Анализ микрообразцов

R таблице приведены ориентировочные данные о наименьших весовых количествах элементов, которые могут быть обнаружены с помощью эмиссионного спектрального анализа а электрических источниках света (дуге, искре, разрядной трубк з). Приведенные значения получены для разных элементов различными техническими приемами, обеспечивающими достижение максимальной чуйствительности. Данные для металлов относятся, как правило, к анализу микрообразцов, содержащих только определяемые элементы, дан ные для газов — к анализу газовых смесей. [c.720]

Таблица 5. Чувствительность и точность метода анализа микрообразцов масла СУ

Для определения физико-химических констант, для анализов микрообразцов и в некоторых других случаях приходится применять микроаналитические весы, дающие точность 0,00001 г, и микробюретки с точностью 0,001—0,002 мл. Для обычных анализов с успехом применяются фотоколориметры того или другого типа, но при анализах повышенной точности часто требуется применение спектрофотометров. [c.50]

Ввиду дороговизны платины вес ванны обычно не превышает 4—5 г, что приводит к необходимости анализа микрообразцов. Прибор ГЕОХИ полностью отвечает всем требованиям, необходимым для такого анализа. Этот прибор характеризуется следующими данными [c.110]

В эмиссионном методе лазеры применяются для анализа микрообразцов, определения состава включений в минералах, анализа тонких металлических и неметаллических покрытий, локального анализа неметаллических проб и др. С помощью лазера можно проникнуть в герметически, закрытый сосуд и произвести анализ объекта, заключенного в нем. [c.101]

Применение графитовой печи для атомизации наиболее целесообразно в тех случаях, когда можно несколько пренебречь воспроизводимостью, но достичь низких пределов обнаружения. Особенно важен этот метод при анализе микрообразцов как растворов, так и твердых проб. [c.243]

Благодаря высокой чувствительности искровая масс-спектро-метрия нашла применение для элементного анализа микрообразцов, локального определения микропримесей (см. гл. 9) и послойного анализа тонких полупроводниковых и металлических пленок (гл. 13) с высоким разрещением по глубине ( 1 мкм). [c.5]

Для элементного анализа твердых образцов практически используется три способа получения ионов процесс распыления при исследовании физики поверхностных явлений (анализ микрообразцов и поверхностных пленок) и два типа электрических разрядов в вакууме при определении следов элементов, если их концентрация ниже 1 млрд Ч Благодаря превосходной ранней работе Демпстера (1935) высокочастотная искра получила широкое распространение, хотя она представляет собой процесс наименее понятный и наиболее трудный для контроля. [c.22]

Наконец, следует упомянуть метод (Частагнер, 1969), в котором используется уширение линии на пластине Q2 для анализа микрообразцов методом единичных экспозиций. Ширина линий, экстраполированная к уровню фона и эмульсии, а также пропускание, ограниченное вершинами, крыльями пиков и уровнем эмульсионного фона, являются линейной функцией lgQ+ в пределах 50. Поэтому можно использовать единичные экспозиции микрограммовых образцов для анализа примесей в динамическом диапазоне 10 —1 с относительным стандартным отклонением 16%. Опираясь на эти результаты, Частагнер предположил также, что для обычных анализов необходима система учета фона на уровне почернения эмульсий, а не на уровне вторичного почернения. Это предположение требует дальнейшего исследования. [c.135]

Частагнер (1969) разработал для анализа микрообразцов методику единичной экспозиции. Изучение свойств эмульсии илфорд Q2 (вуаль, соляризация, влияние на соседние области) выявило те же эффекты, которые происходят в обычной эмульсии [c.321]

Хотя число публикаций в области анализа микрообразцов на. масс-спектрометре с искровым ионным источником сравнительно невелико, приведенные примеры позволяют судить о возможностях этого. метода. [c.154]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология