Кельвина конденсаторный метод

Конденсаторный метод был впервые применен еще Вольта для изучения контактной разности потенциалов. Впоследствии он неоднократно усовершенствовался - особенно существенно Кельвином [37], применившим потенциометрическую схему измерения, и Зисманом [38], сделавшим одну из пластин конденсатора вибрирующей и создавшим тем самым прототип современных динамических конденсаторов. Сущность метода состоит в преобразовании конечной разности потенциалов между рабочим электродом (его иногда называют вибрирующим или эталонным электродом) и исследуемой поверхностью путем периодического изменения емкости конденсатора, образованного поверхностью рабочего электрода и исследуемой поверхностью. Если эти поверхности эквипотенциальны, то сигнал в индикаторной части электрической схемы отсутствует. [c.195]

Конденсаторный метод. Метод впервые применен еще Вольта для изучения контактной разности потенциалов. Впоследствии он неоднократно усовершенствовался — особенно существенно Кельвином, применившим потенциометрическую схему измерений, и Зисманом, сделавшим одну из пластин конденсатора вибрирующей и создавшим тем самым прототип современных динамических конденсаторов. [c.28]

Применение методов статического (Бергман) и динамического (Кельвин) конденсаторов к исследованию фотоэффекта в полупроводниках в значительной степени осложняется тем, что природа конденсаторной фотоэдс к настоящему времени не выяснена. [c.309]

Имеется много методов определения КРП, однако наиболее приемлемым является конденсаторный метод Кельвина. После его усо вершенство ваиия Зисманом оя широко применялся в исследованиях физико-химических процессов, протекающих на поверхности металлов. [c.77]

Методами конденсаторов Бергмана и Кельвина на низкоомных и высокоомных неорганических, а также на органических полупроводниках исследовано влияние приповерхностного заряда на величину и знак фотоответа. Выяснена природа изменения знака фотоответа в его спектральном распределении. Доказана возможность определения знака носителей фототека конденсаторными методами в глубине полосы поглощения полупроводника. Указана возможность применения методов для изучения поверхностных состояний на краю собственного поглощения. [c.309]

Метод прямой Ричардсона не даёт надёжных значений ра боты выхода плёночных Катодов с посторонним покрытием. Более надёжно непосредственное определение средней работы выхода из уравнения Ричардсона с Лв1= 120,4, особенно, когда необходимо определение лйшь иеменений среднего значения (например, зависимость его от температуры), так как в этом случае. не требуется подстановки сравнительно Плохо известного значения поверхности. Так как калориметрический метод экспериментально весьма сложен, то для измерения определяющего эмис- сию среднего значения работы выхода остаются лишь измерение контактной разности потенциалов методом тока насыщения и метод фотоэлектрической прямой. Для определения же средне--, арифметического значения работы выхода пригоден метод смё-щения характеристик и конденсаторный метод измерения контактной разности потенциалов в вариантах Кельвина и Зисмана [148] или в дальнейших его усовершенствованиях ( 12, 2). [c.111]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология