Рассеивание рентгеновского излучения

С помощью физического уширения дифракционной линии при рассеивании рентгеновского излучения определяли средний размер дисперсных частиц. Рентгенограммы подготовленных образцов получали на установке ДРОН - 2.0. [c.6]

С увеличением напряжений сдвига температура начала кристаллизации повышается. Приведенные на рис. VI. 8 данные были получены при кристаллизации расплава линейного (кривая 1) и разветвленного (кривая 2) полиэтиленов в рабочем зазоре ротационного вискозиметра [11]. Эксперимент проводили, охлаждая деформируемый расплав от 180 °С со скоростью 2°С/мин. Момент начала кристаллизации фиксировался по резкому увеличению напряжений сдвига. После охлаждения до комнатной температуры образцы извлекали из прибора и исследовали методом рассеивания рентгеновского излучения под малыми углами. Приведенные на рис. 1.8 данные показывают, что увеличение напряжения [c.195]

На рис. V, 1 изображена зависимость от угла интенсивности рассеивания монохроматического рентгеновского излучения жидким аргоном, являющимся примером простейшей одноатомной жидкости. Кривая рассеяния имеет экстремумы и повторяет в размытом виде кривую рассеяния для твердого аргона. [c.161]

При прохождении любого электромагнитного излучения, в том числе и рентгеновского, через вещество происходит частичное рассеивание излучения. Под действием периодически изменяющегося электрического поля электроны вещества начинают колебаться с частотой, равной частоте падающего излучения.Колеблющиеся электрические заряды становятся источниками вторичного электромагнитного излучения гой же частоты, которое распространяется во всех направлениях и наблюдается как рассеянное излучение. Пучок рассеянного излучения, выбранный в некотором направлении, складывается из волн, рассеянных в этом направлении. Однако в подавляющем большинстве направлений эти волны на фронте рассеянной волны не совпадают по фазе и частично или полностью гасят друг друга, и заметного рассеяния не происходит. Однако при прохождении пучка через периодическую структуру — кристалл в некоторых определенных направлениях рассеянные волны совпадают по фазе и, усиливая друг друга, дают интенсивный пучок рассеянного излучения. Возникновение интенсивного рассеяния рентгеновского излучения по неко-торы.м дискретным направлениям в результате взаимодействия их с периодическими структурами называется дифракцией рентгеновского излучения. [c.160]

В настоящее время разработан целый ряд физических методов для" определения не только зольности, но и содержания в ТГИ минеральных компонентов а) микроскопическое определение содержания минеральных компонентов по их рельефу, цвету, степени блеска, т.е. по оптическим признакам (см. гп. 1) б) рентгеноскопический, использующий особенности рассеивания рентгеновских лучей различными минеральными веществами в) радиоизотопный, основанный на взаимодействии атомов минеральных примесей с радиоактивным излучением изотопов. [c.46]

Рентгенография. Исследование органических соединений при помощи рентгеновского излучения дает особенно много для изучения кристаллических веществ. Если рентгеновские лучи падают на кристаллические вещества, то рассеивание их происходит в соответствии с упорядоченным пространственным расположением рассеивающих частиц в кристаллах. [c.51]

При попадании электромагнитной волны на любую частицу вещества происходит частичное рассеяние излучения. Это обусловлено тем, что падающее излучение вызывает колебания между положительно и отрицательно заряженными элементами частицы, в результате чего возникает колеблющийся диполь. Такой диполь сам по себе является источником электромагнитного излучения. Теория этого явления подробно обсуждается в гл. 5. Здесь только отметим, что вторичное излучение характеризуется той же длиной волны, что и первичное, и оба эти излучения по фазе различаются ровно на 180°. Вторичное излучение рассеивается по всем направлениям с интенсивностью, определяемой углом рассеяния. Интенсивность рассеянного излучения в значительной степени зависит от длины волны падающего излучения и от природы рассеивающих частиц. При рассеивании рентгеновских лучей от- [c.27]

Изменения размеров межслоевой области вермикулита при вхождении в нее катионов метиленового голубого изучали на образцах Mg- и Na-вермикулитов, обработанных насыщенным раствором МГ попеременным кипячением и выдержкой в растворе при комнатной температуре. Раствор заменяли через 3 суток. После отмывки от избытка МГ до светлых промывных вод и высушивания при температуре 60° С образцы вермикулита изучали методом рентгеновской дифракции. Съемка производилась на дифрактометре УРС-50И на Fe-излучении и Мн-фильтре при малых углах рассеивания рентгеновских лучей. [c.145]

К ионным реакциям относятся также радиационно-химические процессы, вызываемые действием рентгеновских а- и р-излучений. Возникновение таких реакций обусловливается способностью излучений ионизировать и возбуждать молекулы вещества, т. е. приводить к образованию активных частиц. Радиационно-химические реакции имеют небольшую величину энергии активации и протекают сравнительно легко даже при очень низких температурах (ниже 373 К).-В отличие от обычных реакций их скорость мало зависит от температуры, но зависит от агрегатного состояния вещества. Обычно в газе эти реакции происходят с большим выходом, чем в жидком и твердом состояниях, что связано с более быстрым рассеиванием энергии в конденсированной среде. [c.199]

Обратимся теперь к эффекту Комптона, для интерпретации которого необходимо прибегнуть к корпускулярным свойствам излучения. В данном случае можно с большой точностью определить положение фотона, однако при этом появляется неопределенность в величине его импульса. В эксперименте Комптона фотон рентгеновских лучей ударяет электрон, в связи с чем принимают, что его положение совпадает с положением электрона. Однако одновременно длина волны рассеивающихся рентгеновских лучей и, следовательно, импульс соответствующего фотона изменяются. Хотя это изменение длины волны или импульса можно вычислить путем нахождения угла между падающим и рассеянным лучом данного излучения, но само распределение угла рассеивания определяется функцией вероятности и поэтому является неопределенным. [c.29]

Фактор рассеивания рентгеновского излучении уве.шчнваетси постепенно V возрастанием атомного номера. [c.207]

Полная структурная характеристика молекул основана на дифракции рентгеновских лучей. Сообидение о первой структуре карбонила металла Ре2(С0)д появилось в 1927 г. за последние 60 лет в указатели были включены еш,е 4600 структур, причем 857о из этого числа приходится на последнее десятилетие [77]. Установление структуры такого большого числа соединений стало возможным благодаря развитию быстрых рутинных автоматизированных методов рентгеноструктурного анализа. Дифракция нейтронов в настоящее время становится важным инструментом, особенно для изучения гидридов переходных металлов [78]. Напомним, что дифракция нейтронов на большинстве элементов происходит примерно одинаково, тогда как рассеивание рентгеновского излучения зависит от электронной плотности, которая определяется атомным номером элемента. [c.25]

Другой широко распространенный метод исследования заключается в использовании рентгеновских лучей. Источник последних, коллимированный для уменьшения рассеивания (экстрафокальиое излучение), устанавливается на одной стороне псевдоожиженного слоя проникающий пучок лучей воспринимается фйсфоресцирующим экраном (рис. 1У-4). Газовый пузырь появляется на негативе в виде темного пятна па световом фоне, т. е. метод совершенно аналогичен медицинской рентгенографии. Огромное преимущество этого метода состоит в том, что слой может иметь любую форму и, в принципе, любые размеры, и структура его совершенно не искажается при наблюдении. Метод позволяет визуально оценивать размеры и форму пузыря в любом его положении и пол чить гораздо больше информации, чем при использовании зондов. [c.128]

Получить информацию о размерах, форме и взаимном расположении частиц в веществе размером в десятки нанометров возможно применением малоуглового рассеивания рентгеновских лучей (в диапазоне углов от нескольких минут до одного-двух градусов при использовании излучения с длиной волны 0,1—0,2 нм). Исследования, проведенные в микродифракционном режиме, позволили получить микроэлектронограм ы практически с индивидуальных кристаллитов асфальтенов [325]. Это дает возможность более корректно определить размеры организованной кристаллоподобной структуры. [c.157]

Ионы хлора образуют решетку, идентичную решетке, образуемой ионами цезия. Поэтому отражения от плоскостей, содержащих ионы хлора, возможны точно под теми же углами, что и от плоскостей, содержащих ионы цезия. В рассматриваемом случае плоскости ионов хлора располагаются точно посередине между плоскостями ионов цезия, и расстояние между этими плоскостями составляет //2. Поэтому волны, отраженные от плоскости ионов хлора, будут смещены по сравнению с волнами, отраженными от соседней плоскости ионов цезия, на величину 51п0. При нечетных п эти волны смещены на половину волны и гасят друг друга. Однако в силу различий в амплитуде колебаний рассеяния (она существенно меньше для менее интенсивно рассеивающих ионов хлора) гашение будет неполное, т. е. рефлексы наблюдаются. При четных п волны, рассеянные от обеих плоскостей, совпадают по фазе, и рассеяние от ионов хлора будет несколько усиливать рассеяние от ионов цезия. Следовательно, рассеяние от системы плоскостей, содержащих грани элементарной ячейки, более интенсивно под углами 22 и 48,52°, чем под тремя остальными углами. Рассеивание от системы плоскостей, содержащих диагонали граней элементарной ячейки, под углом 31,95° существенно сильнее, чем под углами 15,34 и 52,54°. Следовательно, распределение интенсивности между рефлексами содержит информацию о распределении атомов в пределах элементарной ячейки, т. е. о структуре частиц, составляющих ячейку. Именно этим обстоятельством определяется возможность применения дифракции рентгеновского излучения для определения структуры молекул в кристаллах. Кристаллы, построенные из сложных молекул, дают очень сложную картину распределения интенсивностей отдельных рефлексов. Однако по ней можно полностью восстановить расположение отдельных атомов в элементарной ячейке и тем самым установить полную пространственную структуру молекул, из которых построен кристалл. Используя некоторые дополнительные приемы и применяя для расчетов быстродействующие электронно-вычислительные машины, удается получить пространственную структуру даже таких сложных молекул, как белки и нуклеиновые кислоты. [c.185]

Следует, однако, отметить, что для обсуждения механизма радиационно-химичеоких процессов, происходящих в твердых телах при действии у Квантов и рентгеновского излучения, наиболее существенны ионизационные эффекты. Имеются также некоторые доказательства смещения атомов или ионов под действием у-квантов [143]. Эффективные поперечные сечения смещений, обусловленных рассеиванием уквантов на ядрах, очень малы и по порядку величины составляют 10 ° см . При атомных и ионных смещениях под действием у-квантов могут [c.299]

Уже отмечалось, что за несколькими исключениями атомные веса элементов последовательно возрастают, причем атомный вес являлся единственным непериодическим свойством элементов, известным до исследования спектра рентгеновских лучей и радиоактивности. Теперь известно, что элемент с атомным номером Z может иметь более тяжелые изотопы, чем элемент с атомным номером как, например, в случае 27 0 и и причем число изотопов у различных элементов может быть совершенно различным. Из свойств, непрерывно изменяющихся с увеличением Z, мы должны отметить рассеивание элементами а-частиц, поглощение и рассеивание рентгеновских лучей и длину волны характеристических рентгеновских лучей данной серии (т. е. Л, и других серий). Мозли в 1914 г, для многих элементов установил приблизительную линейную зависимость квадратного корня из частоты характеристического излучении данного типа, например Л -линий от атомного номера. Линейнаи зависимость между и Z для каждого типа характеристического рентгеновского излучения К, Ь, М к т. д.) существует не во всем интервале величин до Z= 1, но справедлива липгь до тех пор, пок [c.41]

По рассеиванию узкого пучка рентгеновских лучей, падающих на небольшой монокристалл Na l, СаРг или SiOz (см. рис. 103), можно вычислить длину волны каждой линии рентгеновского спектра и, наоборот, используя рентгеновское излучение известной длины волны, определить расстояния между плоскостями кристаллической решетки (см. раздел 6.3) и тип кристаллической структуры вещества. [c.535]

Количественный анализ катализаторов методом диффракции рентгеновских лучей сложен и не очень точен по следующим причинам а) диффузный фон, образующийся как из-за особенностей аппаратуры, так и из-за различного рода неупорядоченности в кристаллитах б) расширение линий в) различие в отражениях от различных фаз вследствие различий в рассеивающей силе составляющих атомов г) различия в интенсивности рассеивания, определяющиеся размерами единичной ячейки и степенью асимметрии д) случайная интерференция линий е) флюоресцентное излучение от образца и трудности, присущие методам измерения интенсивности линий. Применение в качестве стандарта кристаллического образца с диффракционными линиями, близкими к линиям определяемой фазы, смягчает влияние некоторых из указанных факторов. Интенсивность рассеянного рентгеновского излучения, вызванного наличием данной фазы, с поправкой на различные. эффекты, указанные выше, линейно зависит от ее концентрации, но четкость диффракционной картины зависит от величины и упорядоченности кристаллитов. Большие кристаллиты дают резкие интенсивные диффракционные линии, в то время как маленькие кристаллиты дают широкие размытые линии. В некоторых случаях вещества с очень маленькими кристаллитами, например голи аморфной окиси железа, дают очень широкие диффракционные линии, которые с большим трудом можно отличить от фона беспорядочно отраженного рентгеновского излучения [8]. Поскольку многие катализаторы приготовляются методами, обусловливающими образование относительно аморфных структур с сильно развитой поверхностью, их рентгенограммы получаются слабыми и расплывчатыми и даже качественный анализ по рентгенограммам представляет большие трудности. Смесь малых количеств кристаллического вещества с большим количеством почти аморфг ного вещества может дать диффракционную картину только кристаллического вещества. Интенсивность диффракпионных линий увеличивается с ростом порядкового номера атомов, образующих кристаллическую решетку. В отработанных железных, кобальтовых или никелевых катализаторах синтеза углеводородов из окиси углерода и водорода обычно нельзя установить характеристическиа линии углерода, даже если он присутствует в значительных количествах. Однако углерод, присутствующий в виде карбидов, можно обнаружить, поскольку расстояния между отражающими плоскостями из атомов металлов в карбидах обычно отличаются от этих расстояний в чистом металле. [c.37]

При прохождении любого электромагнитного излучения, в том числе и рентгеновского, через вещество происходит частичное рассеивание излучения. Под действием периодически изменяющегося электрического поля возникают колебания электронов вещества с частотой, равной частоте падающего излучения. Колеблющиеся электрические заряды становятся источникями вторичного электромагнитного излучения той же частоты, которое распространяется во всех направлениях и наблюдается как рассеянное излучение. Пучок рассеянного излучения, выбранный в некотором направле- [c.182]

Лабораторные исследования титанооксидного катализатора (ТОК-3) проводились в ГУП Институт нефтехимпереработки и в ОАО Уфанефтехим . Образцы катализатора исследовались методами рентгеноструктурного анализа (дифрактометр ДРОН-2 с СиКц излучением), малоуглового рентгеновского рассеивания (дифрактометр КРМ-1), термографического анализа (дериватограф системы Паулик-Паулик- Эрдей в платиновых тиглях). Удельная поверхность определялась методом низкотемпературной адсорбции азота, механическая прочность - методом раздавливания гранул. Качественный анализ на содержание различных химических элементов (металлов) в составе катализатора выполнялся атомноэмиссионным спектральным методом. [c.8]

Х-лучи, открытые в 1895 г. Рентгеном, представляют собой коротковолновые электромагнитные излучения, возникающие при бомбардировке металлической мишени пучком электронов. Такая бомбардировка осуществляется в специальном приборе, получившем название рентгеновская трубка . В то время как длины волн рентгеновых лучей занимают область от 0,01 до 20 А, для кристаллографических работ используются лучи, длина волн которых соизмерима с межатомными расстояниями в кристалле и составляет примерно 1,5 А. Как и обычные световые лучи, Х-лучи обладают свойствами отражения, преломления, рассеивания, дифракции, интерференции и др. [c.118]

Радиационную обработку полимеров осуществляют обычно под действием быстрых электронов, рентгеновских и -лучей (с энергией, не вызывающей появления наведенной радиации в облучаемой среде). Механизмы протекающих при этом процессов близки к превращениям, наблюдаемым под действием света, однако они протекают белее энергично вследствие более высокой энергии излучения. Под действием облучения изменяются механические свойства полимерных пленок и их устойчивость к растворителям и агрессивньш средам. Устойчивость полимера к облучению зависит от его химического строения. Так, полимеры, содержащие в молекулах третичный или (тем более) четвертичный атом углерода, практически не подвергаются радиационному сшиванию. Наличие бензольных ядер (полистирол) способствует рассеиванию энергии возбуждения, вследствие чего такие полимеры более устойчивы к радиационному облучению [70]. [c.62]