Использование рассеянного излучения в рентгеноспектральном анализе

Использование рассеянного излучения в рентгеноспектральном анализе [c.323]

После выхода в свет этой книги появился ряд работ, где изложена совершенно новая методика рентгеноспектрального анализа с использованием рассеянного излучения. [c.323]

МИКРОРЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬ-НЫЙ АНАЛИЗ, л о к а л ь н ы й рентгеноспектральный анализ — анализ состава микрообъема твердого материала по первичным рентгеновским спектрам содержащихся в нем хим. элементов разновидность рентгеноспектралъно-го анализа. Впервые проведен в начале 50-х гг. 20 в. во Франции и в СССР. М. а, основан на возбуждении острофокусированным до диаметра 0,1—3 мкм пучком электронов (электронным зондом) характеристического рентгеновского излучения в микрообъеме исследуемого материала. Миним. анализируемый объем зависит от размера зоны возбуждения рентгеновского излучения, определяемого диаметром пучка электронов и степенью их рассеяния в материале, и составляет 1- -10 мк.и . Различают качественный (см. Качественный анализ) и количественный (см. Количественный анализ) М. а. хим. элементов от лития до урапа. При качественном М. а. возбужденное в материале рентгеновское излучение разлагают в спектр, и линии спектра идентифицируют. При количественном М. а. измеряют интенсивность характеристических линий определяемых хим. элементов относительно интенсивности соответствующих линий от эталонов с последующим пересчетом относительной интенсивности на концентрацию. При расчете концентрации вводят поправки на различие условий возбуждения и выхода рентгеновских лучей из исследуемого матерпала и эталона. Методика расчета концентрации при использовании в качестве. эталона чистых хим. элементов обеспечивает точ- [c.817]

При использовании для возбуждения характеристического излучения сфокусированного электронного пучка рентгеноспектральный анализ применяют как метод исследования локального элементного состава (рентгенолокальный анализ) образца. Локальность этого анализа в больщинстве методик (при исследовании толстых образцов) определяется не степенью сжатия первичного пучка (которая может быть менее 1 нм), а процессами рассеяния и поглощения электронов в исследуемом материале и составляет порядка 1 мкм. Повысить локальность метода можно при исследовании тонких образцов с использованием высокоэнергетических электронов, большая часть которых в этом случае не рассеивается в образце, а проходит сквозь него. Этот метод позволяет обеспечить локальность определения элементного состава, близкую к диаметру электронного пучка. [c.263]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология