Майкельсона эшелон

Рис. 6.3. Эшелон Майкельсона а — прозрачный б — отражательный.

Эшелон Майкельсона. Эшелон Майкельсона, или ступенчатая дифракционная решетка, был изобретен в 1898 г. и дал возможность изучать важные для того времени детали спектра. [c.161]

Эшелон Майкельсона применяется в настоящее время сравнительно редко. Это связано с техническими трудностями его изготовления и использования. Кроме того, он имеет ряд принципиальных недостатков — малая [c.163]

В настоящее время известно три основных типа приборов высокой разрешающей силы. Все они названы по имени их изобретателей пластинка Люммера и Герке, которую иногда называют пластинкой Люммера, эшелон Майкельсона и эталон, или интерферометр, Фабри — Перо. [c.158]

Рис. 2. Ход лучей в эшелоне Майкельсона

Рис. 6.4. Аппаратные функции эшелона Майкельсона.

НОВЫХ, более удобных диспергирующих элементов продолжались. В 1894 г. Фабри и Перо предложили новое, исключительно простое устройство колоссальной разрешающей силы. Оно состояло из двух прозрачных пластин, установленных параллельно (рис. 3). Их обращенные друг к другу рабочие поверхности были покрыты полупрозрачным слоем серебра. Этот прибор получил название эталона Фабри и Перо. Он широко распространился по всему свету и до сих пор является основным средством при изучении сверхтонкой структуры спектральных линий. Неудобство его (так же, как и эшелона Майкельсона) заключается в том, что для работы с ним необходимо предварительное выделение достаточно узкого спектрального участка более грубым спектральным прибором вторым недостатком является ограничение его рабочего диапазона, определяемое поглощением света в пластинах и зеркальных покрытиях. [c.7]

Аппаратная функция дифракционной решетки. Первая дифракционная решетка, изобретенная Фраунгофером, представляла собою стеклянную пластину с непрозрачными штрихами, нанесенными алмазным резцом, и работала в проходящем свете. Г. Роуланд усовершенствовал технологию изготовления решеток и дал теорию отражательной вогнутой решетки. Роберт Вуд, объединив принципы работы эшелона Майкельсона и отражательной плоской решетки, создал ступенчатые отражательные решетки — эшелеты, позволяющие концентрировать максимум дифрагированного света в заданном направлении. Эти решетки благодаря усовершенствованию технологии их изготовления и применению интерференционных методов для контроля перемещений резца при нарезке ступеньки дают возможность работать в небывалых до сих пор порядках спектра, выражаемых двух- и трехзначными числами. Введем необходимые обозначения (рис. 9.1) а — угол падения — угол между нормалью к плоскости решетки и падающим лучом (под плоскостью решетки понимается плоскость, проходящая через ребра ступеней решетки) [c.72]

Кроме призменных и дифракционных приборов, существует обширный класс приборов, действие которых основано на интерференции света. К ним относятся интерферометр Фабри—Перо, пластинка Люммера, эшелон Майкельсона, а также недавно созданные спектрометр с интерференционной амплитудной селективной модуляцией ( сисам ) и фурье-спектрометр. [c.8]

Рис. 6.5. Схема расположения предварительного монохроматора и эшелона Майкельсона.

Помимо прозрачного может быть использован также и отражательный эшелон Майкельсона (см. рис. 6.3, б). Его теория была разработана еще самим Майкельсоном, однако из-за ряда технических трудностей осуществить эту идею долгое время пе удавалось. Впервые отражательный эшелон был построен Вильямсом в 1933 г. [c.164]

Отражательный эшелон Майкельсона — Вильямса является единственным прибором высокой разрешающей силы, который может быть использован для исследований в вакуумной ультрафиолетовой части спектра. Несмотря на перечисленные достоинства, число исследований, которое было выполнено с помощью эшелона Майкельсона — Вильямса, все же остается небольшим. Это, вероятно, объясняется техническими трудностями изготовления хороших отражательных эшелонов. [c.164]

Из этих трех типов приборов пластинка Люммера и эшелон Майкельсона сейчас применяются редко. Их вытеснил интерферометр Фабри — Перо, который не только более дешев и удобен в работе, но и обладает большей светосилой, чем два остальные. Поэтому мы уделим основное внимание эталону Фабри — Перо. Более полные сведения о всех приборах высокого разрешения можно найти в [21, 22]. [c.155]

Рис. е.З. Эшелон Майкельсона а)прозрачный, б) отражательный, пластинок имеют вид [c.159]

Из-за малой величины постоянной АХ эшелон обычно скрещивается с монохроматором или спектрографом. При этом эшелон либо располагается мегкду коллиматорным объективом и диспергирующей системой спектрографа (внутренняя установка), либо помещается в параллельном пучке света, образованном специальным коллиматором, входная щель которого является выходной щелью монохроматора (внешняя установка). Одна из возможных схем установки с эшелоном Майкельсона показана на рис. 6.5. [c.160]

Эшелон Майкельсона применяется в настоящее время сравнительно редко. Это связано с техническими трудностями его изготовления и использования. Кроме того, он имеет ряд принципиальных недостатков — малая область дисперсии и существенное искажение яркостей даже близких по длине волны линий из-за чрезвычайно сильной зависимости функции Ii (и) от угла. [c.160]

Отражательный эшелон Майкельсона при тех же размерах, что и прозрачный, имеет значительно большую разрешающую способность и дисперсию. [c.161]

Еще в середине XVII в. Р. Бойль и Гук описали интерференционные явления в тонких пленках однако создание спектральных приборов на основе интерференции относится к самому концу XIX в. и связано с именами Майкельсона, Фабри и Перо. Развитие интерференционных систем главным образом определялось развитием техники нанесения отражающих полупрозрачных слоев на стеклянные пластины с точными поверхностями. Имя Майкельсона связано с созданием ступенчатого эшелона (в настоящее время не применяемого из-за больших трудностей изготовления) и двухлучевого интерферометра, широко используемого для разных целей. Фабри и Перо создали многолучевой интерферометр и эталон, получившие их имя и широко используемые в настоящее время. [c.48]

Зависимость разрешающей силы от характеристик диспергирующих элементов прибора в конце прошлого века была уже достаточно хорошо изучена. Было ясно, что для увеличения разрешающей силы необходимо увеличивать максимальную разность хода интерферирующих лучей. Майкельсон предложил новый диспергирующий элемент — эшелон, состоящий из набора стеклянных пластин одинаковой толщины (рис. 2). Разрешающую силу удалось резко повысить, но условия эксперимента значительно усложнились. Сократился спектральный диапазон, свободный от взаимного переналожения спектральных линий. Поиски [c.7]

Американский физик Роберт Вуд, в поисках новых диспергирующих систем высокой разрешающей силы, снова вернулся к дифракционной решетке и эшелону Майкельсона. Анализируя их работу, он пришел к выводу, что эшелон является по существу дифракционной решеткой с небольшим числом очень больших ступеней. Он изготовил новый прибор — отражательную ступен- [c.7]

Отражательный эшелон Майкельсона при тех же размерах, что и прозрачный, имеет значительно большую разрешающую способность и дисперсию. Это обусловлено большей оптической разностью хода между интерферирующими пучками. Действительно, при малых углах падения и дифракции разность хода между пучками, отраженными от соседних ступеней, Аотр = = А 4- А" = 2к, в то время как для прозрачного эшелона = п — 1) к. При п = 1,5 величина Аотр = 4Ао. Соответственно разрешающая способность и дисперсия отражательного эшелона примерно в четыре раза выше, чем прозрачного. [c.164]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология