Атомно-эмиссионные спектры интенсивность линии

Пламенная фотометрия — один из методов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Этот метод состоит в том, что анализируемый образец переводят в раствор, который затем с помощью распылителя превращается в аэрозоль и подается в пламя горелки. Растворитель испаряется, а элементы, возбуждаясь, излучают спектр. Анализируемая спектральная линия выделяется с помощью прибора — монохроматора или светофильтра, а интенсивность ее свечения измеряется фотоэлементом. Пламя выгодно отличается от электрических источников света тем, что поступающие из баллона газ-топливо и газ-окислитель дают очень стабильное, равномерно горящее пламя. Из-за невысокой температуры в пламени возбуждаются элементы с низкими потенциалами возбуждения в первую очередь щелочные элементы, для определения которых практически нет экспрессных химических методов, а также щелочно-земельные и другие элементы. Всего этим методом определяют более 70 элементов. Использование индукционного высокочастотного разряда и дуговой плазменной горелки плазмотрона позволяет определять элементы с высоким потенциалом ионизации, а также элементы, образующие термостойкие оксиды, для возбуждения которых пламя малопригодно. [c.647]

Изучение переходов разл. серий во всех атомах, образующих исследуемое соед., позволяет детально определить структуру валентных уровней (или зон). Особенно ценную информацию получают при рассмотрении угловой зависимости интенсивности линий в эмиссионных спектрах монокристаллов, т.к. использование при этом поляризованного рентгеновского излучения существенно облегчает интерпретацию спектров. Интенсивности линий рентгеновского эмиссионного спектра пропорциональны заселенностям уровней, с к-рых совершается переход, и, следовательно, квадратам коэф. линейной комбинации атомных орбиталей (см. Молекулярных орбиталей методы). На этом основаны способы определения этих коэффициентов. [c.240]

По относительной интенсивности атомных линий в эмиссионных спектрах. [c.229]

Пламенная фотометрия — раздел атомно-эмиссионного спектрального анализа. Основой метода является возбуждение в пламени спектра определяемого элемента и непосредственное измерение интенсивности свечения аналитической линии. [c.693]

Атомы, возбужденные при поглощении излучения, вновь испускают эмиссионные линии не только той же длины волны, что и поглощенное излучение, но и других длин волн. Такая излучательная дезактивация носит название атомной флуоресценции. Когда наблюдают ту же длину волны, процесс называют резонансной флуоресценцией. Процесс флуоресценции фактически представляет собой комбинацию процессов поглощения и испускания. Флуоресцентные спектры обычно очень просты и накладываются на более сложные эмиссионные спектры, при этом флуоресцентные линии более интенсивны, чем эквивалентные эмиссионные линии. [c.41]

В достаточно хорошем для многих случаев приближении ИКС смеси можно представить как аддитивное наложение спектров отдельных компонент. Поэтому, если спектры составляющих компонент известны, то в принципе ход анализа несложен наличие спектральных линий данного компонента в спектре доказывает, что это соединение находится в смеси, а интенсивности линий позволяют определить его концентрацию. В этом смысле молекулярный спектральный анализ совершенно аналогичен эмиссионному атомному анализу. Отличие же заключается прежде всего в том, что полосы поглощения в ИКС, как правило, имеют довольно значительную ширину, и поэтому полосы поглощения разных компонент могут наложиться друг [c.169]

Атомные линейчатые спектры, получаемые в дуговом разряде, значительно отличаются от спектров пламенно-эмиссионной спектрометрии, в первую очередь, из-за различия в температуре этих двух источников. В пламени атомы обычно возбуждаются только до нижних возбужденных электронных уровней, поэтому эмиссионные спектры довольно просты. В отличие от этого термическая и электрическая энергия дуги постоянного тока достаточна, чтобы вызвать возбуждение до достаточно высоких энергетических уровней тем самым становится возможным значительно большее число переходов и в дуге получается более сложный эмиссионный спектр, особенно для тяжелых элементов. Так, эмиссионный спектр железа состоит более чем из 4000 линий, а для урана число эмиссионных линий настолько велико, что спектр кажется почти непрерывным, поэтому он маскирует большинство, если не все, наиболее интенсивные линии других присутствующих элементов. [c.709]

В результате экспериментальных исследований установлено, что наиболее чувствительные в поглощении линии часто не совпадают с наиболее интенсивными атомными линиями элементов в эмиссионном спектральном анализе, в том числе и в пламенной фотометрии. Объясняется это тем, что интенсивность излучения резонансных линий зависит не только от Л/ ,- и f, по к от участка спектра. Изменение интенсивности при температурах пламени или дугового разряда практически обусловлено экспоненциальным множителем, определяющим участок спектра, поэтому интенсивность излучения быстро падает в короткую область [c.514]

Каждая спектральная линия в спектре атомов характеризуется длиной волны X, измеренной в единицах А(1А=10 см = 10 ).1), и интенсивностью, точнее вероятностью, излучения. Как длины волн спектральных линий, так и вероятности излучения определяются свойствами атомной системы. Не входя в тонкости, остановимся на основных свойствах излучения атома, главным образом на тех, которые необходимы для уяснения деталей эмиссионного спектрального анализа. [c.21]

Определение Pt, Sn, Fe, d, Pb и u основано на их предварительном электролитическом концентрировании одновременно со ртутью при постоянном потенциале в инертной атмосфере на торце графитового электрода с образованием соответствующих амальгам. Этот электрод непосредственно используют для атомно-эмиссионного анализа с измерением интенсивности аналитических линий элементов в спектрах, полученных по методу тонкого слоя вещества. Электролитическое концентрирование позволяет снизить пределы обнаружения элементов атомно-эмиссионным методом в природных и сточных водах до уровня ПДК. [c.76]

В отличие от ЭЗД, атомно-эмиссионный детектор позволяет аналитику различать галогенорганические соединения, например, фтор-, хлор- и броморганические ЛОС, или осуществлять многоэлементные анализы, просто задавая предварительно, какие атомы будут детектироваться. В АЭД выходящие из колонки вещества атомизируются в высокоэнергетическом источнике образовавшиеся возбужденные атомы излучают свет при возвращении в основное состояние. Излучаемый свет с различными длинами волн диспергируется в спектрометре и измеряется посредством диодной матрицы. Каждый химический элемент имеет свой собственный типичный эмиссионный спектр, в котором эмиссионные линии обычно образуют кластеры с постоянным соотношением интенсивностей внутри кластера [162]. [c.462]

В атомно-эмиссионных детекторах выходящие из хроматографической колонки вещества атомизируются в высокоэнергетическом источнике, например, в микроволновой гелиевой плазме (см. гл. П1). Образовавшиеся возбужденные атомы излучают свет при возвращении в основное состояние. Излучаемый свет с различными длинами волн диспергируется в спектрометре и измеряется посредством фотодиодной матрицы (см. гл. 1П). Каждый химический элемент имеет свой собственный типичный эмиссионный спектр, в котором эмиссионные линии обычно образуют кластеры с постоянным соотношением интенсивностей внутри кластера. [c.41]

Атомный эмиссионный спектральный анализ — метод, основанный на изучении спектра паров исследуемого вещества. Наличие в спектре характерных линий, присущих атомам данного элемента, свидетельствует о присутствии этого элемента в анализируемом объекте (качественный анализ). Интенсивность [c.214]

Все возрастающие требования к точности и скорости анализа обусловили внедрение в практику атомно-эмиссионного спектрального анализа фотоэлектрических способов регистрации и фотометрии спектров. Сущность этих методов заключается в том, что световой поток нужной аналитической линии отделяют от остального спектра пробы с помощью монохроматора и преобразуют в электрический сигнал. Мерой интенсивности линии служит значение этого сигнала (сила тока или напряжение). [c.228]

В основе количественного анализа лежит зависимость интенсивности линии КР от концентрации вещества в пробе. Количественный молекулярный анализ по КР спектрам во многом аналогичен анализу по эмиссионным атомным спектрам. В большинстве случаев интенсивность линий. вещества в спектре пропорциональна его объемной концентрации в смеси. Если известна интенсивность линии чистого 100%-ного вещества, то концентрацию его в смеси легко найти по формуле [c.360]

Выбор характеристик монохроматоров, применяемых в атомно-абсорбционных спектрофотометрах, тесно связан со спецификой метода и принципами измерения полезного сигнала. В эмиссионном спектральном анализе уровень помех существенно зависит от величины отнощения интенсивностей линии к интенсивности фона, т. е. от яркости излучения источника, имеющего сплощной спектр (или, иначе, от отношения линия/фон). Как известно (см., например [32]), в этом случае целесообразно применять спектральные приборы с большой разрешающей силой и максимально ограничивать ширину щелей, тем самым повышая значение отношения линия/фон. [c.122]

Характеристичность линейчатых спектров лежит в основе качественного эмиссионного спектрального анализа, а функциональная зависимость между концентрацией элемента в пробе и интенсивностью его спектральных линий положена в основу количественного анализа. Для их осуществления вещество пробы переводят в состояние плазмы, в котором элементы частично находятся в виде атомного пара , и ее излучение разлагается з спектральном приборе в спектр. Затем спектральные линни идентифицируют (качественный анализ) и измеряют их интенсивность (количественный анализ). [c.8]

Как отмечалось ранее, авторы ряда работ, например [1—3, 7], придерживались мнения, что использование для анализа спектров абсорбции дает существенные преимущества, имеющие принципиальное значение. В этих работах справедливо отмечалось, что случайные колебания температуры источника возбуждения спектра в значительно большей степени сказываются на постоянстве интенсивности эмиссионных линий, нежели на величине атомного поглощения, как это видно из формулы (1.29), так как температура входит в экспоненциальный член формулы. [c.43]

Спектральные методы анализа основаны на изучении оптических спектров испускания или поглощения. Различают атомно-абсорбционный метод спектрального анализа (анализ по спектрам поглощения) и эмиссионный спектральный анализ (анализ по спектрам испускания). Спектральный анализ щироко применяют для качественного и количественного анализа различных веществ. По характеристическим линиям спектра можно определять элементный состав вещества, а интенсивность спектральной линии является мерой концентрации вещества в пробе. [c.179]

Каждый узел прибора важен для аналитических характеристик атомно-эмиссионного метода определения элементов, но система возбуждения определяет как тип спектра, так и интенсивность спектральных линий. Известны разнообразные пламенные фотометры и спектрофотометры, выпускаемые у нас и за рубежом. Из отечественных можно назвать мпогофильтровые пламенные фотометры ПМФ, имеющие в своем комплекте И интерференцион- [c.126]

Наиболее интенсивными являются линии, которые соответствуют ионам с небольшим числом атомов (5—10). Вероятность образования того или другого осколочного иона главным образом определяется числом атомов, а не его массой (это видно, например, из сопоставления масс-спектров полиэтилена и политетрафторэтилена). По общему виду вторично-эмиссионные масс-спектры напоминают масс-спектры электронного удара веществ аналогичного состава. Так, вторично-эмиссионный масс-спектр полиэтилена похож на масс-спектр смеси алифатических углеводородов. Вторично-эмиссионные масс-спектры полимеров мало меняются при изменении энергии бомбардирующих частиц в достаточно широких пределах, массы и типа бомбардирующих частиц (атомные или молекулярные частицы). При одних и тех же условиях эксперимента получаются достаточно воспроизводимые масс-спектры. [c.196]

Третью группу составляют широко распространенный эмиссионный спектральный анализ и атомно-абсорбционный анализ. При эмиссионном спектральном анализе анализируемое вещество вводят в высокотемпературное пламя или плазму, при этом вещество испаряется и разлагается до атомарного состояния. Атомы элементов возбуждаются и излучают энергию. Спектр излучения вещества в атомарном состоянии представляет собой набор линий (линейчатый спектр) и является специфическим для каждого элемента. Регистрируя интенсивность излучения по отдельным линиям, можно определить относительное содержание элементов. (В современном эмиссионном спектральном анализе иногда используются также спектры излучения стойких в условиях высоких температур химических соединений. Эту разновидность эмиссионного анализа в предлагаемой классификации скорее следует отнести к четвертой группе методов.) Благодаря большому совершенству спектральной аппаратуры, достигнутому за более чем столетнее существование эмиссионного спектрального анализа, этот метод получил в аналитической практике исключительно широкое распространение. Атомноабсорбционный метод спектрального анализа отличается от эмиссионного тем, что в этом случае регистрируется поглощение излучения плазмой или пламенем. Оба метода, входящие в третью группу, так же как и многие из ранее перечисленных, не позволяют определять степень окисления элементов. Кроме того, они в аппаратурном отношении сложны. [c.7]

Если в спектре источника возбуждения имеется линия определенного элемента, то после прохождения пламени она поглощается атомным паром этого элемента, тогда как другие линии спектра в обоих световых пучках остаются без изменения. В результате баланс световых пучков нарущается и прибор регистрирует лишь интенсивность спектральной линии определяемого элемента. Прибор описанной конструкции испытывался авторами для выделения линий натрия и рекомендован ими для применения в эмиссионном пламенно-фотомет-рическом анализе в тех случаях, когда имеют место спектральные помехи со стороны других элементов или фона. [c.103]

Начинать практикум лучше всего с работы на приборах для визуального спектрального анализа, которые дают возможность получить наиболее наглядное представление о характере атомно-эмиссионных спектров. Одновременно ставится задача освоить процедуру,,градуировки отсчетной шкалы стилоскопа по длинам волн и нахождения с ее помощью нужных спектральных линий, а также изучить технику выполнения полуколиче-ственного анализа по характерным, легко запоминающимся группам линий в спектрах тех или иных элементов. Закреплению навыков визуальной оценки относительной интенсивности спектральных линий служит работа 3, где предлагается выполнить стилоскопический анализ повышенной трудности. [c.93]

Для сравнения в таблице указаны предельные чувствительности обнаружения этих же элементов по атомным эмиссионным спектрам методом пламенной фотометрии по данным Гильберта (см. [5]) и Фассела с сотрудниками [27, 28]. В качестве предельно измеряемого сигнала принималась интенсивность аналитической линии, на 1 %) превышающая интенсивность фона. Поскольку отношение интенсивности линии к интенсивности участка сплошного спектра, выделяемого монохроматором, зависит от спектральной ширины щелей монохроматора, применялись максимально узкие щели, при которых дробовые шумы фотометра не превосходили флуктуаций фона пламени. Результаты, приводимые Гильбертом, получены на спектрофотометре фирмы Бекман с диффузионными пламенами. [c.235]

При атомно-эмиссионном спектральном анализе вещество переводят в паровое состояние. Испускаемые юзбужденными атомами или ионами световые волны разлагаются в спектр. По характерным линиям в спектре атомов можно идентифицировать элементы, содержащиеся в анализируемом образце качественный спектральный анализ), а по интенсивности спектральных линий можно определить их количественный состав количественный спектральный анализ). [c.307]

Разработаны два варианта атомно-эмиссионного спектрального анализа спектрографический и спектрометрический, отличающиеся способом регистрации аналитического сигнала. Первый способ основан на фотографировании спектров на фотопластинку или фотопленку, второй — на измерении интенсивности спектральных линий с помоп ью с эотоэлементов и фотоумножителей. [c.96]

Среди всех физических методов качественного анализа центральное место по эффективности и приложимости для качественного анализа неорганических веществ занимает атомный эмиссионный анализ. Как было указано в гл. VII, положение линий в эмиссионном спектре является интенсивным свойством, с помощью которого можно идентифицировать элементы. Для этой цели используют так называемые аналитические тоследние ) линии элементов. Под аналитическими линиями элемента понимают наиболее интенсивные линии в его эмиссионном спектре, которые последними исчезают из спектра при уменьшении концентрации. [c.189]

Для изучения механизма реакции были получены спектры излучения разряда [10, И]. В области 2400—6500 А обнаружено большое количество интенсивных полос, принадлежащих частицам ВС1, ВН, ВН+, линии атомного бора. В эмиссионных спектрах в инфракрасной области не обнаружены ожидаемые интенсивные полосы, отвечающие частице НВС12[12], выявлены лишь слабые полосы, близкие к полосам, соответствующим связи В—Н (2220—2230 см - ) [13]. [c.239]

Пламенные фотометры и спектрофотометры (табл. 8) служат для определения концентраций элементов в растворах. Эмиссионный метод заключается в фотометри-ровании пламени, в которое вводится в распыленном виде анализируемый раствор. Атомно-абсорбционный метод основан на изменении интенсивности резопаисной линии спектра за счет поглощения ее энергии атомами определяемого элемента, образующимися в пламени горелки при введении в него распыленного анализируемого раствора. [c.224]

Кроме эмиссионной спектроскопии, в последние годы начала распространяться атомно-абсорбционная. Этот метод основан на резонансном поглощении парами пробы, диссоциированными на атомы, света, излучаемого специальной лампой. Такие лампы, испускающие тонколинейчатый спектр каждого из платиновых металлов, изготовляются за границей и осваиваются в Советском Союзе [398, 399]. Излучение лампы проходит через пары анализируемой пробы. При этом, чем больше в пробе атомов исходного элемента, тем более интенсивно поглощение света от источника и, следовательно, тем больше ослабляются характерные спектральные линии. Интенсивность спектральных линий измеряется при помощи фотоэлемента. Этот метод обеспечивает ббльшую точность определения, чем предыдущий (1—2%). Он может быть применен для анализа тех же продуктов, а также для анализа растворов [407, 408]. [c.205]

В настоящее время многие лаборатории располагают стандартной аппаратурой для качественного и количественного анализа большинства элементов, за исключением самых легких, с помощью рентгеновских спектров испускания. Интенсивные атомные линии получают либо при электронном возбуждении, либо за счет вторичного возбуждения (флуоресценция, возбуладаемая первичным рентгеновским излучением). Как правило, разрешающая способность подобной аппаратуры недостаточно высока для того, чтобы обнаружить небольшие смещения эмиссионных линий, связанные с изменением химического состояния элемента. [c.129]

Предварительная оценка чувствительности метода была осуществлена следующим образом. В абсорбционную кювету вводили сетку из тонкой вольфрамовой проволоки, содержание ряда примесей в которой было определено эмиссионным лнализом. Далее ее испаряли с помощью импульсной лампы и фотографировали абсорбционный спектр в области 2161 — 3817 А. Рассмотрение полученной спектрограммы показало, что абсорбционный спектр содержит сильные линии алюминия (А1 3082,16 А, содержание в вольфраме—1.10 %) меди (Си 3247,54 А 5.10 -%) магния (М. 2852,13 А 1.10 2%) и цинка (2п 2138,56 А З.Ю %), а также линии кальция средней интенсивности (Са 2398,56 А 3.10 %) и железа (Ре 2483,27 А 5.10 " %) линии марганца (Мп 2794,82 А 1.10 %) обнаружено не было. На основе полученных результатов авторы пришли к выводу, что чувствительность атомно-абсорбционного обнаружения предлагаемого ими способа составляет 1—5.10 %, а для ряда элементов может быть повышена до 1.10 %. [c.231]

Помимо линий атомов в спектре испускания пламен наблюдаются интенсивные полосы молекул. Большой яркости достигают полосы радикалов, в особенности гидроксила ОН в коротковолновых областях спектра, радикалов СН и Сг в более длинноволновых областях, радикалов СЫ и ЫН в пламени динитроксид — ацетилен и ряда других. Они часто создают значительные помехи при эмиссионном анализе и могут быть причиной заметного неселективного поглощения, так как, согласно закону Кирхгофа (1.18), на этих же частотах поглощает плазма. С этим явлением приходится считаться при атомно-абсорбционном ана-, лизе. Так, при определении элементов, аналитические линии которых лежат в области короче 210 нм (например, селена, теллура), рекомендуется использовать диффузное аргоно-водородное пламя, которое мало поглощает в этой области спектра, хотя по всем другим параметрам заметно уступает обычно употребляемым в аналитической практике пламенам. [c.84]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология