УАС-лазер с двойной фокусировкой

Когерентный луч света, создаваемый лазером, можно сфокусировать на очень малой площади, что приводит к образованию большой плотности радиации и высокой температуре нагрева данного участка поверхности образца. Поэтому использованию лазера для испарения и ионизации материала в масс-спектрометрическом анализе уделяется большое внимание. Схематическое изображение системы, объединяющей источник ионов с лазером и анализатор с двойной фокусировкой, приведено на рис. 13.5 (Хениг, 1964). Луч лазера проходит через окно 1 и [c.408]

Изотопный анализ наружного и внутреннего слоев речных раковин проводили на масс-спектрометре с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов — ЭМАЛ-2 [И]. Отбор проб проводился построчным скавдированием лазерного луча с площади 5X10 мм . Масс-спектры регистрировались на фотопластинки. Экспозицию изменяли от 1-10- до 3 нКл, что позволяло определять содержанке изотопов в образцах от 100 до 10 ат.%. Рабочие параметры масс-спектрометра, режимы работы лазера ЛТИПЧ-5 и фо рмула для определения содержаний исследуемых изотопов приведены в [8], Погрешность [c.40]

В первых главах рассматриваются физика вакуумного разряда, а также основные принципы масс-спектрометрии с двойной фокусировкой и измерение ионных токов при помощи электрической или фотографической систем регистрации. Далее следуют главы, в которых обсуждаются проблемы количественной расшифровки масс-спектров и определение на основании полученных данных действительного состава образца. Подробно изложены специальные приемы анализа изоляторов, порошков, микрообразцов, биологических образцов, агрессивных, радиоактивных и легкоплавких веществ, а также определение газов в твердых телах. Последние главы посвящены использованию лазера в масс-спектрометрии для анализа твердых тел и исследованию поверхности главным образом методом вторичной ионной эмиссии. [c.8]