных расстояний для неорганических веществ. [c.352]

При съемке методом порошка эффект расширения линий наблюдать легче, так как имеется возможность использовать очень тонкие образцы в сочетании с узким, строго параллельным пучком рентгеновских лучей. Если образец обладает достаточной дисперсностью, эффект расширения линий можно обнаружить и при обычных условиях съемки. Измерение ширины дебаевских линий позволяет оценивать размеры зерен в образце. Формула (21) дает первое грубое приближение при такой оценке. Более детально этот вопрос рассмотрен в книге А. И. Китайгородского Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел . [c.50]

Такая интерпретация структуры аморфных твердых тел подтверждается рентгеновским анализом. Явление отклонения световых лучей при прохождении через так называемые диффракционнгле решетки давно известно. Пучок лучей видимого света, проходя через стеклянную нластинк ", на которую нанесено большое число параллельных линий, отклоняется от своего направления па угол, длина которого зависит от расстояния между линиями и от длины световой волны. Изучение этого явления привело к выводу, что эффект диффракции зависит от четырех факторов во-первых, свет доля ен проходить через среду, перемежающиеся зоны которой сильно отличаются но их способности к пропусканию света далее, эти зоны должны быть приблизительно параллельны, находиться приблизительно на равном расстоянии друг от друга, и это расстояние но порядку величины должно соответствовать длине волны данного светового луча. Если принять во внимание правильное расположение атомов в кристалле, то станет ясно, что последние представляют собой ряд диффракционных решеток, расположенных одна позади другой. Здесь, конечно, правильность расположения гораздо больше, чем в любой решетке, нанесенной на поверхность стекла. Поэтому можно ожидать, что такой кристалл и будет действовать как решетка, если удастся найти световые лучи с соответствующей длиной волны, много меньшей, чем длины волн видимого света. Этому требованию вполне отвечают рентгеновские лучи в определенной области длины их волн. Применение этих лучей создает возможность количественного определения расположения атомов в структуре кристаллов. [c.280]

В 1934 г. Уорен, на основании экспериментальных кривых рассеивания рентгеновских лучей, пользуясь интегральным анализом Фурье, определил взаимное расположение атомов углерода и доказал наличие в структуре сажи отдельных слоев графитовой решетки. Критикуя большое число работ по рентгеноструктурному анализу саж, Уорен правильно указывает, что все авторы, получая на рентгенограммах две или три сильно размытых П ллосы, примерно в тех местах, где расположены кольца графита, только на этом основании приписывали саже кристаллическую структуру графита, в го время как аналогичные рентгенограммы дают и жидкости и чисто аморфные тела. [c.66]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология