Количественный анализ тонкослойных хроматограмм по размерам пятен

Количественный анализ тонкослойных хроматограмм можно осуществлять, исходя из размера пятен, так как площадь пятна зависит от количества элемента, нанесенного на слой носителя. Площадь пятна зависит также от активности сорбента-носителя, толщины его слоя и объема наносимого раствора. Для сравнения на ту же пластинку наносят контрольные количества этого вещества с известной концентрацией. Площадь пятна определяют так же, как в хроматографии на бумаге (стр. 182). [c.187]

VII. 6.3.1. Количественный анализ тонкослойных хроматограмм по размерам пятна при наличии эталонов анализируемых веществ [c.275]

Из динамической теории ТСХ вытекают два достаточно точных метода количественного анализа тонкослойных хроматограмм без извлечения веш,ества из пластинки по размерам хроматографических пятен и с помош.ью денситометрии (флюориметрии) точечным световым зондом. Для количественного анализа тонкослойных хроматограмм по размерам хроматографического пятна [23] необходимо иметь четкие границы исследуемых пятен, что достигается путем двойной последовательной контактной фотографии в проходящем свете на рефлексной фотобумаге с сверхкон-трастной характеристической кривой. Интегрируя уравнение (8 ) в пределах + оо, получаем количество вещества, содержащегося в хроматографическом пятне [c.143]

Количественный анализ в ТСХ возник на ранних этапах развития метода. Первые попытки количественной оценки хроматограмм, основанные на измерении размеров пятен, были сделаны Фишером в 1948 г. [18]. В 1962 г. предложен [19] метод количественного анализа, основанный на использовании эмпирического соотношения между площадью пятна и количеством содержащегося в нем вещества. При последующем развитии количественной ТСХ с пластинки снимался слой адсорбента в области хроматографических пятен и из него вымывалось исследуемое вещество, которое затем анализировалось каким-либо физическим или физико-химическим методом. Начиная с 1967 г., намечается переход от методов извле-"чения вещества из тонкослойной пластинки (так называемых элюционных методов) к количественному анализу in situ, т. е. анализу непосредственно на слое путем сканирования пятен ж отыскания распределения вещества путем измерения свето-поглощения, флуоресценции, радиоактивности или каких-либо других свойств (например, электропроводности [20]). [c.267]